可靠度试测规范.docx
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可靠度试测规范
附件2:
可靠度測試規範
可靠度測試項目目錄
NO
EvaluationTestItems
評價項目
1
Compermenttemperaturerise
元件溫度上升
2
Hightemperatureshortcircuit
高溫短路
3
Lifeofelectrolyticcapacitor
電解電容算出壽命
4
Lightningsurge
雷擊
5
InputON/OFFathightemperature
高溫輸入ON/OFF
6
Dynamicsourceeffect
動態輸入變動
7
Hightemperaturetese
高溫測試
8
Lowtemperaturetese
低溫測試
9
Temperature/humiditytest
溫濕度循環測試
10
PLDtest
輸入瞬斷測試
常溫、常濕:
定義濕溫度5°C~35°C,相對濕度45%~85%RH.
1.Componenttemperaturerise元件溫度上升:
1.1目的:
確保待測物之可靠度,確認各元件均在溫度規格內使用.
1.2適用:
所有機種適用.
1.3測試條件:
a.輸入電壓:
規格範圍之最小、額定、最大.
b.負載:
規格範圍之最大.
c.輸出電壓:
額定.
d.周圍溫度:
常溫.
e.接線圖:
INPUTSOURCE
負載
待測物
溫度記錄器
1.4測試方法:
a.依測試條件設定,當溫度達到熱平衡後,以熱電偶測定元件溫度,基板上之元件
焊點需測量溫度.
b.參考溫度Derating計算出最大溫升規格值△t.
(i.e.DeratingCurve在100%Load100%下最高至50℃,則以附表A
Derating率之溫度減去50得100%之LOAD下之△t,60℃時,Derating率為70%,
則減去60得到70%之△t.)實際負載在100%時依減50℃之△t.為規格值.
c.元件之選擇以R-1溫度分佈測得之發熱較多元件做測定.
d.元件實際溫升不能超過計算得出之△t.
2.Hightemperatureshotycircuit高溫短路:
2.1目的:
確認輸出短路放置後,待測物之可靠度.
2.2適用:
除未加短路保護機種外所有機種適用.
2.3測試條件:
a.輸入電壓:
規格範圍之最大輸入電壓.(實測取最大,例265V)
b.輸出電壓:
額定值.
C.周圍溫度:
動作溫度上限┼5℃(例65℃).
d.接線圖:
待測物
負載
INPUTSOURCE
示波器
2.4測試方法:
a.待測物在設定測試條件下,輸出短路2小時以上.
b.記錄溫度上升之情形,參照溫度Derating,不能超過規定溫度.
C.解除短路狀態後確認輸出仍正常,部品不能有損壞.
3.Lifeofelectrolyticcapacitor電解電容算出壽命:
3.1目的:
推定待測物之壽命,並確認其可靠度.
3.2適用:
所有機種適用.
3.3測試條件:
a.輸入電壓:
額定值.
b.輸出電壓:
額定值.
c.負載:
額定.
d.周圍溫度:
40℃.
e.接線圖:
3.4測試方法:
a.額定之輸出、輸入時,在規定之周圍溫度下,依下式計算:
T1-T2
L1=LS·210
L1:
實際之有效壽命
LS:
部品使用溫度範圍上限下之有效壽命
T1:
部品之使用溫度範圍上限
T2:
實際使用溫度
b.算出之壽命時間應≧規格所示.
4.LightningSurge雷擊:
4.1目的:
確認輸入端加入LightningSurge之耐受能力.
4.2適用:
規格有規定之機種.
4.3測試條件:
a.規格書有規定依規格條件.
b.輸入電壓:
額定(實測AC115V).
c.輸出電壓:
額定.
d.負載:
額定.
e.周圍環境:
常溫、常濕.
f.施加波形:
JEC212規定,波頭長1.2μs,波尾長50μs之電壓,波形3KV*110%(限
流電阻100Ω).
g.接線圖:
電阻負載
待測物
INPUTSOURCE
4.4測試方法:
a.依規定測試條件,施加Surge電壓於
輸入—輸入,輸入—Ground±極各3回
確認元件無破損,無絕緣破壞,FlashoverArc及保護回路誤動作情形發生.
5.InputON/OFFathightemperature高溫輸入ON/OFF:
5.1目的:
高溫時輸入電壓ON/OFF重覆施加,確認産品之信賴性.
5.2適用:
所有機種適用.
5.3測試條件:
a.輸入電壓:
規格之輸入電壓範圍最大值(例:
265V).
b.負載:
額定100%LOAD.
c.輸出電壓:
額定.
d.周圍溫度:
動作可能溫度範圍┼5℃(例65℃).
e.接線圖:
恒溫槽
5.4測試方法:
a.待測物置於恒溫槽內,依條件之溫度設定,到達設定溫度後放置12小時,同時電源ON/OFF至少500cycle於輸入端,結束後確認元件無破損,輸出電壓與機能正常(ON5S,OFF30S)
6.Dynamicsourceeffect動的輸入變動:
6.1目的:
確認待測産品在動的輸入變動下能正常動作.
6.2適用:
交流輸入之所有機種適用.
6.3測試條件:
a.規格書有規定者,依規格條件.
b.負荷:
額定100%.
c.周圍溫度:
常溫.
d.輸出電壓:
額定.
e.輸入變動條件:
額定最小,額定最大.
最大電壓
tt=0.5sec
額定電壓
最小電壓t
頻率:
60Hz
6.4測試方法:
a.在基准動作狀態下(額定輸入電壓100%Load),測定輸出電壓值Vs.
b.計算電壓變動率:
c.計算之變動率,應在總和變動之規格範圍內.
7.HighTemperatureTest高溫測試:
7.1目的:
確認産品在高溫置放後,維持正常功能之特性.
7.2適用:
所有機種適用.
7.3測試條件:
a.溫度:
TH
70
Temp
(degC)25
functionalinspection
Time(hour)
012747576
TH:
産品規格所列之儲存溫度上限.
b.輸入電壓:
額定.
c.輸入頻率:
50Hz.
d.負載:
100%LOAD.
e.接線圖:
負載
待測物
INPUTSOURCE
示波器
恒溫槽
7.4測試方法:
a.産品置於恒溫槽內,依上述之條件進行測試.
b.溫度在達到預定之高溫TH前後一小時之前於常溫下,須先進行功能測試,確認産品之功能;測試後産品須無任何損傷.
8.LowTemperatureTest低溫測試:
8.1目的:
確認産品在低溫置放後,維持正常功能之特性.
8.2適用:
所有機種適用.
8.3測試條件:
a.溫度:
25
Temp
(degC)-40
TLfunctionalinspection
Time(hour)
012747576
b.負載:
100%LOAD.
c.輸入電壓:
額定.
d.頻率:
50Hz.
e.TL:
規格所列之儲存溫度下限.
f.接線圖:
負載
待測物
INPUTSOURCE
示波器
恒溫槽
8.4測試方法:
a.産品置於恒溫槽內,依上述之溫度設定及接線圖進行測試.
b.溫度到達預定之低溫,前後一小時前須進行功能測試,確認産品能正常動作;且無任何損傷.
9.Temperature/HumidityTest溫、濕度循環測試:
9.1目的:
確認産品對周圍溫、濕度之適應能力.
9.2適用:
所有機種適用.
9.3測試條件:
a.條件依下圖設定:
65
Temp℃40
25
90
80
Relative
Humiditv(%)50
15
Funciontest
Poweron
04630345860727478808284108
Time(hour)
b.負載:
100%LOAD.
c.輸入電壓:
額定.
d.頻率:
e.接線圖:
恒溫槽
9.4測試方法:
a.依上所列之測試條件及接線方式,執行測試.
b.測試結束後,待測物需功能正常,零件無損壞情形.
10.PLDtest(輸入瞬斷測試):
A.Anundervoltageof25%belowtheminimuminput
voltage,appliedfortwoseconds,repeated10times:
errorfree
witha10%dutycycle.
B.Anundervoltageof35%belowtheminimumnominal
inputvoltage,butnotlessthan68V,appliedfor30:
errorfree
cyclesoftheinputfrequency,repeated10timeswith
a10%dutycycle.
C.Anundervoltageof100%belowtheminimumnominalinput
voltage,appliedfor20milli-secondsrepeated10times:
errorfree
witha10%dutycycle.
D.Anovervoltageof20%abovethemaximumnominalinput
voltageappliedfortwoseconds,repeated10timeswith:
errorfree
a10%dutycycle.
E.Wheneitherofthefollowingwaveformsareappliedto
eitherpolaritypeakoftheinputvoltagewaveform.
Thewaveformsshallconsistof400Hz±50Hzor
800Hz±100Hzexponentiallydecayingsinusoidwitha
peakvoltageequaltothepeaknominallinevolage:
errorfree
anddecaytimeconstantsuchthatthefifthhalf-cycle
ofthedisturbanceisbetween15and25%ofthefirst
half-cycle.Thetotaldurationofthedisturbance
shallnotexceedonecycleofthelinevoltage.This
testshallberepeated320times(80positiverings
and80negativeringsat400Hz;80positiveringsand
80negativeringsat800Hz)athree(3)secondintervals.
F.Differentialmode(line-to-line)andcommonmode
(line-to-ground)voltagesurgeswithopencircuitvoltages
of2.5KVpeak±10%and2KVpeak±10%respectively.
Thesourceimpedanceofthesurgegeneratorshallbe:
errorfree
2ohm±20%.Thesurgewaveshallbedefinedin
ANSI/IEEEC62.41(1980)andIEC60-2(1973).three
positiveandthreenegativesurgesshallbeapplied
at0,90,180,and270degrees(24total).Thetime
intervalbetweensurgesshallbe18seconds.
G.A100nanosecondpulsewithanamplitudeof400
voltsshallbesuperimposedonthepeakofthe:
errorfree
nominalinputvoltageandrepeatedattheline
frequencyforthe(10)minutes.
H.Thepowersupplyshallsuffernophysicaldamage
underthefollowingdisurbancesinAClinevoltage.
Repeateachtestfivetimes,returningthepowersupply:
damagefree
toitsnormalrunningconditionsbetweentests.A
completelineoutageforanyduration.
I.Thepowersupplyshallsuffernophysicaldamage
underthefollowingdisturbancesinAClinevoltage.
Repeateachtestfivetimes,returningthepowersupply:
damagefree
toitsnormalrunningconditionsbetweentests.Aline
inputundervoltageof65%belowthenominalofany
durationof5secondsofless.
J.Thepowersupplyshallnotlatchupwiththefollowing
lineconditions:
80%undervoltagebelowthenominal:
errorfree
for60millisecondsorlonger.
K.Thepowersupplyshallnotlatchupwiththefollowing
lineconditions:
100%undervoltagebelowthenominal:
errorfree
for60millisecondsorlonger.
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- 可靠 度试测 规范