材料现代分析方法重点笔记.pdf
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材料现代分析方法(材料科学研究方法)期末复习材料现代分析方法期末复习第1页共9页材料现代分析方法重点笔记(简答题)材料现代分析方法重点笔记(简答题)材料现代分析方法重点笔记(简答题)材料现代分析方法重点笔记(简答题)1“一束一束一束一束XXXX射线照射一个原子列(一维晶体射线照射一个原子列(一维晶体射线照射一个原子列(一维晶体射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能,只有镜面反射方向上才有可能,只有镜面反射方向上才有可能,只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线产生衍射线产生衍射线产生衍射线”,此种说法是否正确?
,此种说法是否正确?
,此种说法是否正确?
,此种说法是否正确?
答:
不正确,因为一束X射线照射一个原子列上,原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线,只要符合光的干涉三个条件(光程差是波长的整数倍),不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。
镜面反射,其光程差为零,是特殊情况。
3333实验中选择实验中选择实验中选择实验中选择XXXX射线管以及滤波片的原则是什么射线管以及滤波片的原则是什么射线管以及滤波片的原则是什么射线管以及滤波片的原则是什么?
已知一个以已知一个以已知一个以已知一个以FeFeFeFe为主要成分为主要成分为主要成分为主要成分的样品的样品的样品的样品,试选择合适的试选择合适的试选择合适的试选择合适的XXXX射线管和合适的滤波片射线管和合适的滤波片射线管和合适的滤波片射线管和合适的滤波片。
答:
实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射,应当避免使用比样品中主元素的原子序数大26尤其是2的材料作靶材的X射线管。
选择滤波片的原则是X射线分析中,在X射线管与样品之间一个滤波片,以滤掉K线。
滤波片的材料依靶的材料而定。
一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。
以分析以铁为主的样品,应该选用Co或Fe靶的X射线管,同时选用Fe和Mn为滤波片。
4444试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途试述获取衍射花样的三种基本方法及其用途答:
获取衍射花样的三种基本方法是劳埃法、旋转晶体法和粉末法。
劳埃法主要用于分析晶体的对称性和进行晶体定向。
旋转晶体法主要用于研究晶体结构。
粉末法主要用于物相分析。
5555衍射线在空间的方位取决于什么?
而衍射线的强度又取决于什么?
衍射线在空间的方位取决于什么?
而衍射线的强度又取决于什么?
衍射线在空间的方位取决于什么?
而衍射线的强度又取决于什么?
衍射线在空间的方位取决于什么?
而衍射线的强度又取决于什么?
答:
衍射线束的方向由晶胞的形状、大小决定衍射线束的强度由晶胞中原子的位置和种类决定,衍射线束的形状大小与晶体的形状大小相关。
(衍射线在空间的方位主要取决于晶体的面网间距,或者晶胞的大小。
衍射线的强度主要取决于晶体中原子的种类和它们在晶胞中的相对位置。
)材料现代分析方法(材料科学研究方法)期末复习材料现代分析方法期末复习第2页共9页6666磁透镜的像差是怎样产生的磁透镜的像差是怎样产生的磁透镜的像差是怎样产生的磁透镜的像差是怎样产生的?
如何来消除和减少像差如何来消除和减少像差如何来消除和减少像差如何来消除和减少像差?
答:
像差分为球差,像散,色差.球差是磁透镜中心区和边沿区对电子的折射能力不同引起的.增大透镜的激磁电流可减小球差.像散是由于电磁透镜的周向磁场不非旋转对称引起的.可以通过引入一强度和方位都可以调节的矫正磁场来进行补偿.色差是电子波的波长或能量发生一定幅度的改变而造成的.稳定加速电压和透镜电流可减小色差.7777别从原理、衍射特点及应用方面比较别从原理、衍射特点及应用方面比较别从原理、衍射特点及应用方面比较别从原理、衍射特点及应用方面比较XXXX射线衍射和透射电镜中的电子衍射线衍射和透射电镜中的电子衍射线衍射和透射电镜中的电子衍射线衍射和透射电镜中的电子衍射在材料结构分析中的异同点。
射在材料结构分析中的异同点。
射在材料结构分析中的异同点。
射在材料结构分析中的异同点。
答:
原理:
X射线照射晶体,电子受迫振动产生相干散射;同一原子内各电子散射波相互干涉形成原子散射波;晶体内原子呈周期排列,因而各原子散射波间也存在固定的位相关系而产生干涉作用,在某些方向上发生相长干涉,即形成衍射。
特点:
1)电子波的波长比X射线短得多2)电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内3)电子衍射中略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射4)电子衍射束的强度较大,拍摄衍射花样时间短。
应用:
硬X射线适用于金属部件的无损探伤及金属物相分析,软X射线可用于非金属的分析。
透射电镜主要用于形貌分析和电子衍射分析(确定微区的晶体结构或晶体学性质)8888.什么是什么是什么是什么是波谱仪和能谱仪?
说明其工作的三种基本方式,并比较波谱仪和能谱波谱仪和能谱仪?
说明其工作的三种基本方式,并比较波谱仪和能谱波谱仪和能谱仪?
说明其工作的三种基本方式,并比较波谱仪和能谱波谱仪和能谱仪?
说明其工作的三种基本方式,并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。
仪的优缺点。
仪的优缺点。
仪的优缺点。
答:
波谱仪:
用来检测X射线的特征波长的仪器能谱仪:
用来检测X射线的特征能量的仪器优点:
1)能谱仪探测X射线的效率高。
在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数,在几分钟内可得到定性分析结果,而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。
2)结构简单,稳定性和重现性都很好3)不必聚焦,对样品表面无特殊要求,适于粗糙表面分析。
缺点:
1)分辨率低.能谱仪只能分析原子序数大于11的元素;而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。
3)能谱仪的Si(Li)探头必须保持在低温态,因此必须时时用液氮冷却。
9999电电电电子束入射固体样品表面会激发哪些信号子束入射固体样品表面会激发哪些信号子束入射固体样品表面会激发哪些信号子束入射固体样品表面会激发哪些信号?
它们有哪些特点和用途它们有哪些特点和用途它们有哪些特点和用途它们有哪些特点和用途?
答:
主要有六种:
1)背散射电子:
能量高;来自样品表面几百nm深度范围;其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。
2)二次电子:
能量较低;来自表层510nm深度范围;对样品表面化状态十分敏材料现代分析方法(材料科学研究方法)期末复习材料现代分析方法期末复习第3页共9页感。
不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。
3)吸收电子:
其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度互补。
吸收电子能产生原子序数衬度,即可用来进行定性的微区成分分析.4)透射电子:
透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析。
5)特征X射线:
用特征值进行成分分析,来自样品较深的区域6)俄歇电子:
各元素的俄歇电子能量值很低;来自样品表面12nm范围。
它适合做表面分析。
10.10.10.10.叙述叙述叙述叙述XXXX射线物相分析的基本原理,试比较衍射仪法与德拜法的优缺点?
射线物相分析的基本原理,试比较衍射仪法与德拜法的优缺点?
射线物相分析的基本原理,试比较衍射仪法与德拜法的优缺点?
射线物相分析的基本原理,试比较衍射仪法与德拜法的优缺点?
答:
X射线物相分析的基本原理是每一种结晶物质都有自己独特的晶体结构,即特定点阵类型、晶胞大小、原子的数目和原子在晶胞中的排列等。
因此,从布拉格公式和强度公式知道,当X射线通过晶体时,每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样,衍射花样的特征可以用各个反射晶面的晶面间距值d和反射线的强度I来表征。
其中晶面间距值d与晶胞的形状和大小有关,相对强度I则与质点的种类及其在晶胞中的位置有关。
通过与衍射分析标准数据比较鉴定物相。
(粉末照相法的优点是所需试样极少(1mg),设备简单,价格便宜;缺点是摄照时间长,准确度不高。
衍射仪速度快,衍射线强度测量精确,信息量大,精度高,分析简便,试样制备简单,但所需试样量大(0.5g),用平板状试样。
)与照相法相比,衍射仪法在一些方面具有明显不同的特点,也正好是它的优缺点。
(1)简便快速,此外,衍射仪还可以根据需要有选择地扫描某个小范围,可大大缩短扫描时间。
(2)分辨能力强(3)直接获得强度数据(4)低角度区的2测量范围大(5)样品用量大(6)设备较复杂,成本高。
显然,与照相法相比,衍射仪有较多的优点,突出的是简便快速和精确度高,而且随着电子计算机配合衍射仪自动处理结果的技术日益普及,这方面的优点将更为突出。
所以衍射仪技术目前已为国内外所广泛使用。
但是它并不能完全取代照相法。
特别是它所需样品的数量很少,这是一般的衍射仪法远不能及的。
11111111扫描电镜的分辨率受哪些因素影响扫描电镜的分辨率受哪些因素影响扫描电镜的分辨率受哪些因素影响扫描电镜的分辨率受哪些因素影响?
用不同的信号成像时,其分辨率有何用不同的信号成像时,其分辨率有何用不同的信号成像时,其分辨率有何用不同的信号成像时,其分辨率有何不同不同不同不同?
所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率?
答:
影响因素:
电子束束斑大小,检测信号类型,检测部位原子序数.SE和HE信号的分辨率最高,BE其次,X射线的最低.扫描电镜的分辨率是指用SE和HE信号成像时的分辨率.12.12.12.12.什么叫干涉面?
当波长为什么叫干涉面?
当波长为什么叫干涉面?
当波长为什么叫干涉面?
当波长为的的的的XXXX射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hklhklhklhkl)晶面衍射线的波程差是多少?
相邻两个晶面衍射线的波程差是多少?
相邻两个晶面衍射线的波程差是多少?
相邻两个晶面衍射线的波程差是多少?
相邻两个HKLHKLHKLHKL干涉面的波程差又是多少?
干涉面的波程差又是多少?
干涉面的波程差又是多少?
干涉面的波程差又是多少?
答:
晶面间距为d/n、干涉指数为nh、nk、nl的假想晶面称为干涉面。
当波材料现代分析方法(材料科学研究方法)期末复习材料现代分析方法期末复习第4页共9页长为的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是n,相邻两个(HKL)晶面的波程差是。
13什么是光电效应?
光电效应在材料分析中有哪些用途?
什么是光电效应?
光电效应在材料分析中有哪些用途?
什么是光电效应?
光电效应在材料分析中有哪些用途?
什么是光电效应?
光电效应在材料分析中有哪些用途?
答:
光电效应是指:
当用X射线轰击物质时,若X射线的能量大于物质原子对其内层电子的束缚力时,入射X射线光子的能量就会被吸收,从而导致其内层电子被激发,产生光电子。
材料分析中应用光电效应原理研制了光电子能谱仪和荧光光谱仪,对材料物质的元素组成等进行分析。
14141414二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?
答:
二次电子像:
1)凸出的尖棱,小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多,在荧光屏上这部分的亮度较大。
2)平面上的SE产额较小,亮度较低。
3)在深凹槽底部尽管能产生较多二次电子,使其不易被控制到,因此相应衬度也较暗。
背散射电子像:
1)用BE进行形貌分析时,其分辨率远比SE像低。
2)BE能量高,以直线轨迹逸出样品表面,对于背向检测器的样品表面,因检测器无法收集到BE而变成一片阴影,因此,其图象衬度很强,衬度太大会失去细节的层次,不利于分析。
因此,BE形貌分析效果远不及SE,故一般不用BE信号。
15151515原子散射因数的物理意义是什么?
某元素的原子散射因数与其原子序数有原子散射因数的物理意义是什么?
某元素的原子散射因数与其原子序数有原子散射因数的物理意义是什么?
某元素的原子散射因数与其原子序数有原子散射因数的物理意义是什么?
某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系?
何关系?
何关系?
何关系?
答:
原子散射因数f是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。
也称原子散射波振幅。
它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。
它反映了原子将X射线向某一个方向散射时的散射效率。
原子散射因数与其原子序数有何关系,Z越大,f越大。
因此,重原子对X射线散射的能力比轻原子要强。
16161616用单色用单色用单色用单色XXXX射线照射圆柱多晶体试样射线照射圆柱多晶体试样射线照射圆柱多晶体试样射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成什么图案?
为摄其衍射线在空间将形成什么图案?
为摄其衍射线在空间将形成什么图案?
为摄其衍射线在空间将形成什么图案?
为摄取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?
取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?
取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?
取德拜图相,应当采用什么样的底片去记录?
答:
用单色X射线照射圆柱多晶体试样,其衍射线在空间将形成一组锥心角不等的圆锥组成的图案。
为摄取德拜图相,应当采用带状的照相底片去记录。
11117777简要说明多晶(纳米晶体简要说明多晶(纳米晶体简要说明多晶(纳米晶体简要说明多晶(纳米晶体)、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。
、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。
、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。
、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。
答:
单晶花样是一个零层二维倒易截面,其倒易点规则排列,具有明显对称性,且处于二维网络的格点上。
因此表达花样对称性的基本单元为平行四边形。
单晶电子衍射花样就是(uvw)*0零层倒易截面的放大像。
多晶面的衍射花样为:
各衍射圆锥与垂直入射束方向的荧光屏或照相底片的相交线,为一系列同心圆环。
每一族衍射晶面对应的倒易点分布集合而成一半径为1/d材料现代分析方法(材料科学研究方法)期末复习材料现代分析方法期末复习第5页共9页的倒易球面,与Ewald球的相惯线为园环,因此,样品各晶粒hkl晶面族晶面的衍射线轨迹形成以入射电子束为轴、2为半锥角的衍射圆锥,不同晶面族衍射圆锥2不同,但各衍射圆锥共顶、共轴。
非晶的衍射花样为一个圆斑。
18181818什么是衍射衬度什么是衍射衬度什么是衍射衬度什么是衍射衬度?
画图说明衍衬成像原理,并说明什么是明场像、暗场画图说明衍衬成像原理,并说明什么是明场像、暗场画图说明衍衬成像原理,并说明什么是明场像、暗场画图说明衍衬成像原理,并说明什么是明场像、暗场像和中心暗场像。
像和中心暗场像。
像和中心暗场像。
像和中心暗场像。
答:
衍射衬度:
由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度。
明场成像:
只让中心透射束穿过物镜光栏形成的衍衬像称为明场镜。
暗场成像:
只让某一衍射束通过物镜光栏形成的衍衬像称为暗场像。
19191919当当当当XXXX射线在原子例上发射时,相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不射线在原子例上发射时,相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不射线在原子例上发射时,相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不射线在原子例上发射时,相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍,则此方向上必然不存在为波长的整数倍,则此方向上必然不存在为波长的整数倍,则此方向上必然不存在为波长的整数倍,则此方向上必然不存在反反反反射,为什么?
射,为什么?
射,为什么?
射,为什么?
答:
因为X射线在原子上发射的强度非常弱,需通过波程差为波长的整数倍而产生干涉加强后才可能有反射线存在,而干涉加强的条件之一必须存在波程差,且波程差需等于其波长的整数倍,不为波长的整数倍方向上必然不存在反射。
20202020某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来,其某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来,其某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来,其某一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来,其较高抑或较低?
相较高抑或较低?
相较高抑或较低?
相较高抑或较低?
相应的应的应的应的dddd较大还是较小?
较大还是较小?
较大还是较小?
较大还是较小?
答:
背射区线条与透射区线条比较较高,d较小。
产生衍射线必须符合布拉格方程2dsin=,对于背射区属于2高角度区,根据d=/2sin,越大d越小。
22221111试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度(公式与衍射强度(公式与衍射强度(公式与衍射强度(公式)、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。
、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。
、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。
、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。
答:
相同点:
入射X射线的光束:
都为单色的特征X射线,都有光栏调节光束。
不同:
衍射仪法:
采用一定发散度的入射线,且聚焦半径随2变化,德拜法:
通过进光管限制入射线的发散度。
试样形状:
衍射仪法为平板状,德拜法为细圆柱状。
试样吸收:
衍射仪法吸收时间短,德拜法吸收时间长,约为1020h。
记录方式:
衍射仪法采用计数率仪作图,与计算机连接可实现自动记录和衅谱处理,德拜法采用环带形底片成相,而且它们的强度(I)对
(2)的分布(I-2曲线)也不同,衍射仪图谱中强度或直接测量精度高,且可获得绝对强度;衍射装备:
衍射仪结构复杂成本高,德拜法结构简单造价低;应用:
衍射仪与计算机连接,通过许多软件可获得各种信息而得到广泛应用。
22222222试述布拉格公式试述布拉格公式试述布拉格公式试述布拉格公式2dHKLsin2dHKLsin2dHKLsin2dHKLsin=中各参数的含义,以及该公式有哪些应用中各参数的含义,以及该公式有哪些应用中各参数的含义,以及该公式有哪些应用中各参数的含义,以及该公式有哪些应用答:
dHKL表示HKL晶面的面网间距,角表示掠过角或布拉格角,即入射X射线或衍射线与面网间的夹角,表示入射X射线的波长。
该公式有二个方面用途:
(1)已知晶体的d值,通过测量,求特征X射线的,并通过判断产生特征X射线的元素。
这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。
(2)已知入射X射线的波长,通过测量,求晶面间距。
并通过晶面间距,材料现代分析方法(材料科学研究方法)期末复习材料现代分析方法期末复习第6页共9页测定晶体结构或进行物相分析。
22223333物相定量分析的原理是什么?
试述用物相定量分析的原理是什么?
试述用物相定量分析的原理是什么?
试述用物相定量分析的原理是什么?
试述用KKKK值法进行物相定量分析的过程。
值法进行物相定量分析的过程。
值法进行物相定量分析的过程。
值法进行物相定量分析的过程。
答:
X射线定量分析的任务是:
在定性分析的基础上,测定多相混合物中各相的含量。
定量分析的基本原理是物质的衍射强度与参与衍射的该物质的体积成正比K值法是内标法延伸。
从内标法我们知道,通过加入内标可消除基体效应的影响。
K值法同样要在样品中加入标准物质作为内标,人们经常也称之为清洗剂。
K值法不须作标准曲线得出而能求得K值。
24242424分析电子衍射与分析电子衍射与分析电子衍射与分析电子衍射与xxxx射线衍射有何异同射线衍射有何异同射线衍射有何异同射线衍射有何异同?
答:
电子衍射与X射线衍射相比具有下列特点:
(1)电子波的波长比X射线短得多,因此,在同样满足布拉格条件时,它的衍射角度很小,10-2rad,而X射线最大衍射角可达/2。
(2)电子衍射产生斑点大致分布在一个二维倒易截面内,晶体产生的衍射花样能比较直观地反映晶体内各晶面的位向。
因为电子波长短,用Ewald图解时,反射球半径很大,在衍射角很小时的范围内,反射球的球面可近似为平面。
(3)电子衍射用薄晶体样品,其倒易点沿样品厚度方向扩展为倒易杆,增加了倒易点和Ewald球相交截面机会,结果使略偏离布拉格条件的电子束也能发生衍射。
(4)电子衍射束的强度较大,拍摄衍射花样时间短。
因为原子对电子的散射能力远大于对X射线的散射能力。
25252525产生电子衍射的必要条件与充分条件是什么?
产生电子衍射的必要条件与充分条件是什么?
产生电子衍射的必要条件与充分条件是什么?
产生电子衍射的必要条件与充分条件是什么?
答:
产生电子衍射的充分条件是Fhkl0,产生电子衍射必要条件是满足或基本满足布拉格方程。
26.26.26.26.决定决定决定决定XXXX射线强度的关系式是射线强度的关系式是射线强度的关系式是射线强度的关系式是试说明式中各参数的物理意义试说明式中各参数的物理意义试说明式中各参数的物理意义试说明式中各参数的物理意义?
答:
X射线衍射强度的公式,试中各参数的含义是:
I0为入射X射线的强度;为入射X射线的波长R为试样到观测点之间的距离;V为被照射晶体的体积Vc为单位晶胞体积P为多重性因子,表示等晶面个数对衍射强度的影响因子;F为结构因子,反映晶体结构中原子位置、种类和个数对晶面的影响因子;A()为吸收因子,圆筒状试样的吸收因子与布拉格角、试样的线吸收系数和试样圆柱体的半径有关;材料现代分析方法(材料科学研究方法)期末复习材料现代分析方法期末复习第7页共9页平板状试样吸收因子与有关,而与角无关()为角因子,反映样品中参与衍射的晶粒大小,晶粒数目和衍射线位置对衍射强度的影响;e-2M为温度因=27272727影响红外光谱吸收峰位置的主要因素有哪些?
影响红外光谱吸收峰位置的主要因素有哪些?
影响红外光谱吸收峰位置的主要因素有哪些?
影响红外光谱吸收峰位置的主要因素有哪些?
答:
成键轨道类型,诱导效应,共轭效应,键应力,氢键,耦合效应,不同物态等。
28282828什么是衍射衬度什么是衍射衬度什么是衍射衬度什么是衍射衬度?
它与质厚衬度有什么区别它与质厚衬度有什么区别它与质厚衬度有什么区别它与质厚衬度有什么区别?
答:
由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度称为衍射衬度。
或是由样品各处满足布拉格条件程度的差异造成的。
对于晶体薄膜样品而言,厚度大致均匀,原子序数也无差别,因此,不可能利用质厚衬度来获得图象反差,这样,晶体薄膜样品成像是利用衍射衬度成像,简称“衍射衬度”非晶(复型)样品电子显微图像衬度是由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异而形成的,即质厚衬度,质厚衬度是建立在非晶样品中原子对电子的散射和透射电子显微镜小孔径成像的基础上的。
29292929试总结衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。
试总结衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。
试总结衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。
试总结衍射花样的背底来源,并提出一些防止和减少背底的措施。
答:
(1)靶材的选用影响背底;
(2)滤波片的作用影响到背底;(3)样品的制备对背底的影响。
措施:
(1)选靶,靶材产生的特征X射线(常用K射线)尽可能小地激发样品的荧光辐射,以降低衍射花样背底,使图像清晰。
(2)滤波,K系特征辐射包括K和K射线,因两者波长不同,将使样品的产生两套方位不同的衍射花样;选择滤波片材料,使k靶k滤kafc,K射线因激发滤波片的荧光辐射而被吸收。
(3)样品,样品晶粒为5m左右,长时间研究,制样时尽量轻压,可减少背底。
30.30.30.30.何谓系统消光?
系统消光现象的存在说明什么问题?
何谓系统消光?
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晶胞内原子位置不同或原子种类不同,将使某
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