SPC培训.pptx
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程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制介紹1程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd課程名稱:
SPC統計製程管制介紹訓練目的:
統計製程管制入門教學訓練對象:
工程、製造、品保、開發工程師以上課程時間:
六小時評鑑方式:
考核及實做報告2程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門SPC的焦點製程傳統的SQC中調的是強Quality,是指品的品產質。
換言之,而在SPC的想法上,則是希望將努力的方向更進一步的放在品質的源頭製程(Process)上。
因為製程的起伏變化才是造成品質變異(Variation)的主要根源,而品質變異的大小也才是決定品優劣的關鍵。
這種因果關係,可進一步產表示如下:
3程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門4程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門5程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門6FromS.P.KuanVoiceofProcessVoiceofCustomersSPCProcess/SystemManMachineMaterialMethodEnvironmentInpuCustomersCustomerNeedsInputProduct/Services程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門Parameter參數的種類ProcessVariables:
線上可直接控制之參數,例如溫度/度溼/壓力/速度/particle等等。
ProcessResponse:
需經量測且會影響品品質之參產數,例如藥液濃度/PH值/黏度等等。
ProductResponse:
在製品為/製成品所反應出來的特性,如膜厚/線寬/在製品不良率/製成品不良率等等。
7程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門1.機遇原因:
戴明博士稱之共同原因,係指在過程中為會影響全部機器、全部操作員及全部單位(部門)的因素。
也稱爲變異普通原因,或隨機原因(偶因)2.非機遇原因:
戴明博士稱之特殊原因,其局部性為為原因,即一台機器、一位操作員或一群操作員或部原料所造成的錯誤,大部人因素所造成的。
份份為為8UCLCLLCL機遇原因非機遇原因程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd9程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd10程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd11程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd12程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd13程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd14程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd15程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd16程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd17程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd製程管制的意義對製程加以管理使其達於穩定狀態,且合乎目標當製程的品質能力達於一定水準後,經濟為有效的維持,而實施製程管制有效轉動PDCA管理循環,以達品品質永產續穩定SPC統計製程管制入門18程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門所有製程參數,理論上都可能會對品品質造成影產響,但事實上我們都知道,每一製程參數對品的影產響程度一定不會相同。
因此,SPC首先要做的就是希望能找出孰輕孰重的因果關係,換言之我們希望能得到下列這張製程參數的柏拉圖:
19程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC管制圖SPC統計製程管制入門名詞釋義USL(UpperSpec.Limits):
規格上限LSL(LowerSpec.Limits):
規格下限UCL(UpperControlLimits):
管制上限CL(CentralLine):
中心線LCL(LowerControlLimits):
管制下限-238131812345678910111213141516USLUCLCLLCLLSL20程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門21程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門22程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd功能:
管制圖係極具功效的品質管制工具之一。
用以偵測品質變異行為的軌跡,以辨別其為機遇原因或非機遇原因。
例如欲了解某B/L成品重量控制是否維持良好的品質狀態,每批抽取5片B/L,將其平均數當成一觀測點,共計監控15組樣組,所描繪出的軌跡圖如下:
SPC統計製程管制入門超出管制界限,但在規格界限內,必有非機遇原因出現2349050051052053054055012345678910111213141516USL=540UCL=533CL=525LCL=517LSL=500程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門組成:
在趨勢圖上加上管制界限,即中心線、管制上限及管制下限,以增其分析能力,而管制圖係利用強統計學的抽樣理論及三個標準差準則,即可設定。
風險:
型I誤差及型II誤差。
種類:
計量值管制圖:
均數及全距管制圖、均數及標準差管制圖、個別及移值動全距管制圖等等。
計數值管制圖:
不良率管制圖、不良數管制圖、缺點數管制圖、單位缺點數管制圖等等每一類所。
24程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd25程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門計數值:
由計數而得的資料或將之轉換成百分率,例如不良數、由不良數轉換而成的不良率、缺點數、由缺點轉換而成的單位缺點數或百萬件缺點數,為一可分割之量值。
計量值:
實際量測品或過程品質特性所得的尺度量產,這類量測的量測不是而只是近似值真值值而已,例如長度、直徑、壓力、強度等,為連續不可分割之量值。
計數值與計量值26程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd27程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd28程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd29程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd30程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門計量值管制圖方法X管制圖R管制圖管制圖和未知,分別以和估計UCL=+A2CL=LCL=-A2UCL=D4CL=LCL=D3和未知,分別以和估計UCL=+A3CL=LCL=-A3UCL=B4CL=LCL=B331XXXXXXRRRRRRXXSSSSSS通用X管制圖UCL=X+3XCL=XLCL=X-3XR管制圖UCL=R+3RCL=RLCL=R-3R管制圖UCL=S+3SCL=SLCL=S-3S程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門應用步驟1.收集資料:
收集數據並描繪於管制圖上。
2.計算管制界限:
由收集的製程數據計算管制界限,設定管制圖。
3.解析及改善:
持續收集數據,計算製程能力,找出變異的特殊原因並改善製程系統。
4.繼續使用管制圖:
定期檢討管制界限並修正以配合時代變遷,使用新管制界限再持續監控。
32程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd範例八一品的重要品質特性產G,其規格為0.65+/-0.02,自現場抽取樣本大小n=10之樣組共25組,其每組之均數及全距如值下:
試求1.X管制上下限2.R管制上下限3.試繪出此25筆資料之管制圖分佈4.請問以上管制界限約多為少信賴水準?
33樣組XR樣組XR1415161718192021222324250.6340.6320.6420.6410.6420.6400.6420.6430.6440.6400.6440.6470.0110.0190.0190.0180.0200.0200.0100.0200.0170.0200.0100.013123456789101112130.6450.6440.6410.6450.6460.6460.6430.6440.6440.6440.6480.6420.6380.0100.0150.0130.0110.0120.0080.0200.0200.0170.0200.0200.0180.020合計16.0610.401程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdNA2D3D4d2A3B3B4C4m3A2E221.88-3.2671.1282.659-3.2670.7981.8802.66031.023-2.5751.6931.954-2.5680.8861.1871.77240.729-2.2822.0591.628-2.2660.9210.7951.45750.577-2.1142.3261.427-2.0890.9400.6911.29060.483-2.0042.5341.2870.0301.9700.9520.5481.18470.4190.0761.9242.7041.1820.1181.8820.9590.5091.10980.3730.1361.8642.8471.0990.1851.8150.9650.4331.05490.3370.1841.8162.9701.0320.2391.7610.9690.4121.010100.3080.2231.7773.0780.9750.2841.7160.9730.3620.975110.2850.2561.7443.1730.9270.3211.6790.9750.3500.945120.2660.2841.7173.2580.8860.3541.6450.9780.3160.921130.2490.3081.6933.3360.8500.3821.6180.9810.3070.899140.2350.3291.6723.4070.8170.4061.5940.9820.2810.880150.2230.3481.6533.4720.7890.4281.5720.9840.2750.864160.2120.3641.6373.5320.7630.4481.5520.9840.2550.849170.2030.3791.6223.5880.7390.4661.5340.9850.2510.936180.1940.3921.6083.6400.7180.4821.5180.9850.2340.824190.1870.4041.5973.6890.6980.4971.5030.9860.2320.813200.1800.4141.5853.7350.6800.5101.4900.9870.2180.80334程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門35和R管制圖均需配合X管制圖,用以管制生過程的變異程度產。
下列使用為R或管制圖的時機及差異性:
管制圖:
依據統計原理,真正代表製程品質變異的統計量應為標準差,但因其計算繁冗且意義不易人所了解故應用性較少;不為過當n很大時,樣組中的極會使值R偏大而高估製程變異程值度而導致誤差,因此當n超過10以上時宜採用管制圖。
近年來由於電腦普及化,更因標準差對過程品質變異的推定更為精確且在樣本很大或其大小不相等時,管制圖更好且更具彈性。
R管制圖:
因其計算簡易且易於理解之故,出乎意外的受到工業界的喜愛和歡迎。
當n小於或等於10時,可使用既R管制圖,亦可使用管制圖,若為方便計算,則以採用R管制圖為宜。
程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd36程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd37程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門38程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門39程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd40程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdABCD41程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd42程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd43程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd44程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd45)3LSLX,3XUSLmin(Cpk程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd46程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd47程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd48程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門管制圖之研判正常的管制圖,大多數的點集中在中心線之附近,向上下管制限分佈愈少,在接近管制界限之點最少,且點係隨機散佈的。
4951052053054012345678910111213141516UCLCLLCL程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門異常管制圖之判識乃是根據統計學的原理,去判定樣本統計量點的分佈是否合乎常態分配的特性,當發現樣本點的分佈不呈常態特性,或有點落在管制界限外時,即判定製程有非機遇之變異原因發生,宜尋找出原因之所在,並想辦法消除之。
下例係傳統判定異常管制圖的幾種類型:
1.有點逸出管制界限之外,即異常現象,則需追其原因:
逸出三倍標準差管制界限為查外,其機率只有0.27%5051052053054012345678910111213141516UCLCLLCL程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門2.點在中心線任何一方連續出現時:
連續5點注意以後的動態。
連續6點開始調其原因。
查連續7點必有非機遇原因發生,宜採取改正措施使其恢復管制狀態。
因統計量點出現在中心線任一方之機率為0.5,連續7點出現在同一方的機率只有0.78%,機會甚少,必有非機遇原因。
5151052053054012345678910111213141516UCLCLLCL程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門3.管制圖中各點連續朝同一方向上升或下降時:
連續5點宜加以注意。
連續6點開始檢。
查連續7點必有非機遇原因發生,宜採取改正措施若符合隨機性,其波動應呈上下穿波動現象,如有插七點以上朝同一方向升降時,其機率只有0.78%,故判斷必有非機遇原因發生。
5251052053054012345678910111213141516UCLCLLCL程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門4.連續14點一上一下猶如盪鞦韆般:
僅適用於X-bar管制圖,其機率只有0.0061%5351052053054012345678910111213141516UCLCLLCL程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門5.連續3點有2點在A區域或其外:
僅適用於X-bar管制圖,其機率只有0.59%54UCLCLLCL51553512345678910111213141516121332A(2.14%)B(13.59%)B(13.59%)C(34.14%)C(34.14%)A(2.14%)UCLCLLCL51553512345678910111213141516ABBCCA程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門6.連續5點有4點在B區域或其外:
僅適用於X-bar管制圖,其機率只有3.46%55UCLCLLCL51553512345678910111213141516ABBCCA程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門7.連續15點會落在C區內:
這要不是抽樣有問題,就是製程經改變,其變異數降低所致,其機率只有0.325%56UCLCLLCL51553512345678910111213141516ABBCCA程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC統計製程管制入門8.連續8點全落在C區外側,但就沒有點在C區內:
僅適用於X-bar管制圖,要不是管制太嚴,就是由兩組資料來源所形成的雙峰分配,其機率只有0.0103%57UCLCLLCL51553512345678910111213141516ABBCCA程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd製程能力指標58Cpk係製程能力的綜合指標,即結合前述的Ca及Cp指標Cpk=Cp(1-Ca)其判定基準如下:
判定等級Cpk值A1.67Cpk1.33Cpk1.671Cpk1.330.67Cpk1Cpk0.67程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd目前ROES要求1.3359程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd60程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd判斷生産過程是否處於統計控制過程判斷生産過程是否滿足質量要求CaCPK作控制用管制圖61程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdP(不良率)管制圖製作及解析
(一)P(不良率)管制圖導入前準備事項1.建立品質指標的衡量方式,以提供管理當局決策的依據:
部門別的不良率的定義,如日期別,製程別,品別產,批別及客戶別不良率大小的標準2.定義製程,以確定影響製程的因素3.決定管理的特性4.定義量測系統5.降低不必要的變異62程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd
(二)P(不良率)管制圖製作1.收集數據:
決定樣本大小n及抽樣間隔,樣本組數k.n約在50-200個之間,不宜太小不同組的樣本大小不一定相同每組樣本可識別日期,時間,作業員,機台,原材料或零件批足的樣本組數以保證製程的主要變異有機會出現夠25組以上的樣本數據已檢定製程的穩定及估計製程不良率63程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd2.記錄數據及計算各組不良率Pi及總不良率將數據記錄於空白的計數管制圖上值計算各組不良率Pi及總不良率ppi=di/nip=di/nini為第i個樣本容量di為其中的不合格品數64程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd3.計算管制界限UCLp=P+3P(1-P)niCLp=PLCLp=P-3P(1-P)ni當nminn/2nmax2*n其中其中n=ni/kk為樣本組數此時此時ni可用可用n代替代替65程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,Ltd4.繪制管制界線及描點a.決定管制圖之座標尺寸中心線置於座標之中心位置上.管制上下界線約縱座標之2/33/4位置上.決定一格的大小及縱座標之尺寸.b.依管制界線及各組Pi大小描繪於管制圖上中心線以實線描繪,管制界線以紅色虛線描繪.依各組之統計量大小描點於管制圖上.將各點以實線連接.66程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC管制點及管控方式管制點及管控方式67程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Suzhou)Co.,LtdSPC管理模式管理模式開立品質異常聯絡單追蹤登錄台帳管理結案必要時召開檢討會KeyIn人員教育訓練判讀日常作業OKNGOKNG工程師確認給責任單位屬實不屬實考核OKNG68借蹈虫珇钵盽羛管制圖程育课教训练-SPCRadiantOptoElectronics(Su
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