SPC统计制程管制的使用.pptx
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SPC统计制程管制的使用.pptx
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SPC統計製程管制講師:
林匯民,統計技術之應用,1.市場分析2.產品設計3.相依性規格、壽命及耐用性預測4.製程管制及製程能力研究5.製程改善6.安全評估風險分析7.驗收抽樣8.數據分析、績效評估及不良分析,SPC使用之統計技術,1.品管七手法2.統計檢定3.管制圖4.抽樣計劃5.變異數分析迴歸分析,製程管制系統,製程管制系統,1.製程:
製程乃指人員、設備、材料、方法及環境的輸入,經由一定的整理程序而得到輸出的結果,一般稱之成品。
成品經觀察、量測或測試可衡量其績效。
SPC所管制的製程必須符合連續性原則。
2.績效報告:
從衡量成品得到有關製程績效的資料,由此提供製程的管制對策或改善成品。
3.製程中對策:
是防患於未然的一種措施,用以預防製造出不合規格的成品。
4.成品改善:
對已經製造出來的不良品加以選別、或進行全數檢查並修理或報廢。
管制圖依常態分配計算製程數據分佈,常態分配,管制界限的構成,製程中共同原因與特殊原因之變異,共同原因:
製程中變異因素存在,製程不受影響,在管制狀態下,其產品之特性有固定的分配。
特殊原因:
製程中變異因素存在,導致製程失去管制,其產品之特性沒有固定的分配。
製程中只有共同原因的變異圖示,(製程穩定且可預測的),製程中有特殊原因的變異圖示,(製程不穩定,變化不可預測),第一種錯誤與第二種錯誤(冒險率:
;),:
管制界限以外之機率:
平均值移動後,仍在管制界限內之機率,第一種錯誤與第二種錯誤(risk;risk),共同原因與特殊原因之對策,1.特殊原因之對策(局部面)必須消除產生變異的特殊原因,否則影響很大。
多由製程人員直接加以改善或解決約佔製程問題15%2.共同原因之對策(系統面)必須多方面且共同去改善造成變異的問題常需管理階層的努力與對策製程上85%的問題是屬於此類,管制圖導入流程,建立可解決問題之系統,確認關鍵製程及特性,導入SPC進行關鍵製程及特性之管制,檢查製程能力及符合規格程序,進行製程持續改善計劃,提報及執行製程改善計劃,不足,足夠,管制圖的應用,管制圖的選擇,計數值,計量值,n=1,n2,n=25,n=3或5,n10,不是,是,不是,是,缺點數,不良數,X-Rm,P,Pn,u,C,R管制圖(平均值與全距),1.公式:
(1)管制圖CL=UCL=A2LCL=A2
(2)R管制圖CL=UCL=D4LCL=D32.實例:
某工廠製造一批紫銅管,應用-R管制圖來控制其內徑,尺寸單位為m/m,利用下頁數據表之資料,求得其管制界限並繪圖。
(n=5),R管制圖用數據表,R管制圖用數據表,1.將每樣組之與R算出記入數據表內。
2.求與504.83.查係數A2,D4,D3A20.58,D42.11,D3負值(以0代表),R繪圖步驟,4.求管制界限。
(1)管制圖CL50UCLA250(0.58)(4.8)52.78LCLA250(0.58)(4.8)47.22
(2)R管制圖:
CL4.8UCLD4(2.11)(4.8)10.13LCLD3(0)(4.8)0,R繪圖步驟,5.將管制界限繪入管制圖6.點圖7.檢討管制界限,R管制圖,p管制圖(不良率),1.公式
(1)組樣本大小n相等時:
CLUCL3LCL3
(2)n不等,且相差小於20%時:
CLUCL3LCL3,p管制圖(不良率),(3)n不等,且相差大於20%時:
CLUCL3LCL3,p管制圖(不良率),2.實例某工廠製造外銷產品,每2小時抽取100件來檢查,將檢查所得之不良品數據,列於下表,利用此項數據,繪製不良率(p)管制圖,控制其品質。
p管制圖繪圖步驟,1.求管制界限CL0.055%UCL3=11.54%LCL3(為負值,視為0),p管制圖繪圖步驟,2.點繪管制圖,計量值管制圖常用之係數表,管制圖的判定方法,正常點子之動態之管制圖,如圖一。
1.多數的點子,集中在中心線附近,且兩邊對稱。
2.少數的點子,落在管制界限附近。
3.點子之分佈呈隨機狀態,無任何規則可尋。
4.沒有點子超出管制界限外(就是有也很少)。
管制圖的判定方法,不正常點子之動態之管制圖1.在中心線附近無點子。
此種型態吾人稱之為”混合型”,因樣本中可能包括兩種群體,其中一種偏大,另一種偏小,如圖二。
2.在管制界限附近無點子。
此種型態吾人稱之為”層別型”,因為原群體可能已經加以檢剔過,如圖三。
3.有點子逸出管制界限之現象。
此種稱之為”不穩定型”如圖四。
A、管制圖的判讀法,管制圖之不正常型態之鑑別是根據或然率之理論(又稱小機率理論)而加以判定的,出現下述之一項者,即為不正常之型態,應調查可能原因。
1.1點超出從中心線起算3個Sigma之外。
2.3點中有2點分佈於從中心線起算2Sigma以上(同側)。
3.5點中有4點分佈於從中心線起算1Sigma以上(同側)。
4.6點以遞增或遞減的趨勢分佈在同一側。
5.8點在同一側,但沒有點落在1sigma的範圍(兩側)。
6.9點在同一側。
7.14點在同一側,分佈呈現上下交替。
8.15點分佈於同側,從中心線起算1Sigma的範圍(兩側),計量值管制圖判讀,計數值管制圖判讀,1.1點超出從中心線起算3個Sigma。
2.6點以遞增或遞減的趨勢分佈在同一側。
3.9點在同一側。
4.14點在同一側分佈呈現上下交替。
管制圖應用之困難,1.少量多樣之生產型態,不勝管制(可改用製程特性管制)。
2.管制計畫不實際,無法落實。
3.使用SPC前未作充分準備。
例如:
製程及管制特性之確定,決定量測方法,數據如何收集等。
4.欠缺統計技術。
5.統計計算太過繁瑣費時(可以SPC軟體處理)。
6.量測數據之有效數字位數未標準化。
7.管理階層不支持。
管制圖能解決之問題,1.經濟性:
有效的抽樣管制,不用全數檢驗,不良率低,得以控制成本。
使製程穩定,能掌握品質、成本與交期。
2.預警性:
製程的異常趨勢可即時發現並對策,預防整批不良,以減少浪費。
3.分辨特殊原因:
作為局部問題對策或管理階層系統改進之參考。
4.善用機器設備:
估計機器能力,可妥善安排適當機器生產適當零件。
5.改善的評估:
製程能力可作為製程改善前、後比較之指標。
製程能力分析,1.Ca(準確度越低越佳)CaSc/(T/2)2.Cp(精密度越高越佳)CpT/6(雙邊規格)Cp(Su)/3或(SL)/3之最小值(單邊規格)3.Cpk(製程能力越高越佳)Cpk(1Ca)Cp;單邊規格時,Cpk=Cp。
製程能力分析,4.不良率P(綜合評價)
(1)ZL3Cp(1Ca)超出下限PL%ZU3Cp(1Ca)超出上限PU%P%PUPL%總不良率
(2)ZU(SU)/,ZL(SL)/5.定義
(1):
製程平均值(3)T:
公差
(2):
製程標準差(4)Sc:
規格中心,製程能力等級判斷,6概念:
1.何謂六個製程?
製程精密度Cp=2.0製程能力指數Cpk1.5。
2.以六個訂為品質缺點的基準理由在製程無變異情況下(Cp=Cpk=2),產生之缺點率僅為0.002ppm。
在製程變異無法消除情況下,Cp=2,Cpk=1.5,缺點率為3.4ppm。
常態分佈,常態分佈,常態分佈,常態分佈,製程能力指數Cp與製程不良率P(ppm)對照表(平均值不偏移)。
規格界限寬度,規格界限寬度,規格界限寬度,規格界限寬度,標準差與ppm品質水準對照表(規格中心往左、右移動1.5),標準差與ppm制品質水準對照表(規格中心往左、右移動1.5),標準差與ppm制品質水準對照表(規格中心往左、右移動1.5),管制圖表,
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