企业品质培训教材-制程管制及制程能力改善.ppt
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制程管制與制程能力改善目錄,前言制程能被管制的基本條件與作法何謂制程能力如何評估制程能力初期制程能力分析6管理的基本概念制程能力改善的方法實作演練交流與討論總結,制程管制與制程能力改善前言,偶然因素(正常現象),異常因素(正常現象),制程變異的原因,制程變異的原因,管制狀態(偶然因素的變異),異然因素(異常因素的變異),2.制程能被管制的基本條件與作法2-1.基本條件,2-2作法2-2-1、對現況的掌握(管制狀態的判定)
(1)收集一段期間的品質特性數據資料例:
n=46個數據;k=2025組
(2)作成X-R管制圖(3)判定是否在管制狀態2-2-2、與規格比較
(1)所有數據資料繪制直方圖
(2)利用直方圖與規格上、下限作比較(3)直方圖在規格上、下限之內,表示制程適合規格(4)直方圖超出規格上、下限,表示制程不能滿足規格,2-2-3、採取措施
(1)制程呈非管制狀態*制程解析、調查原因材料(Material)設備(Machine)4M法方法(Method)人員(Member)*採取措施、制定標準*相同原因不再發生*重新制作X-R管制圖*直至進入管制狀態,
(2)制程在管制狀態,但與規格比較如下圖:
規格下限,規格上限,規格下限,須改善促使制程平均值移近規格中心(3)制程在管制狀態,但與規格比較如下圖:
規格上限,須改善縮小制程變異,規格上限,規格下限,(4)如果
(2)、(3)項採取措施在技術或費用上有困難或不利時,就有考慮變更規格的必要.(5)制程不但在管制狀態,且與規則比較如下圖所示:
規格下限,規格上限,可直接引用2-2-1所計算的管制界限繼續實施制程管制,何謂制程能力3-1、定義制程在固定之生產因素及穩定的管制下的質量能力.因此制程能力包括下列二個要項
(1)一個工序或工段的制程能力是由許多因素造成的,從開發設計開始包括材料、機器設備、作業方法、作業者的技能、檢驗設備、檢驗方法、檢驗的技能等因素,這些因素有任何變化,都能影響其制程能力,所以要討論制程能力,必須先固定這些因素為前提.
(2)以上的因素都加以標準化了,並徹底的實施,且該制程的測定值都在穩定的管制狀態下,這時的制程能力,才可謂該工序或工段的制程能力.,3-2、目的以簡單的數字及等級方式評估制程實績,以作為確認或改善質量之依據,並使制程合理化.3-3、用途3-3-1、作為新產品開發、設計之參考.3-3-2、選擇原材料、操作人員或作業方法.3-3-3、驗收全新或修理的設備.3-3-4、調整各生產因素,選擇較佳的組合.,如何評估制程能力4-1、執行制程能力評估的時機初期-新產品量產前-重大的產品或制程變更導入前量產階段:
重大的產品或制程變更導入前4-2、制程能力評估的對象所有的管制特性在管制計劃/QC工程表中定義者4-3、制程能力評估種類及方法計數型之管制特性不良率PPM計量型之管制特性PPKCPK,4-4、範例一(某工廠實例)1、總則1-1、目的以具體數字、等級方式來評定各工程之準確度及精密度,並推算其不良率以回饋各工程相關人員,期改善產品品質.1-2、適用範圍凡本公司工廠之工程,於管制狀態下者適用之.1-3、名詞定義工程能力:
各個工程於穩定的管制狀態下的品質能力.工程準確度(Ca):
從生產過程中所獲得實績之平均值與規格中心值之間偏差的程度.(Capabilityofaccuracy)工程精密度(Ca):
制程中實績群體標準差與規格許容差之比較.(Capabilityofprecision)不良率(P):
以Ca和Cp對整個工程品質的綜合評價.(以不良率推定之),樣本平均值X:
將每月所收集之Data加以總和,除其數所得之值.規格中心值(To):
由生技課所訂定,記載於各制標A,為本公司之規格中心值.規格許容差(T):
亦為生技課所訂,為規格中心值上限或下限之單邊許容值.規格公差(Ta):
即規格中心值上限及下限之雙邊許容值.亦即TA:
2T群體標準差推定值:
將所收集之Data,各自與樣本平均值差之平方加以總合,除以其數減1,如此推算出之標準差.2.權責3.實施3-1、工程能力評價方法3-1-1、工程準確度Ca,Ca=1-=%Ca評價等級,樣本平均值-規格中心值,規格許容差,X-To,T,3-1-2、工程精密度CpCp=,T,3,規格許容差,3*群體標準差推定值,規格公差,6,TA,6,Cp評價等級,3-1-3、不良率PZ1=3Cp【1+(1-Ca)】由Z1查常太分配表(如附表1)得P1%.Z2=3Cp*Ca由Z2查常態分配表(如附表1)得P2%.P%=P1%+P2%,P評價等級,3-2、等級評定后之處置原則3-2-1、Ca,3-2-2、Cp,3-2-2、P不良率及是據Ca及Cp推定的不良率,故其處置須視下一工程或顧客的要求.4-5、範例二*制程能力指數CPK
(1)制程能力Cp:
(規格上限-規格下限),6,
(2)規格上限制程能力CPU:
(3)規格下限之制程能力CPL:
(4)制程能力指數CPK:
CPU與CPL之最小值者:
制程標準差=或:
估計制程標準差:
3,(規格上限-制程平均數),3,(制程平均數-規格下限),(X1-X)2,n-1,R,d2,(5)制程能力CP的判斷,常態分配表,初期制程能力分析5-1、初期制程能力指數PPK
(1)初期制程能力PP:
(2)規格上限之初期制程能力PPU:
(3)規格下限之初期制程能力PPL:
(規格上限-規格下限),6S,(規格上限-樣本平均值),3S,(樣本平均值-規格下限),3S,
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