电子元器件可靠性老化筛选规定Word格式文档下载.docx
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以上筛选设备条件如暂时不具备时,可由工艺人员根据现有设备条件实施。
4筛选检查
4.1文件编制
元器件老化筛选由工艺人员编制筛选工艺,规定老化筛选程序、使用设备、测量仪器、工艺装置及操作、检测方法和要求。
4.2检验种类
对进行老化的元器件实行全检。
4.3检验电性能的项目
4.3.1电阻器
4.3.1.1电阻器的额定功率
电阻器的额定功率系指电阻器在直流或交流电路中,当大气压力为750±
30mmHg在产品标准中规定的温度
下,长期连续负荷所允许消耗的最大功率。
所选用电阻的额定功率应是该电阻实际承受功率的1・5〜2倍。
4.3.1.2电阻器所用材料及代表符号
2。
电阻器所用材料及代表符号见表1。
表1电阻器所用材料及代表符号
材料
碳膜
金属膜
金属氧化膜
氧化膜
合成膜
线绕
有机实芯
无机实芯
沉积膜
付7
T
J
YG
Y
H
X
S
N
C
431.3电阻器色圈标志代表的意义
电阻器色圈标志代表的意义见表
表2电阻器色圈标志代表的意义
图1阻值与旋转角度的变化规律
433压敏电阻
抑制浪涌电流和雷电引起电源电压变化时,对电路起到保护作用,正常情况下电阻阻值呈开路,当
电源电压瞬间超过其压敏电阻电压时,阻值发生变化,瞬时电压越高,阻值越小,通过的电流也越大。
对于过压保护方面的应用,实际数量是直流工作电压的1・5倍,在交流状态下要考虑电压峰值,因
此还要扩大程倍。
4.3.4电容器
电容器就是由中间夹有电介质的两块金属板(或金属厚膜电板)所构成的元件。
它具有贮能、隔直
流和分离多种频率的能力,广泛应用于隔直流、耦合、旁路、滤波、调谐、能量转换等电路中。
4.3.4.1电容温度系数
温度变化一度时所引起的电容量的变化率称为电容温度系数。
4.342电容器绝缘电阻
电容器所加直流电压V与其新产生的漏导电流11之比为该电容器的绝缘电阻。
电解电容器的绝缘电阻常以其漏导电流Ir表示。
漏导电流Ir与电容器容量C及所施加的电压V有
尖。
4.3.4.3电容器的无功功率
电容器所能贮存的功率俗称无功功率。
4.3.4.4电容器的有功功率
电容器中的能量损耗即为有功功率。
漏导电流b是使电容器消耗能量而发热的电流。
4.3.4.5电容器损耗角(损耗角3)正切(tgS)
电容器有功功率与无功功率之比即为它的损耗角正切tg3。
4.3.4.6电容器的工作电压(额定电压V)
电容器在一定环境条件下,一定期间内能可靠地工作的电压称为它的工作电压或额定电压。
4.3.4.7电容器型号中字母代表的意义
电容器型号中字母代表的意义见表4。
表4电容器型号中字母代表的意义
Z
B
D
A
L
介质
高频瓷
低频瓷
云母
纸介
金属化纸
聚苯乙烯
铝电
解
铉电
涤纶
Q
F
I
BB
SJ
聚碳酸脂
漆膜
聚四氟
乙烯
玻璃
(膜)
玻璃釉
混合介质
聚丙
烯
金属化聚
碳酸脂
4.3.4.S电容器型号中数字代表的意义
电容器型号中数字代表的意义见表5。
表5电容器型号中数字代表的意义
数字
1
2
3
4
5
6
7
8
9
含义
圆片
管形
叠片
独石
穿心
支柱
无极性
高压
特殊
4.3.5电感器
我们常用的软磁铁氧体材料主要有两大类:
猛一锌(Mn—Zn)铁氧体材料和镰一锌(Ni-Zn)铁氧
体材料。
工作频率在1MHZ以下大量使用镭一锌(Mr—Zn)铁氧体,频率在1-200MHZ时,大量使用镰一锌(Ni—Zn)铁氧体。
436互感器
互感器根据用途不同,可分为电流互感器和电压互感器两种。
4.3.6.1电流互感器
与测量
电流互感器的一次绕组匝数很少,使用时一次绕组串联在被测线路里,二次绕组匝数较多,
仪表和继电器等电流线圈串联使用,工作原理如图2:
N
lL1L2
图2电流互感器工作原理图
4.362电压互感器
电压互感器一次绕组匝数较多,使用时并联接于被测电路的两端,二次绕组匝数较少,工作原理
如图3:
U1
N1
N2
丄K1K2
U2
图3电压互感器工作原理图
4.3.7变压器
变压器根据用途不同可分为电源变压器、采样变压器、线间变压器等。
4.3.8二极管
二极管符号见图4。
+
图4二极管符号
4.3.8.1正向
直流电流沿半导体二极管较低电阻方向流动的方向。
4.3.5.2反向
直流电流沿半导体二极管较高电阻方向流动的方向。
4.3.8.3阳极端子
4.384阴极端子
正向电流流向外电路的端子。
4.3.8.5正向电压
电流正向流动时在器件两端产生的电压。
4.3.8.6正向电流
沿二极管低阻方向流过的电流。
4.3.8.7击穿电压
在发生击穿的区域内的电压。
5工具、设备、仪器仪表
工具'
设备、仪器仪表见表6°
表6工具、设备、仪器仪表
序号
名称
规格型号
用途
数量
游标卡尺
0—155mm
测量长度
漏电测试仪
TH2686A型
测试漏电电流
晶体管特性图示仪
QT2
晶体管特性
LCR电桥
TC2810C型
测量标称值
数字三用表
GDM-8055
测量电压用
音频毫伏表
测纹波电压
交流稳压电源
稳压
耐压试验台
DF2670A型
测量耐压
交流恒流源
GL13型
恒流
10
兆欧表
500V
测量绝缘电阴
6老化筛选的抽样
对于同一批采购来的元器件应同时进行老化筛选。
数量大于1000只时老化应同时进行,但老化后的测试可以抽样进行。
抽样的比例:
总数为1000-5000时抽取20%
总数为5000-10000时抽取10%
总数为〉10000时抽取5%最多不超过1000只。
7老化时的包装
老化时元器件应将原包装拆去,放在铝盒中,每盒中放置量约1/3空间。
8老化筛选参数设定
8.1
高温老化
老化温度:
150
老化时间:
4h。
8.2
低温老化
-18
9仪器仪表功能检查及操作步骤
所用的计量器具、仪器仪表必须在专业的计量单位鉴定合格的有效期内。
认真阅读所用仪器的使用
说明书。
遵循:
参数设置T开机预热T功能检查T元器件的性能测试T记录T尖机。
10测试项目
参数测试项目应根据元器件使用的情况来选择。
一般情况下应检查、测试以下参数:
10.1电阻器
目测,对照产品合格证、包装盒、实物,三位一体查看规格型号、功率、色圈(标称阻值和精度)是否一致,是否符合设计资料规定的技术要求,必要时可以通过LCR电桥核实。
10.2电位器
首先确定该电位器的阻值变化属于哪一种特性:
直线式、对数式还是指数式。
另外在旋转过程中阻
值变化是否均匀,接触是否可靠。
10.3压敏电阻
该器件检测的主要项目是借助DF2670A型耐压试验台测试,其击穿电压是否符合要求。
10.4电容器
10.4.1电容器额定电压U的检测
10.4.2电解电容器漏电电流|r的检测
一般电解电容器漏电电流计算公式:
luA=0.02UVCJF20
式中:
——uV:
额定电压;
C呻:
标称电容值;
希望漏电流(Ir)愈小愈好。
10.5电感器
一般检测电感器的直流电阻、电感量和允许通过的电流是否在规定的范围之内。
10.6互感器
空心参数,借助大电流发生器通过相应的In电流,分别测量20K1采样电阻两端的电压和通过
1501采样电阻的电流值。
1.20K1采样电阻连接空心线圈两端。
2.1501采样电阻连接速饱和线圈两端。
10.7变压器
根据不同性能用途的变压器及其指标要求测量工频耐压。
10.7.1变压器的输入端与外壳之间。
10.7.2变压器的输入端与输出端(初次级)之间。
10.8二极管
反向击穿电压、正向电压降。
10.9稳压管
稳压值。
10.10发光二极管
正向压降、批亮度。
10.11三级管
集电极一发射极反向击穿电压。
集电极一发射极漏电流。
电流放大倍数。
10.12运算放大器
空载电流、失调电压、最大输出幅度。
10.13延时电路
空载电流、输出高电平、输出低电平。
10.14稳压管
输入一输出击穿电压、输出电压。
10.15光电耦合器
输入一输出转移特性、输出集电极一发射极反向击穿电压、输出集电极一发射极暗电流。
11测量参数的判据
以元器件厂标准为依据,配对元器件的参数的误差一般不超过10%。
以设计资料规定的技术要求为依据,检测出的所有参数必须在规定的范围之内。
12老化后的参数测试
老化后应在两小时内将参数测试完毕,测试参数应记录在册,记录中应包括以下内容:
元器件型号
规格、牌号、生产厂家、生产日期、老化参数、本批数量、抽样数量、不合格数、不合格原因、合格率、结论。
13老化筛选的中止
当测试中发现不合格数超过5%寸应中止老化筛选。
会同质检供应等有尖部门分析、处理。
14免检
同一个供应单位的同一种牌号的元器件经过连续三批老化筛选,如果不合格率小于0.1%,则这个单位的这种元器件
在今后一年内可以免检。
一年后再老化筛选一批,如果不合格率仍小于0.1%,则这个单位的这种元器件的免检期再延长
O
格率仍小于0.1%,则这个单位的这种元器件的免检期再延长一年。
15产品高温老化
高温老化方法及技术要求:
高温老化房的温度应控制在+45C〜+50C范围内;
进入高温房的产品必须是经过调试合格的产品;
48小时;
,并作好记录,如发现不正常产品应立即撤除,经分析排除故
20小时(不加电),最后4小时做带电吸合释放,每100
——高温老化时间除特殊说明外,均为
——产品老化期间每隔四小时检查一次障后重新进入老化,时间重新开始计算;
——分励脱扣器、闭合电磁铁高温老化
秒动作一次;
,查看脱扣器指
HST1HST2、HSZ1HSJKG带电老化48小时,最后加大信号进行三次脱扣动作
示灯是否点亮;
HSQ係列高温老化每分钟切换一次,连续工作48小时;
HSL1系列高温老化每30秒切换一次,连续工作48小时;
HSW欠压脫扣器高温老化时,每吸合7分钟释放1分钟,连续工作48小时;
——高温老化后的产品,待常温恢复后进行技术性能测试,合格的产品交给下一道工序,不合格的产品经修复后,重新进入高温老化。
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- 电子元器件 可靠性 老化 筛选 规定