X射线荧光光谱法测定化探样品中的25种主次和微量元素量.docx
- 文档编号:16057740
- 上传时间:2023-07-10
- 格式:DOCX
- 页数:8
- 大小:22.29KB
X射线荧光光谱法测定化探样品中的25种主次和微量元素量.docx
《X射线荧光光谱法测定化探样品中的25种主次和微量元素量.docx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《X射线荧光光谱法测定化探样品中的25种主次和微量元素量.docx(8页珍藏版)》请在冰点文库上搜索。
X射线荧光光谱法测定化探样品中的25种主次和微量元素量
X射线荧光光谱法测定化探样品中的25种主次和微量元素量
1范围
本方法规定了地球化学勘查试样中SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MgO、Na2O、Ba、Co、Cr、Cu、La、Mn、Nb、Ni、P、Pb、Rb、Sr、Th、Ti、V、Y、Zn、Zr25种主、次和微量元素的测定方法。
本方法适用于水系沉积物、土壤和岩石等试样中以上各元素的测定。
本方法检出限(3s):
见表1。
表1元素检出限[ω(B)/μg·g-1]
元素
检出限
元素
检出限
元素
检出限
SiO2
110
Th
0.7
Mn
4.0
Al2O3
150
Ti
12.4
Nb
0.3
CaO
20
V
0.6
Zr
0.6
Fe2O3
50
Co
0.3
Ni
1.1
K2O
30
Cr
1.5
P
4.2
MgO
40
Cu
1.3
Pb
1.5
Na2O
70
Y
0.2
Rb
1.0
Sr
1.0
Zn
1.3
Ba
6.8
La
4.4
本方法测定范围:
见表2。
表2测定范围[ω(B)/10-2]
元素
ω(B)/10-2
元素
ω(B)/10-2
元素
ω(B)/10-2
SiO2
1~90
Mn
0.0012~0.5
Zr
0.0002~0.2
Al2O3
0.1~30
Nb
0.0001~0.02
CaO
0.1~35
Ni
0.0003~0.3
Fe2O3
0.2~30
P
0.002~0.9
K2O
0.1~10
Pb
0.0004~0.3
MgO
0.1~40
Rb
0.0003~0.1
Na2O
0.1~10
Sr
0.0003~0.1
Ba
0.005~0.5
Th
0.0002~0.02
Co
0.001~0.05
Ti
0.004~2.0
Cr
0.0003~0.05
V
0.0002~0.1
Cu
0.0003~0.3
Y
0.0001~0.05
La
0.0014~0.05
Zn
0.0005~0.3
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本方法的本部分的引用而成为本部分的条款。
下列不注日期的引用文件,其最新版本适用于本方法。
GB/T20001.4标准编写规则第4部分:
化学分析方法。
GB/T14505岩石和矿石化学分析方法总则及一般规定。
GB6379测试方法的精密度通过实验室间试验确定标准测试方法的重复性和再现性。
GB/T14496—93地球化学勘查术语。
3方法提要
采用粉末样品压片制样,用X射线荧光光谱仪直接测量样品中SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MgO、Na2O、Ba、Co、Cr、Cu、La、Mn、Nb、Ni、P、Pb、Rb、Sr、Th、Ti、V、Y、Zn、Zr等25个主、次和痕量元素。
各分析元素采用经验系数法与散射线内标法校正元素间的基体效应。
4试剂
低压聚乙烯粉
5仪器及材料
5.l压力机
压力不低于50t。
5.2波长色散X射线荧光光谱仪
端窗铑靶X射线管(功率4kW),仪器必须采用《波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》(JJG810-93)检定合格。
5.3氩甲烷(Ar/CH4)混合气体
混合比为9:
1。
6分析步骤
6.1试料
6.1.1试料粒径应小于0.074mm。
6.1.2试料应在105℃烘6—8h,冷却后放入干燥器中备用。
6.2试料片制备
称取称取试料(6.1)4.0g,放入模具内,拨平,用低压聚乙烯镶边垫底,在35t压力下,压制成试样直径为32mm,镶边外径为40mm的试料片。
压制完成的试料片在非测量面贴上标签或用记号笔编写样号,放入干燥器内保存,防止吸潮和污染。
测量时,只能拿试料片的边缘,避免测量面被玷污。
6.3标准化样片的制备
选择某些分析元素含量适中的,还应含有所有要求待测元素的国家一级标准物质,按(6.1)-(6.2)的步骤制备成标准化样片。
6.4测定
6.4.1测量条件
测量条件见表3。
表3分析元素测量条件
元素
分析线
晶体
准直器
探测器
电压
KV
电流
mA
2θ/()
T/S
PHA
Line
Back
tp
tb
LL
UL
Ba
L
LiF1
S4
PC
60
60
87.096
88.50
10
5
110
320
Co
K
LiF1
S4
SC
60
60
52.7746
53.6414
20
20
16
75
Cr
K
LiF1
S4
SC
60
60
69.320
70.40
20
10
90
350
Cu
K
LiF1
S4
SC
60
60
45.012
46.30
10
5
85
305
La
K
LiF1
S4
F-PC
60
60
82.9488
84.4736
30
30
30
70
Mn
K
LiF1
S4
SC
60
60
62.956
4
0
90
400
Nb
K
LiF1
S4
SC
60
60
21.3584
21.8486
12
12
24
78
Ni
K
LiF1
S4
SC
60
60
48.640
49.60
15
8
85
320
P
K
Ge
S4
PC
60
60
141.190
143.30
8
4
110
340
Pb
L1
LiF1
S4
SC
60
60
28.240
29.70
20
10
100
300
Rb
K
LiF1
S4
SC
60
60
26.596
29.70
8
5
100
300
Sr
K
LiF1
S4
SC
60
60
25.128
29.70
8
5
100
300
Th
L
LiF1
S4
SC
60
60
27.450
29.70
20
5
100
300
Ti
K
LiF1
S4
SC
60
60
86.110
4
100
300
V
K
LiF1
S4
SC
60
60
77.0150
78.0976
10
10
31
78
Y
K
LiF1
S4
SC
60
60
23.7610
24.4396
12
12
23
78
Zn
K
LiF1
S4
SC
60
60
41.780
42.50
10
5
80
330
Zr
K
LiF1
S4
SC
60
60
22.5050
23.1052
12
12
24
78
Si
K
PET
S2
PC
60
60
109.016
4
100
310
Al
K
PET
S2
PC
60
60
144.700
4
80
310
Fe
K
LiF1
S2
SC
60
60
57.486
4
80
400
Ca
K
LiF1
S4
PC
60
60
113.080
4
105
300
Na
K
RX25
S4
PC
60
60
47.322
49.70
8
4
80
330
Mg
K
RX25
S4
PC
60
60
38.934
41.85
6
3
100
340
K
K
LiF1
S4
PC
60
60
136.626
4
120
300
Rh
KC
LiF1
S4
SC
60
60
18.360
10
100
300
6.4.2工作曲线的绘制
6.4.2.1标准物质样片的制备
选用水系沉积物GBW07301~GBW07312、土壤GBW07401~GBW07408、硅酸盐岩石GBW07103~GBW07114、超基性岩GBW07101~GBW07102和覆盖区土壤GSS10~GSS16等国家一级标准物质,按(6.1)-(6.2)的步骤制备成标准物质样片。
按(6.4)分析步骤测定并绘制标准曲线。
6.4.2.2校准与校正校准、谱线重叠干扰系数采用数学方法回归,求出含量xi,计算公式为
式中:
xi——标准物质中分析元素I的标准值或未知样品中分析元素的含量(未作基体校正)a、b、c——校准曲线常数;Ii、Ij——校准物质(或未知样品)中元素i、j的X射线强度;Dj——干扰元素j对分析元素i的谱线重叠干扰系数。
6.4.3谱线重叠干扰及基体效应校正
元素间谱线重叠干扰是影响分析准确性的重要因素。
基体效应是X荧光分析中普遍存在的问题,是元素分析的主要误差来源。
因此,如何消除或校正基体效应,始终是X荧光分析领域中的重要研究课题。
对于干扰,XRF可用无干扰特征线作分析线或校正。
本法选择合适的分析线,尽量避开干扰,使用多个校准样品回归,做分段处理,高段线用一次线。
采用铑靶Kα线的康普顿散射线作内标校正基体效应,并用经验系数法校正Fe、Ca等基体对分析线的影响。
其校正方程式为:
Wi=Xi(1+KCi+∑AijWj+∑BijkWjWk)+∑DijWj+∑EijkWjWk+Ci
式中:
Wi为分析元素i校正后的含量;Xi为分析元素i校正前的表观含量;Aij为共存元素j对分析元素i的影响系数;Wj、Wk为共存元素j、k的含量;Bijk为共存元素j、k对分析元素i的交叉影响系数;Dij为共存元素j对分析元素i的重迭干扰系数;Eijk为共存元素j、k对分析元素i的交叉重迭干扰系数;KCi、Ci为校正常数。
本文各元素均采用强度校正。
6.4.4操作步骤
6.4.4.1输入分析元素的有关参数输入分析元素的测量条件(表3)及I级标准物质中要求待测元素的标准值。
6.4.4.2测量标准化样片设置标准化样片名,测量标准化样片(6.3)中各分析元素的X射线强度。
标准化样片(6.3)中各分析元素的参考强度必须与标准物质在一次开机中同时测量,以保证仪器漂移校正的有效性。
6.4.4.3测量国家一级标准物质输入国家一级标准物质名称,测量该样品中各分析元素的X射线强度。
6.4.4.4回归分析对I级标准物质中各元素的X射线强度与标准值的对应关系进行回归曲线计算,求出校准曲线常数a、b、c和谱线重叠校正系数Dj;求出共存元素的影响系数(Aj,Bijk、Dij、Eijk、K、C等),全部保存在计算机的定量分析软件中。
6.4.4.5测量未知样品
6.4.4.5.1在测量未知样品前,应对PHA进行调节。
PC探测器可选用Al作为调节元素,SC探测器可选Cu作为调节元素。
6.4.4.5.2启动定量分析程序,测量标准化样片(6.4.4.2),进行仪器漂移校正。
6.4.4.5.3测量与未知样品同批制备的已知含量的监控样品(或其他的级标准物质),观察这些监控样品中各元素的分析结果是否满足误差(准确度)要求。
6.4.4.5.4输入试料(6.1)样号后并进行测量。
7分析结果的计算
7.1分析结果计算和保存
根据试料(6.1)样号的X射线测量强度,由计算机软件按公式计算含量并自动打印出测定结果,并将原始数据存盘保存。
7.2分析结果报告
在主机终端,由打印机打印出X射线荧光分析结果报告,报出各元素的分析值及置信范围。
置信度选用95%。
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 射线 荧光 光谱 测定 样品 中的 25 主次 微量元素