JIS Z 23201无损检测磁粉探伤第一部分 一般通则节选0127docWord文档格式.docx
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Equipment(MOD)
JISZ2323 非破壊試験―浸透探傷試験及び磁粉探傷試験―観察条件(无损检测——渗透探伤及磁粉探伤——观察条件)
ISO3059,Non-destructivetesting—Penetranttestingandmagneticparticletesting—Viewingconditions(IDT)
3术语和定义
本标准中使用的主要术语和定义,除JISZ2300中规定的以外,如下所示。
3.1反差涂料
为了提高磁粉痕迹的识别性而在表面使用的涂层或薄膜。
3.2检测介质
能够在探伤检测中使用的分散在液体中的磁粉(湿法使用的检测液)或者分散在空气中的磁粉(干法)。
3.3与检测对象表面平行的磁场
在被磁化的检测对象的表面形成的磁场中,与检测对象表面平行的成分。
3.4A波段紫外线
拥有波长365nm的最大公称强度的紫外线(UV-A)(波长315nm~400nm)。
3.5紫外光(黑光)灯
能发射A波段紫外线的设备。
3.6整流式电流
将交流整流过的电流(包括单相半波整流,单相全波整流,三相半波整流及三相全波整流)
3.7薄片型试验片
确认磁粉探伤的检测性能的试验片,指的是与A型标准试验片类似的薄片型试验片,有线、圆、十字等槽痕作为标准槽痕
3.8工序确认方式
通过磁化的定量确认及对使用比试验片(1型或者2型)的检测介质的性能确认试验,确认磁粉探伤的检测性能的方式。
3.9标准试验片确认方式
通过标准试验片(A型或C型)检测缺陷槽痕的性能确认试验来确认磁粉探伤的检测性能的方式。
4技术人员的资格及认证
检测技术人员应具备试验项目相关的必要的基础知识,对于检测对象的性质、适用标准和规范、计测仪器的性能规范等有必要的知识和经验。
技术人员最好是持有JISZ2305、JISG0431、JISW0905或与这些标准同等的标准中规定的相应资格。
5安全上的预防措施
磁粉探伤会涉及到使用有毒的、可燃性的或者挥发性的材料,应施行如下的预防措施。
——皮肤或粘膜应避免大面积和反复接触有机溶剂分散检测液、有机分散介质及反差涂料。
——检测场所应设置在依照劳动安全卫生法及消防法等法律规定进行了正确的换气处置的。
原理热源、火花、火焰等场所。
——检测介质和检测设备应依照介质和设备制造商提供的使用说明书进行操作。
——使用紫外光(黑光)灯时,应注意避免紫外光直接进入检测人员眼睛。
应保持紫外线过滤器的良好状态。
进行磁粉检测时,在检测对象和磁化设备周围会形成强磁场。
应将容易被磁场影响的器具搬离磁场影响范围。
6检测程序
在订货合同上要求按照文字化的磁粉探伤程序执行时,磁粉探伤应按照要求执行。
程序文件应详细指定检测条件,以便检测能反复进行。
程序文件可以是参照本标准及其他相应的标准制作的简单的工艺卡的形式。
7检测性能的确认方式及检测方法的分类
磁粉探伤的检测性能的确认方式分为以下2种。
a)工序确认方式表示示出了按工序确认方式实施的检测方法的分类。
b)标准试验片确认方式表2示出了按标准试验片确认方式实施的检测方法的分类。
表1按工序确认方式实施的检测方法的分类
分类条件
分类
磁粉的使用时间
连续法
磁粉的种类
荧光磁粉,非荧光磁粉
检测介质的种类
干法,湿法
磁化电流的种类
直流、整流式电流、交流
磁化方法
轴向通电法,触头法,磁束贯通法(磁感应法),电流贯通法(中心导体法),邻接电流法,极间法(磁轭法),磁化绕组法
表2按标准试验片确认方式实施的检测方法的分类
连续法,残留法
直流、整流式电流、交流、脉冲电流
轴向通电法,触头法,磁束贯通法(磁感应法),电流贯通法(中心导体法),邻接电流法,极间法(磁轭法)
8工序确认方式
8.1一般事项
一般事项如下所示。
a)检测方法详细依据8.2~8.5.
b)检测中使用的检测介质的性能确认依据JISZ2320-2。
c)检测中使用的设备的性能确认依据JISZ2320-3。
8.2表面处理
检测对象表面不允许附着用影响检测灵敏度的污渍、氧化皮、可剥离的锈迹、焊瘤、干油、油污等异物。
对于表面状态的要求等级,根据需要检测出的缺陷的大小及方向而定。
对表面进行处理,以保证能区别出疑似痕迹和磁粉模样。
紧密附着的油漆层等50μm以内的非磁性涂层通常不会影响检测灵敏度,但更厚的涂层就会导致灵敏度降低,为此应对灵敏度进行确认。
磁粉模样和检测对象表面应形成足够的视觉反差。
使用非荧光磁粉时,也可以使用反差涂料(均匀地、薄薄地涂敷)。
8.3磁化方法
8.3磁化
8.3.1一般事项
a)交流的实效值是利用计测仪器很容易测定的量,通过实效值来对磁场强度等提出要求是非常实用和有效。
但是,支配检测对象的磁化状态的是波高值,通过利用波高值,可以不管电流的波形(交流,整流,脉冲电流或相位控制电流)而从原理上正确地把握磁化状态。
因此,应在把握好磁化状态与波高值的关系的基础上通过实效值对磁化状态进行管理。
但是,实用脉冲电流和相位控制电流时,需要用特殊的方法测定波高值。
表3示出了交流和整流情况下,实效值、波高值和平均值的关系。
b)检测对象表面附近(检测对象内部)的最小磁束密度设为实效值1T。
该磁束密度是能够在高导磁率的低合金钢及低碳素钢的检测对象表面形成与表面平行的实效值为2000/m的磁场强度的推荐值。
注1:
比低合金钢和低碳素钢的导磁率更低的其他钢种,需要与检测对象表面平行的、强度更高的磁场。
磁化过度时,会形成背景模样(background)等疑似缺陷的模样,这会妨碍磁粉模样的观察。
注2:
许多强磁体在磁束密度在实效值达到1T时,磁化曲线会产生变形,从而磁束密度的波高值无法达到1.4T。
注3:
交流磁场的强度的实效值为2000A/m时,波高值为2830A/m。
c)裂纹和其他线状缺陷可能存在方向性的问题,因此尽可能形成磁束方向垂直相交的磁场。
一般认为磁束能够有效检查出最佳方向角度到60°
以内的方向角度的缺陷。
因此,通过在检测对象表面进行垂直的两个方向的磁化,能够覆盖所有方向角度的缺陷。
d)表面以下的缺陷,用交流不容易检测出时,使用直流或者整流。
表3各种正弦波的电流波形相应的波高值、平均值及实效值之间的关系
8.3.2磁化的确认
应利用下述的一种或两种以上的方法,确认检测对象表面的磁束密度师父达到磁粉探伤所需要的值。
a)在检测对象检测性能最差的位置上检测细小的自然缺陷或人工缺陷。
b)尽可能地接近表面,测定与检测对象表面平行的磁场的强度。
相关信息可以从JISZ2320-3获得。
c)使用通电法时,计算与检测对象表面平行的磁场。
很多情况下可以通过单纯的计算获得磁场的数据。
附属资料A中指定的电流值就是据此所求得的电流值,作为参考资料。
d)根据已经确定的原理使用其他方法。
通过接设在检测对象的表面的磁束指示器(薄片型(shimtype)试验片)可以作为表示与检测对象表面平行的磁场的大小与方向,但是在评价与检测对象表面平行的磁场的强度上还不够充分。
8.3.3磁化方法
8.3.3.1磁化方法的种类
工程确认方式中使用的磁化方法如表4所示。
只要满足8.3.1的要求可以进行适当的磁化时,也可以使用本条规定以外的方法进行磁化。
多向磁化在为了检测任意角度方向的缺陷时使用。
对于单纯形状的检测对象,为了达到与检测对象表面平行的磁场强度,要通过计算式求出必要的电流近似值,计算式在附件A示出。
磁化设备在符合JISZ2320-3的规定的基础上,还要按照此条使用。
为了检测出整个检测表面的所有角度方向的缺陷,有时可能会使用到一种以上的磁化方法,这种情况下,不能前一种的磁化残留的磁场的影响时,应进行退磁。
表4工序确认方式适用的磁化方法
符号
说明
图
轴向通电法
EA
将检测对象设置在电极之间在轴方向同电流的磁化方法。
图1
触头法
P
将2个电极(触头)按触在在面积比较大的检测对象表面通电进行磁化的方法。
图2,3
磁束贯通法(磁感应法)
I
给穿过检测对象的孔等磁体施加交流磁束,将检测对象作为变压器的2次侧,通过在检测对象中产生的感应电流进行磁化的方法。
图4
电流贯通法(中心导体法)
B
在有孔的检测对象的孔的部分穿过导体并通电流,通过在电流的周围形成的圆形磁场进行磁化的方法。
图5
邻接电流法
AC
在检测对象的表面附近的检测范围内平行设置一根或者一根以上的导体并通电,通过电流周围形成的磁场进行磁化的方法。
图6,7
极间法(磁轭法)
固定型
FM
将检测对象或者检测对象的一部分接上电磁铁的刺激,将电磁铁产生的磁束加到检测对象中而进行磁化的方法
图8
可移动型
PM
(Y)
在检测对象表面接上交流电磁铁(磁轭)将其产生的磁场加到检测对象中而进行磁化的方法。
图9
磁化绕组法(线圈法)
(固定)
RC
将检测对象放置在线圈中并通电,通过线圈产生的磁场在线圈的轴向进行磁化的方法。
图10
(线缆)
FC
将线缆无重叠的绕在检测对象上形成线圈并通电,通过线圈产生的磁场磁化检测对象的方法。
图11
8.3.3.3加入磁束法
8.3.3.3.4极间法(可移动型)
极间法(可移动型)(又叫磁轭法)如图9所示,让电磁铁的磁极接触检测对象表面,通过交流电磁铁(磁轭)产生的磁场将检测对象磁化。
每一次的检测范围是将连接两磁轭的中心的线作为中心线的d×
0.5d(d是两磁轭的内侧表面的间距)的长方形范围,并且这个长方形范围还要除去与磁轭表面临近的25mm的范围或者是将连接两磁轭的中心的线的中点作为圆心的0.5d的半径的圆形范围,并且这个圆形范围还要除去与磁轭表面临近的25mm的范围。
极间法(可移动型)对与在检测对象形成的磁束呈垂直方法的缺陷具有很高的灵敏度。
8.3.1项规定的磁化的要求事项,仅适用于交流电磁铁。
直流电磁铁及永久磁铁仅在订货文件同意时可以使用。
1.检测范围;
2.缺陷;
3.电流;
4.磁束;
5.电磁铁(磁轭)
图9极间法(可移动型)(也叫磁轭法)
8.4检测介质
8.4.1检测介质的特性及选择
检测介质的特性依据JISZ2320-2。
磁粉探伤可以使用各种类型的检测介质。
检测介质是在分散介质流体中加入非荧光(含黑色)磁粉或荧光磁粉的悬浊液。
用水作为分散介质时,检测介质中还包括表面活性剂及防锈剂。
也可以使用各种干法用磁粉。
一般情况下,对于表面的细微缺陷,干法用磁粉没有湿法磁粉的效果好。
对检测表面进行适当的修整处理,排除检测表面的废液以使磁粉模样的反差达到最大,并且当观察条件(依据第10条)适当时,使用荧光检测介质能够获得最高的灵敏度。
非荧光磁粉也可以获得很高的灵敏度。
可以使用黑色及其他颜色的磁粉。
为了使缺陷与检测表明的颜色形成良好的反差,也可以按照8.2及第10条涂敷薄薄的反差涂料,在反差涂料层上施加检测介质。
8.4.2检测介质的性能试验
按照JISZ2320-2在检测前或者检查期间对检测介质进行定期性的性能试验。
该性能试验有要求必须做的情况也有推荐做的情况,必须根据JISZ2320-2的规定使用适当的对比试验片在检查前或者检查期间定期实施检测性能的确认。
当二次使用检测液或者循环使用检测液时,为了维持检测液的性能,需要特别注意。
8.4.3检测介质的施加
检测介质应在磁化后立即施加及在磁化过程中施加,并且在磁化完成前完成检测介质的施加。
在移动和检查检测对象或者检测对象的结构件时,应给予足够的时间让其形成磁粉模样。
使用干法磁粉时,施加时应尽量不要妨碍到磁粉模样的形成。
使用检测液时,应让检测液缓慢地在检测表面流动以形成磁粉模样,要防止因液流速度过快导致磁粉被冲走。
施加检测液后,为了提高磁粉模样的反差,应使检测对象能够排除废液。
8.5综合性能试验
在开始检测前,最好能进行综合性的性能试验。
综合性性能试验要明确检测程序、磁化方法及检测介质方面存在的问题。
最切实的性能试验是对含有已知种类、位置、尺寸及尺寸分布的自然缺陷或人工缺陷的检测对象的具有代表性的部分进行检测。
对试验检测对象进行退磁,不能存在以前的检测中残留的磁粉模样。
当没有含有已知缺陷的试验检测对象时,也可以使用含有人工缺陷的试验片,比如是加工出了会妨碍磁束的流通的不连续部位的薄片型试验片。
9标准试验片确认方式
9.1一般事项
试验方法详细依据9.2~9.5项。
检测中使用的磁粉及检测液的性能确认也可以使用JISZ2320-2。
检测中使用的设备的性能确认也可以使用JISZ2320-3。
9.2检测设备、磁粉及检测介质
9.2.1检测设备
检测设备要求如下。
a)检测设备一般要求应具有对检测对象进行磁化、施加磁粉、观察及退磁4项操作的功能。
但若无必要,也可以不需要具备退磁的功能。
b)检测设备应能够按照检测对象的形状、尺寸、材质、表面状态及缺陷的性质(种类、大小、位置及方向)以合适的林名都进行有效并且安全地检测。
c)磁化设备分为电流磁化设备和永久磁铁磁化设备两种,而电流磁化设备又根据磁化电流的种类分为直流式、整流式、交流式和脉冲电流式。
d)电流磁化设备应能够提供检测出检测对象的缺陷所需的磁场强度。
因此,应配备用波高值表示磁化电流的电流计。
但在磁铁磁化的设备中可以省去电流计。
e)在磁铁磁化设备上应标明可以施加到检测对象的最大磁通量,在电磁铁磁化设备上还应标明电流的种类和频率。
f)湿法检测设备的检测液槽应配备搅拌设备,以保证检测液中的磁粉均匀分散,能够进行稳定的检测,从而避免检测时产生磁粉紊乱的现象。
g)干法检测设备应能保持干燥的磁粉通常处于均匀分散的状态,并且不会产生紊乱的现象,同时应把凭证能够稳定地进行检测。
h)使用荧光性检测介质时,行检测的屋子或者场地应使周围的亮度在20lx白光等级以内。
检测范围用紫外光灯照射,依据JISZ2323的规定对检测面的A波段紫外线进行测定,要保证照度在10W/m2(100μW/cm2)以上。
i)退磁设备主要永固去除检测对象上残存的剩磁,应能够将剩磁降低到必要的限度。
9.2.2磁粉及检测介质
检测介质要求如下。
a)磁粉按照使用时分散介质不同分为干法用磁粉和湿法用磁粉,根据观察方法不同又分为荧光磁粉和非荧光磁粉。
b)应根据检测对象的材质、表面状况及缺陷的性质,选择使用具有适当的磁性、粒度、分散性、悬浮性及颜色的磁粉。
c)用显微镜测定磁粉粒子的定向直径,用累计筛上的20%及80%的直径范围表示磁粉粒子的粒度。
d)采用湿法时,使用JISK2203规定的煤油、水灯作为分散介质,并且应根据需要在检测液中适当地添加防锈剂及表面活性剂。
e)检测液中的磁粉分散浓度应以实际使用时检测液的单位体积(1L)所含的磁粉的质量(g),或者是以检测液的单位体积(100mL)所含的磁粉的沉淀体积来表示。
应根据磁粉种类及粒度决定磁粉的分散浓度。
特别是在决定荧光磁粉的分散浓度时,除了考虑磁粉的粒度外,还应考虑磁粉的施加时间和施加方式,避免过的磁粉浓度。
f)应根据需要使用适当的标准试验片等确认检测介质的性能。
9.2.3检测设备等的维护校检
9.2.3.1电流计
必须定期对用于设定磁化电流的电流计进行校检。
9.2.3.2定时器
必须定期对用于控制磁化电流持续时间的定时器进行校检。
9.2.3.3紫外光灯
应按照JISZ2323的规定对检测面的A波段紫外线进行测定,当其强度超过10W/m2(1000μW/cm2)或者有可见光泄漏时,进行修理或者报废。
9.2.3.4校检周期
对电流计、定时器和紫外光灯至少应该每年校检一次,对于停止使用超过一年的设备,在使用时应进行校检,确认了其性能方能使用。
9.3标准试验片及对比试验片
9.3.1A型标准试验片
A型标准试验片如下所述。
a)A型标准试验片是检查确认检测设备,磁粉,检测液的性能,连续法检测时检测对象表面的有效磁场的强度、方向,探伤的有效范围及检测操作正确与否的试验片,应经过权威部门的校检。
b)A型标准试验片的名称及材质如表5所示,形状及尺寸如图12所示。
c)A型标准试验片中的A2与A1相比,需要在更高的有效磁场强度下显示磁粉模样。
另外,A1、A2的分数越小,就依次越需要在更高的有效磁场强度下才能显示磁粉模样。
d)选择A型标准试验片时应格局磁粉探伤的规范或目的进行选择使用,并要能确保能够显示出需要检测出的缺陷的方向的磁粉模样。
在规范书中规定使用的A型标准试验片的名称时,应依据检测对象的磁力特性及需要检测出的缺陷的种类及大小来进行规定。
另外,当需要的邮箱磁场强度超过A型标准试验片的磁场强度的相应规定范围时,按下例所示用标准试验片的名称的倍数来表示。
例:
(A2-7/50)×
2——表示需要用能显示A2-7/50标准试验片的磁粉模样的磁化电流的2倍的磁化电流值进行检测。
e)A型标准试验片有人工缺陷的一面应紧贴检测面,为此要用适当的有粘性的胶带将标准试验片粘贴在检测面上。
此时,粘性胶带不能粘到标准试验片的人工缺陷的部位。
f)A型标准试验片应使用连续法施加磁粉。
g)A型标准试验片的形状、尺寸、磁力特性和最开始相比有所变化时,就不能再使用。
表5A型标准试验片的名称及材质
名称
材质
A1-7/50
(圆形、直线)
A1-15/50
A1-30/50
电磁软铁(JISC2504规定的SUY-1类型)进行退火(惰性气体氛围600℃,保温1个小时,在同气体氛围中缓冷到100℃)的材料
A1-7/100
A1-15/100
A1-30/100
A2-7/50
A2-15/50
A2-30/50
冷轧电磁软铁(JISC2504规定的SUY-1类型)材料
A2-7/100
A2-15/100
A2-30/100
试验片的名称中,斜线左边表示的是人工缺陷的深度,斜线右边表示的是试验片的厚度,尺寸单位为μm。
人工缺陷的深度的公差——人工缺陷我7μm时为±
2μm,15μm时为±
4μm,30μm时为±
8μm,60μm时为±
15μm。
试验片的名称中,括弧内表示人工缺陷的形状。
图12A型标准试验片的形状及尺寸
9.3.2C型标准试验片
C型标准试验片如下所述。
a)C型标准试验片用在焊接的坡口面等狭窄的部位等尺寸上使用A型标准试验片比较困难的场合,作为A型标准试验片的替代而使用,应经过权威部门的校检。
b)C型标准试验片的名称及材质如表6所示,形状及尺寸如图13所示。
试验片的厚度为50μm。
c)C型标准试验片的人工缺陷的尺寸为深度(8±
1)μm,长度为(50±
8)μm。
d)C型标准试验片分别是CI与A1-7/50,C2与A2-7/50在近似的有效磁场下显示磁粉模样。
e)使用C型标准试验片时,沿着切割线切成5mm×
10mm的小片,将有人工缺陷的面紧贴检测面,为此可以使用适当的双面粘胶带或者粘贴剂将试验片粘贴到检测面上,此时,双面粘胶带等的厚度要在100μm以内。
f)C型标准试验片应使用连续法施加磁粉。
g)C型标准试验片的形状、尺寸、磁力特性和最开始相比有所变化时,就不能再使用。
表6C型标准试验片
C1
C2
1.人工缺陷;
2.切割线;
3.型号标示的刻印
图13C型标准试验片的形状及尺寸(型号标示为C1的情况)
9.3.3B型对比试验片
B型标准试验片如下所述。
a)B型对比试验片用于检查设备、磁粉及检测液的性能。
b)B型对比试验片的形状及尺寸如图14所示。
通常,使用JISC2501规定的材料。
但是,根据用途的不同,也可以使用与检测对象相同材质和直径的。
c)使用B型对比试验片时,将包覆的导体传过通孔,用连续法在圆筒面施加磁粉。
图14B型对比试验片的形状及尺寸
9.4检测时间
检测时间要求如下。
a)探伤一般在检测对象所以的加工及处理工序完成后进行。
但是,因为表面处理会造成不容易检测出缺陷时,也可以在处理前进行检测。
b)
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