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原子光谱分析资料共享剖析
原子光谱分析
§1概论
§1-1光学分析法及其分类
广义地说,光学分析法是基于物质和电磁波(包括从γ射线到无线电波的整个电磁波谱)的相互作用,即光学分析法是基于测量物质所发射或吸收的电磁波的波长和强度的分析方法。
所有的光学分析法可以分为两大类:
1.光谱法:
测量的信号是物质内部能级跃迁所产生的发射、吸收或散射光谱的波长和强度。
2.非光谱法:
基于当电磁波和物质相互作用时,电磁波只改变了方向和物理性质,如:
折射、反射、散射、干涉、衍射和偏振等现象。
非光谱技术包括折射法、干涉法、旋光测定法,浊度法,X-射线衍射法等。
§1-2电磁波谱
实验证明,光是一种电磁波(或称电磁辐射),电磁波具有波动性和粒子性。
所有的电磁波在真空中的传播速度都等于3×1010cm/s,但在波长或频率上有差别,按照它们的波长或频率次序排列成谱,称为电磁波谱。
电磁波谱表
波长
800nm500μm
0.01nm10nm200nm400nm3μm25μm3cm
光谱区
γ射线
X射线
远
近
可见
近
中
远
无线电波
紫外
红外
微波
射频
量子跃迁类型
核能级跃迁
内层电子能级跃迁
原子和分子外层电子能级跃迁
分子振动能级跃迁
分子转动能级跃迁
核自旋能级跃迁
光学方法
γ射线光谱,穆氏堡尔光谱
X射线光谱法
紫外光谱法
比色法和可见分光光度法
红外分光光度法
微波谱顺磁共振光谱法
核磁共振光谱法
1.高能辐射:
包括γ射线和X射线,高能辐射的粒子性比较突出。
2.中间部分:
包括紫外区、可见区和红外区,统称为光学光谱区。
3.长波部分:
包括微波和射频,通常称为波谱。
§1-3光谱和光谱分析法的分类
电磁波和物质相互作用(即交换能量)的结果,可以产生发射、吸收和联合散射三种类型的光谱。
1.发射光谱
物质从能量较高的激发态M*过渡到能量较低的状态M,多余的能量以光的形式发射出来:
M*→M+hν
通过测量物质的发射光谱的波长和强度来进行定性和定量分析的方法叫做发射光谱分析法。
根据发射光谱所在的光谱区和激发方式的不同,发射光谱分析法有:
(1)γ射线光谱法
(2)荧光X射线光谱法
(3)原子发射光谱分析法
(4)原子荧光分析法
(5)分子荧光法
2.吸收光谱
入射的电磁波和物质中的电荷或磁矩相互作用,就产生吸收光谱。
M+hν→M*
要产生吸收光谱,入电磁波的能量hν应该正好等于原子核、原子或分子的两个能级跃迁的能量差值,即hν=E2-E1
利用物质的特征吸收光谱进行分析的方法叫做吸收光谱分析法。
根据所在的光谱区不同,吸收光谱分析法有:
(1)穆氏堡尔光谱法
(2)紫外和可见分光光度法
(3)原子吸收光谱法
(4)红外分光光度法
(5)顺磁共振光谱法
(6)核磁共振光谱法
3.联合散射光谱:
主要用于研究分子结构(和红外光谱相补充),也可对物质进行定量测定。
§2原子发射光谱分析
§2-1原理
原子在外界能量作用下,即能发射其特征光谱。
测量原子发射光谱强度来推断样品中待测元素含量的分析方法,就是原子发射光谱分析法。
§2-2激发光源
光源一般应该符合以下条件:
1.分析的绝对灵敏度高;
2.激发过程中,光源应有;良好的稳定性及再现性。
3.要求获得的光谱没有背景或背景小。
4.光源要有足够的亮度,曝光时间便可缩短,以加快分析速度。
§2-2-1常用的激发光源
目前常用的激发光源,按其特性分类可概括为:
1.热激发光源
(1)火焰:
常用的火焰温度在2000-3000K左右,视火焰的组成而改变。
用火焰作激发源的优点是设备简单,稳定性好,在测定谱线强度时可以读取瞬时强度,分析速度快。
但火焰温度低,只能激发有低激发能谱线的元素,因此能够分析的元素有限,而且容易产生化学干扰和背景干扰(带状光谱)。
(2)电弧:
无论是低压或常压下的自激放电,当电路中功率比较大,能提供较大电流时,称为电弧放电。
电弧放电分为直流电弧和交流电弧两种。
电弧放电有以下特点:
激发温度高,仅次于火花放电;蒸发能力强,检出限较低,因电极温度高,电弧不易低熔点的金属和合金试样;由于稳定性较差,故分析精度差。
(3)火花放电:
电极间部连续的气体放电叫火花放电,火花放电的电流是由周期性充电的电容供给。
火花放电分为高压火花、控制火花、高频火花和低压火花四种。
火花放电的特点是:
与电弧相比有比较大的稳定性,其分析精度好;对于高含量的试样,其含量变化的灵敏度一般比电弧高;电流密度大,激发温度高,能激发具有高激发电位的谱线;电极头不容易发热,可以分析低熔点的轻金属及合金。
但火花放电的检出限较差,不宜分析微量元素。
(4)直流等离子体(DCP):
直流等离子体实际上是一种气体压缩的大电流电弧放电,其形状类似火焰。
这种光源稳定性好,相对标准偏差可达2%以内,而且仪器设备费用简单,操作方便,也比较安全。
2.非局部热力学平衡光源
包括一些低压气体放电管光源、空心阴极光源、辉光光源、以及一些射频等离子体光源(通常是小功率的ICP、MIP、CMP)等。
3.光子碰撞光源:
主要是激光光源。
§2-2-2等离子体激发源
§2-2-3电感耦合射频等离子体(ICP)
§2-2-3-1原理
目前原子发射光谱分析仪中最常用的光源是ICP光源,它是利用高频感应电流产生的类似火焰的激发光源。
ICP的主体是一个直径约为25cm的石英管,放在一个连接于高频发生器的线圈里。
等离子体的形状和所用频率有关。
如果在低频(~50Hz)的条件下产生,则易形成泪滴,试样接近等离子体时,有环绕外表面的趋势,对分析不利/
如果等离子体是在高频的条件下产生,则由于高频电流的趋肤效应,使涡流集中在等离子体的外表面,形成一个稳定的环状结构,配合适当的载气流速,可使试样进入等离子体的中心通道,使试样更有效地被激发。
并且不因试样的引入而破坏等离子矩的稳定性。
§2-2-3-2装置
ICP分析系统由高频发生器、灯具和雾化器三部分组成。
1.高频功率发生器
高频功率发生器的作用是产生高频感应电流。
一般有两种:
(1)电子管高频发生器,工作频率为27.12MHz,振荡功率大于2.5KW。
缺点是振荡频率不稳定。
(2)石英晶体振荡器,利用石英晶体的压电效应,产生高频感应电流,固有频率是13.56MHz,倍频输出后是27.12MHz。
2.灯具
等离子体的灯具的主体是一个直径为18~25cm的石英管,放在高频发生器的感应线圈里。
整个灯具由三个同心石英管组成。
3.雾化器
试样的雾化可采用气动雾化器或超声雾化器。
试样喷成细雾后采用去溶剂或不去溶剂两种方式将气溶胶引入等离子炬。
§2-2-3-3特性
高频等离子体有以下特性
1.激发温度高,有利于难激发元素的激发,离子线强度大,有利于灵敏线为离子线的元素测定。
2.样品在中央通道受热而原子化,原子化温度高,原子在等离子体中停留的时间长,原子化完全,化学干扰小,谱线强度大,检出限低。
3.因激发和原子化温度高,基体效应小。
4.稳定性好,相对标准偏差±1~2%。
5.样品集中在中间通道,外围没有低温的吸收层,因此自吸和自蚀效应小,分析校正曲线范围大,可达4~6个数量级。
6.在惰性气氛中激发,光谱背景小。
§2-3光谱仪
§2-3-1概述
试样经过激发光源的激发,可以发射特征发射光谱,发射光谱分析就是利用测量特征发射光谱的波长和强度进行定性和定量分析的。
但是经过激发光源激发后产生的特征发射光谱是一种复合光,检测器无法检测复合光的波长和强度,因此必须把复合光分解为单色光。
§2-3-1-1光谱仪的种类
光谱仪的种类很多,根据其分光原理,常用的光谱仪可分为以下几类:
1.棱镜光谱仪
它的分光原理是利用棱镜介质对不同波长光线的折射率不同而分光。
按照制造棱镜的材质不同有玻璃、水晶、萤石、氯化钠和氯化钾等棱镜光谱仪。
2.光栅光谱仪
它是利用光的衍射和干涉现象来分光的。
常分为平面光栅光谱仪和凹面光栅光谱仪。
3.晶体X衍射光谱仪
对于波长较短的X射线,普通光栅不能起衍射作用,须用晶体做为衍射光栅,因为晶体内的原子是等间隔排列的,而且某些晶体内的原子间隔和X射线在一个数量级。
4.傅立叶干涉光谱仪
利用傅立叶展开,可将复杂的波表示为许多单色波之和。
傅立叶干涉光谱仪是利用迈克尔干涉仪完成干涉调频得到干涉图,作出此干涉图函数的反傅立叶余弦变换,就得到了光源的光谱分布。
根据光谱仪的色散率的大小可将光谱仪分为小型、中型和大型光谱仪。
根据检测光谱的方式,光谱仪可分为单色仪(在光谱焦面上装有出射狭逢,能得到各种波长的单色光的仪器)、摄谱仪(以照相法摄取光谱)和光电直读光谱仪。
§2-3-1-2光谱仪的基本结构
光谱仪的基本结构分为三个部分:
1.平行光管
2.色散元件(棱镜或光栅)
是光谱仪的主要部分,当平行复合光经过色散元件后,就被分解为按波长顺序排列的平行单色光。
3.暗箱
§2-3-1-2成像系统
成像系统在光谱仪中的作用是使发散光束变成平行光束,平行光束成为会聚光束并使物体在一定位置成像。
成像系统包括准直镜和成像物镜,它们由简单透镜或球面反射镜组成。
§2-3-2平面光栅及其装置
1.平面光栅光栅是一种多狭缝体系,光线通过光栅,就要产生干涉和衍射。
由物理光学得知,光栅光谱的产生是多狭缝干涉和单狭缝衍射二者联合作用的结果。
多狭缝干涉决定光谱线出现的位置,单缝衍射决定谱线的强度分布,单缝衍射的强度分布曲线成为干涉图样的色迹,使各级谱线有强度大小的分布。
2.平面闪耀光栅
我们把光栅常数很小,刻槽有一定形状的光栅称为闪耀光栅。
对于闪耀光栅来说,每一个具有一定宽度的槽面都有衍射,衍射图形的最大值与零级光谱不再重合,即光强最大值从零级光谱移到某一级光谱上去了。
3.闪耀角和闪耀波长:
刻槽面与光栅平面的夹角i称为光栅的闪耀角。
相应于闪耀角的第n级最强的波长λb(n)称为n级闪耀波长。
一般习惯把和闪耀角i相应的自准式一级闪耀波长作为光栅的闪耀波长,在说明书中给出。
4.平面闪耀光栅的装置
所谓光栅装置,是指将光栅、狭逢、成像系统和暗盒(或出射狭缝)装置成光栅光谱仪的型式。
(1)立特鲁型装置(自准式)用统一块凹球面反射镜既做准直镜,又做成像物镜。
(2)艾伯特-法斯提(Ebert-Fastic)型装置它是用一块大凹面反射镜的两部分分别作为准直镜和成像物镜。
有水平对称和垂直对称两种。
(3)却尼-特尔纳(Czcrny-Turner)型装置它用两块凹面反射镜代替了艾伯特型装置的一块大反射镜,而且狭缝在主光轴的左右并对称于主光轴,称为水平对称式。
§2-3-3其它光栅
1.凹面光栅:
如果光栅不是刻在平面上而是刻在反射镜上,就叫做凹面光栅。
2.中阶梯光栅
(1)阶梯光栅阶梯光栅是排列得像阶梯那样的光栅。
阶梯光栅可达到比普通光栅更高的分辨率,可研究光谱的精细结构或超精细结构,但由于阶梯光栅在制造上相当困难,所以直到现在还没有被广泛应用。
(2)中阶梯光栅(Echlles)介于阶梯光栅和普通平面闪耀光栅之间的一种刻线数较少的锯齿状光栅。
3.全息光栅:
用全息照相法制造的光栅,就是全息光栅,它是将两束相干光束所产生的干涉条纹用用全息照相法记录下来而制成的,因而消除了机刻光栅刻划所固有的缺点。
§2-3-4光栅的分辨率
光栅的分辨率定义为:
R=λ/dλ,dλ为按照瑞利准则刚刚能分辨开的两条谱线的波长差。
能分开的两条谱线的波长差越小则分辨率越大。
分辨率的计算公式为R=n×N,即光栅的分辨率等于光谱级次和总刻线数的乘积。
以上讨论的是理论分辨率,实际分辨率总是比理论分辨率计算的要小。
光栅的实际分辨能力是用一些波长靠得很近的谱线来衡量或计算出来。
§2-3-5光栅的色散率
1.角色散率:
定义为dθ/dλ=n/cosθ,式中dθ/dλ为衍射角对波长的变化率,称为光栅的角色散率,它在数值上等于波长差为一个单位的两光波经光栅色散后,在空间所分开的角度差。
2.线色散率;在实际工作中,我们经常用到的不是角色散率,而是波长相差为dλ的两条谱线在焦面上被分开的距离dl是多少。
dl/dλ成为光谱仪的线色散率。
dl/dλ在数值上等于波长差为一单位的两条谱线,在焦面上分开的距离。
dl/dλ的值越大,表示光栅光谱仪的色散能力越大。
(1)平面光栅光谱仪的线色散率:
dl/dλ=nf/dcosθ(n:
光谱级次;f:
焦距)
在实际工作中往往是用倒线色散率dλ/dl(nm)来表示仪器的色散能力,dλ/dl表示每单位长度的焦面内,含有光谱的纳米数,这个值越小,仪器的线色散率越大。
(2)凹面光栅光谱仪的线色散率:
dl/dλ=nR/dcosθ
§2-4谱线强度的测量
由光源发出的辐射,经过色散后得到的谱线要用检测器来测定其波长和强度。
在光谱分析中,检测器所接受到的每一条谱线的能量是很小的,因此对检测系统的要求是:
灵敏度高、噪音低、线性响应范围宽。
§2-4-1照相检测法
照相检测法是用照相的方法来记录待测试样的光谱,然后用投影仪和黑度仪对照相记录进行定性和定量解释。
与光电检测法比较,照相检测法有以下优点
1.相板可以同时记录许多不同波长的谱线,有利于多元素同时分析。
并可根据谱线干扰情况来选用不同的分析线,应用起来比较灵活。
2.照相乳剂可对谱线强度在一段时间内进行积分,可测得一段时间内的总辐射量或平均光强度,减少了分馏效应的影响。
3.照相乳剂在紫外、可见光区,特别是可见光区灵敏度很高。
4.照相检测法发射光谱仪价格低廉。
§2-4-2光电检测器
和照相检测法相比,光电检测器有以下优点:
1.光电检测器免去了处理感光板和测量谱线强度等操作手续,直接读出分析结果,使光谱分析速度更加提高。
2.光电转换和测量的误差比较小,精密度比较好。
3.线性范围宽。
§2-4-3固态检测器(Solid-stateIntegratingMultichannelPhoton-detectors)。
与光电倍增管不同的是,光电倍增管读出的是电流信号,而固态检测器是属于电荷转移检测器,是一定强度的光照射到某个检测单元(DetecorElement)上后,产生一定量的电荷,并且储存在检测单元内,然后采用电荷移出的方式将其读出。
固态检测器是由金属-氧化物半导体经过特殊加工制成,用于储存由于光子照射而产生的电荷。
§2-4-4数据处理系统
目前光谱仪的数据处理系统采用计算机,通过接口卡将检测器采集到的信号转换成用户需要的形式,并且计算机还起着控制仪器作用。
§2-5光谱定量分析
§2-5-1光谱定量分析基本关系式
元素谱线强度是该元素含量的函数,若设I为某分析元素的谱线强度,C为该元素的含量,实验证明,在大多数情况下,I为C的函数。
即:
I=aCb
或logI=loga+blogC
这就是光谱定量分析的基本关系式。
式中a、b在一定条件下为常数。
§2-5-2定量分析方法
根据定量分析基本关系式,在光谱分析中常用的定量分析方法有:
1.标准试样法:
配制一系列的标准试样,测定它们的强度,绘制工作曲线。
在同样的条件下,对待测样品的发射谱线进行测定,根据工作曲线计算出元素的含量。
2.标准加入法:
当测定低浓度时,往往不易找到不含被测元素的物质作为配制标样的基体,在这种情况下可采用标准加入法来测定试样中的微量元素。
§2-5-3光谱干扰及其扣除
光谱干扰分为背景干扰和谱线重叠两种。
1.背景干扰的来源及其扣除
在线状光谱上常常叠加者着由连续辐射形成的光谱背景,产生干扰,影响测定的准确度。
背景辐射的来源。
主要有以下几个方面:
(1)电子-离子复合辐射
(2)轫致辐射
(3)分子的辐射
(4)杂散光杂散光是到达检测器的,在待测波长位置处的非待测波长,它是由光谱仪的缺陷引起。
另一类杂散光是由仪器内部的光学器件的表面对强发射线的反射所引起。
2.谱线重叠干扰
谱线重叠干扰是由于多谱线(过渡元素、镧系锕系元素)和仪器的色散不足所造成的。
在分析中,必须对谱线重叠干扰进行校正,校正的方法是预先测定干扰系数。
§2-5-4光谱定量分析的精确度和准确度
1.光谱定量分析的精确度
精确度是指同一试样多次测定的结果互相符合的程度。
多次测定的结果不能互相符合是由于随机误差的影响,所以用随机误差的大小来表示精确度。
一个随机误差的大小通常用标准偏差或波动系数(即相对标准偏差)来表示。
2.光谱定量分析的准确度
准确度是指测定值l(应为多次测定的平均值)与真实值L相符合的程度,分析方法的准确度用绝对误差εa和εR;来表示:
εa=l–LεR=(l–L)/L×100%
多次测定的平均值l与真实值L不符合是由系统误差引起。
在光谱分析中系统误差引起校正曲线平移。
这时,每次测定结果和真实值比较都系统偏高或偏低。
任何分析方法,可以允许有一定随机误差存在,但不允许有系统误差存在,如有系统误差,应找出原因并消除。
§2-5-5光谱定量分析的灵敏度和检出限
1.光谱定量分析的灵敏度
根据国际理论与应用化学协会的规定,灵敏度s的定义是分析校正曲线的斜率,即分析校正函数I=g(C)中的dI/dC。
dI/dC越大,即一个很小的浓度变化所引起的测量值的变化越大,那么这个方法的灵敏度越高。
2.光谱定量分析的检出限和测定下限
检出限的定义是:
待测元素灵敏线附近背景波动的标准偏差的3倍所对应的该元素的浓度。
(通常用空白溶液或接近空白溶液进行n次测定)
检出限是可以检出的最低浓度,但这精度很差(RSD很大),所以往往以6-10倍的背景波动的标准偏差作为测定下限,这时测定能保证一定的精度。
§2-5-6标准试样的制备
§3原子吸收光谱分析
在热的气体介质中,如火焰中,气态原子能够吸收特征辐射波长使电子从基态跃迁至较高激发态,产生吸收光谱。
§3-1原理、特点、分析概况
1.原理:
测量自由原子对其特征光谱的吸收程度,来推断样品中待测元素含量的方法,称为原子吸收光谱法。
2.特点:
灵敏度高;干扰小;分析速度快;精密度高;仪器结构简单、用途广、容易组装;在通常情况下,分析一个元素,就要用该元素的空心阴极灯作为光源。
3.分析概况
§3-2原子吸收光谱基础
假定频率为ν,强度为I0的平行光束入射在l厘米长的原子蒸气,则被气态原子吸收后的透射光强为Iν,定义吸光度A为:
A=logI0/Iν
对于给定的原子化器,对某一共振吸收线,在给定的实验条件下,吸光度正比于试样中元素浓度c,即A=Kc,这就是原子吸收光谱分析的基本关系式。
§3-3仪器
原子吸收分光光度计由光源、原子化装置、分光系统和检测系统四部分组成。
§3-3-1光源
光源的作用是发射待测元素的特征谱线(一般是共振线)。
原子吸收中的光源应具备以下特点:
谱线窄(光源发射线窄,即谱线的半宽度窄,有利于提高分析灵敏度和改善标准曲线的线性关系)、谱线强度大,背景小(有利于提高信噪比,改善检出限)、谱线强度稳定、结构牢靠,寿命长。
空心阴极灯、无极放电灯、蒸气放电灯都具备上述特点,都适用与原子吸收,但空心阴极灯目前是应用最广泛的光源。
1.空心阴极灯
2.无极放电灯
§3-3-1原子化装置
原子吸收光谱的本质是基态自由原子对光的吸收。
原子化装置的作用是使试样离解出基态自由原子。
1.火焰原子化装置
火焰原子化装置包括喷雾器、雾化室和燃烧器。
(1)喷雾器是火焰原子化装置的核心部件,应当具有雾化效率高、雾滴细、喷雾稳定。
(2)雾化室是为了进一步细化雾滴得到一个平稳的火焰,在喷雾器和燃烧器之间装置一个雾化室。
(3)燃烧器的用途是通过火焰的作用使试样原子化,一个性能良好的燃烧器,应达到原子化程度高,噪音小、火焰稳定、“记忆效应小”、不易回火的效果,以保证有较高的灵敏度和测量精密度。
(4)原子吸收光谱分析测定的是基态原子,它所要求的火焰温度与测定激发态原子的发射法有所不同。
火焰分为贫燃性火焰(氧化性强)、化学计量焰和富燃性(还原性强)火焰。
目前使用最多的是空气―乙炔火焰,能测定三十多种元素。
氧化亚氮―乙炔火焰由于温度高,可达2900˚C,使许多离解能较高的难熔元素氧化物原子化,所以氧化亚氮―乙炔火焰扩大了火焰原子吸收分析的应用范围,使分析的元素从30多种增加到70多种。
其它还有空气―氢火焰和氩―氢火焰。
2.试样导入火焰的方法
在火焰原子吸收分析中。
将试液喷入火焰进行原子化的方法,是目前普遍采用的引入试样的方法,这种方法一般适用于液体试样。
此外还有一些特殊方法可将试样导入火焰进行原子化:
样品舟法、悬浮液喷雾法、粉末试样导入法。
§3-3-3光学系统
1.单色器
通常利用单色器将待测元素的共振线与其邻近线分开。
单色器是原子吸收光谱仪的核心部件,它应当具备亮度大,分辨率(或色散率)高,波长范围宽等特点。
(1)色散率:
单色器的色散元件可用棱镜或光栅,目前商用原子吸收仪大多采用光栅作为色散元件。
原子吸收光谱仪所用的光栅,每毫米有600-2880条刻线,大多为一千多条。
(2)分辨率:
单色器的分辨率和光强度取决于狭缝宽度。
(3)通带:
通带指光线通过出射狭缝的谱带宽度。
它由单色器的狭缝宽度和色散率决定。
对于光栅单色器,其通带可用下式表示:
W=DS
W是单色器通带(nm)D是倒线色散率(nm/mm)S是狭缝宽度(mm)实际上,往往是通过实验来选择适宜的通带(即狭缝)
2.外光路系统
原子吸收的分光光度计的外光路系统,是保证光束能正确地通过原子蒸气并投射到单色器的狭逢上,而且光亮损失小,同时没有被原子蒸气吸收的光线不通过或尽可能少地通过单色器狭缝。
§3-3-4检测系统
原子吸收分光光度计的检测系统一般包括检测器、放大器和读数装置。
因为测量的光线很微弱,所以常用灵敏度很高的光电倍增管作为检测器,但现在商用仪器也有使用固态检测器的。
§3-3-5原子吸收分光光度计
按光学系统分类,目前原子吸收分光光度计可分为单光束型、双光束型和双通道型三种,实际应用的主要是前两种类型。
1.单光束型:
一般简易的原子吸收分光光度计基本上都是单光束型。
它由空心阴极灯、反射镜、原子化器、光栅和光电倍增管组成。
2.双光束型:
用一旋转镜把来自空心阴极灯的光束分为两束。
其中一束通过火焰作为测量光束,另一束从火焰旁通过作为参比光束,然后用切光器把两个光束合并,交替进入单色器,到达检测器。
§3-4原子吸收光谱分析操作技术
§3-4-1仪器的安装和调试
§3-4-2主要技术指标的测试
§3-4-2-1波长精度的测试
§3-4-2-2分辨率测试
§3-4-2-3零吸收稳定度
亦称基线稳定度,是仪器的重要技术指标,它反映仪器整机工作性能的稳定性。
§3-4-2-4灵敏度
(1)定义:
原子吸收光谱分析的灵敏度,惯用1%吸收灵敏度来表示。
其定义为在给定的实验条件下,某元素的水溶液能产生1%吸收(或吸光度为0.0044)的浓度。
通常用μg/ml/1%表示。
可用下式计算:
S=C•0.0044/A(μg/ml/1%)
S为灵敏度C为测试溶液的浓度A为测试溶液的吸光度
用非火焰法(如高温石墨炉法等)测定中,常用绝对灵敏度表示。
其定义为在给定的实验条件下,,某元素能产生1%吸收时的质量。
以g/1%表示。
其计算公式为
S=C•V•0
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