统计过程控制SPC.doc
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统计过程控制(SPC)案例分析
统计过程控制(SPC)案例分析
一.用途
1.分析判断生产过程的稳定性,生产过程处于统计控制状态。
2.及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异,预防不合格品产生。
3.查明生产设备和工艺装备的实际精度,以便作出正确的技术决定。
4.为评定产品质量提供依据。
二.控制图的基本格式1.标题部分
X-R控制图数据表
产品名称
工作指令编号
收集数
据期间
质量特性
车间
观察方法
规定日产量
设备编号
规格界限(或要求)
Tu
抽
样
间隔
操作
人员
Tl
数量
作业指导书编号
仪器编号
检验人员
生产过程
质量要求
日期
时间
样本号
测定值
均值
极差R
备注
X1
X2
X3
X4
X5
计算:
图:
CL=R图:
CL=
UCL=+UCL=
LCL=-LCL=
CL
LCL
UCL
样本号
2.控制图部分
质
量
特
性
在方格纸上作出控制图:
控制图
图
R图
说明
操作人
班组长
质量工程师
横坐标为样本序号,纵坐标为产品质量特性。
图上有三条平行线:
实线CL:
中心线
虚线UCL:
上控制界限线
LCL:
下控制界限线。
三.控制图的设计原理
1.正态性假设:
绝大多数质量特性值服从或近似服从正态分布。
2.3准则:
99。
73%。
3.小概率事件原理:
小概率事件一般是不会发生的。
4.反证法思想。
四.控制图的种类
1.按产品质量的特性分
(1)计量值()
(2)计数值(p,pn,u,c图)。
2.按控制图的用途分:
(1)分析用控制图;
(2)控制用控制图。
五.控制图的判断规则
1.分析用控制图:
规则1判稳准则-----绝大多数点子在控制界限线内(3种情况);
规则2判异准则-----排列无下述现象(8种情况)。
2.控制用控制图:
规则1每一个点子均落在控制界限内。
规则2控制界限内点子的排列无异常现象。
[案例1]p控制图
某半导体器件厂2月份某种产品的数据如下表
(2)(3)栏所表示,根据以往记录知,稳态下的平均不合格品率,作控制图对其进行控制.
数据与p图计算表
组号
(1)
样本量
(2)
不合格品数D(3)
不合格品率p(4)
P图的UCL(5)
1
85
2
0.024
0.102
2
83
5
0.060
0.103
3
63
1
0.016
0.112
4
60
3
0.050
0.114
5
90
2
0.022
0.100
6
80
1
0.013
0.104
7
97
3
0.031
0.098
8
91
1
0.011
0.100
9
94
2
0.021
0.099
10
85
1
0.012
0.102
11
55
0
0
0.117
12
92
1
0.011
0.099
13
94
0
0
0.099
14
95
3
0.032
0.098
15
81
0
0
0.103
16
82
7
0.085
0.103
17
75
3
0.040
0.106
18
57
1
0.018
0.116
19
91
6
0.066
0.100
20
67
2
0.030
0.110
21
86
3
0.035
0.101
22
99
8
0.080
0.097
23
76
1
0.013
0.105
34
93
8
0.086
0.099
25
72
5
0.069
0.107
26
97
9
0.093
0.098
27
99
10
0.100
0.097
28
76
2
0.026
0.105
小计
2315
90
[解]
步骤一:
预备数据的取得,如上边表所示.
步骤二:
计算样本不合格品率
步骤三:
计算p图的控制线
由于本例中各个样本大小不相等,所以必须对各个样本分别求出其控制界线.例如对第一个样本n1=85,有
UCL=0.102CL=0.0389LCL=-0.024
此处LCL为负值,取为零.作出它的SPC图形.
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