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    X系列ICPMS初级操作Word下载.docx

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    X系列ICPMS初级操作Word下载.docx

    1、固体样品0.01%液体样品1ppm(最好100ppb)2) 确定样品分解方法(溶样方法)尽量不用H2SO4和H3PO4如果用HF酸的话,一定要赶尽尽可能用HNO3或H2O2分解样品3) 配制工作曲线(混标)浓度之间相差510倍一般用23点标准中包含内标.两个常见错误: a).所有分析元素的浓度都一致, 这样省事, 但不科学, 应该根据不同元素的浓度范围, 制定其相应的标准溶液浓度。 b).标准曲线点与点之间相隔太近, 如2, 4, 6, 8,完全没有必要。4) 样品准备:稀释到合适的倍数(计数一般小于5,000,000Cps).样品必须消解彻底,不能有混浊, 否则必须先用滤纸过滤, 但不要抽滤

    2、样品的固体物含量0.1%样品当中包含内标3、 编辑分析方法1) 分析软件(Plasma Lab)主窗口内容简介:1仪器的三种状态:Shutdown 完全关机状态(机械泵、分子泵全关)On OffVacuumn Ready 真空系统启动Operate 完全操作状态(分析状态)2仪器软件上方显示的重要参数 Neb: 雾化气压力(工作状态时1.52.5bar) Fwd: ICP正向功率(工作时一般为1200-1300W) Ref: 反射功率(工作时一般10W) 炬箱的调谐参数:Load和 Tune: 不能是0或255,否则有问题 真空:EXP:两个锥之间的真空。工作状态时约为2.00.2mba An

    3、a:分析室真空,预热时610-7mba 工作时一般Plasma Lab软件的三个模块Instrument仪器控制 参数设置 最佳化调节Technician: 仪器的后台监视与错误报警Experiment: 编制分析方法2)编辑分析方法:单击ExperimentCreat a New Blank Experiment Continuous OK Default Open Set UpConfiguration Editor忽略, 在一般操作中, 我们不需要选择。3 Set UpTimings 设置最大样品提升时间, uptake: Maximum Delay(s) (3050s)4 Set Up

    4、Analyte 选择分析元素(包括内标元素)5 Set UpAcquisition Parameters(数据采集条件)一般选择Main Peak Jump Channels=3 改变Sweeps使采集时间在合适的范围内, 一般Acquisition Time=1060秒6 Set UpInternal Standards 先定内标 Technique选定内标元素7 Set UpIsitope Ratio忽略8 Instrument Calibrations忽略9 Calibrations MethodMethodFully Quant10 QC Setup忽略, 在基本操作中不介绍。11 S

    5、ample listSample list 增加一个样品12 Sample listFully Quantitare Concentrations 设置标准点的浓度13 单击左上角的FilesSave As选定文件名和子目录Save 方法编制完毕。4、 点火进入Operate状态 检查Ar 气是否足够,标准和样品是否备好 打开水循环开关,观察压力和温度是否正常 装好蠕动泵管,压下泵管夹 确认排风工作正常 把进样毛细管插入纯水中 单击ONYES,此时仪器将自动进入Operate状态5、 调节仪器最佳化 将进样毛细管放入1ppbTuneSolution 单击InstrumentTune 检查炬箱的

    6、三个参数: MajorSampling Depth 采样浓度 检查Global下面的检测器电压Analogue Detector: 1800V-2500VPCDetector:30004500V 调节TuneMinor下的炬箱位置,使显示的信号最大,一般用(Co59,In115和U238来看) 调节TuneMinor下的Nebulizer使信号最强,RSD最小 可以检查其它离子镜是否在最佳位置,然后Save条件。6、 仪器的Calibration:Mass CalibrationDetector Cross CalibrationDetector Pleteau Calibration 做Ma

    7、ss Calibrationa. 将进样毛细管放入1ppb Tune Solution 中,调节最佳化。b. 单击Experiment Open An Exiting ExperimentOK选择Instrument Calibration子目录选择Mass CalibrationOpenc. 单击Sample ListSample Listd. 增加一个样品(注意样品类型为Instrument Setup)e. 单击样品最左边方框使其变黑单击样品表上方的Show Advanced单击样品表下方的Instrument Calibration 在Mass Calibration前的方框内打一般选

    8、择Update Mass Calibrationf. 单击Queue键AppendOK开始进行质量标准g. 待其完成后,单击OK,如果样品变为黄色,则成功. 做Detector Cross Calibrationa. 确认仪器已处于最佳化b. 将进样毛细管放入2030ppb Tune Solution 中c. 单击ExperimentOpen an Exiting ExperimentOKInstrument Calibration子目录Mass CalibrationOpend. 单击Sample ListSample liste. 增加一个样品,单击左边使其变黑f. Show Advanc

    9、edInstrument CalibrationDetector Calibrationg. 单击QueueAppendOK即开始进行7、 样品分析 打开已经准备好的分析的方法 单击QueueAppendOK 然后按照提示将进样毛细管放入相应瓶中,单击Continue进行测定8、 熄火并返回Vacuum状态 确认所有样品已分析完成 单击OffYES 松开蠕动泵管夹 冷却约5min后,关闭循环水 关闭电脑9、 完全关机 确认短时间内没有样品, 一般每周测定一次以上请不要关机。 单击OffYES, 此时仪器会关闭机械泵和分子泵, 等侯30分钟以上. 关闭电脑. 取下仪器主机的盖子, 从由向左依此关

    10、闭仪器左下方的三个电源开关. 关闭排风开关. 关闭稳压电源开关. 关闭配电盘开关.仪器的其他操作主要包括: 碰撞室技术, XI接口, 冷等离子体屏蔽技术, 热等离子体屏蔽技术, 有机进样技术, 色谱联用技术, 激光进样, 膜去溶进样等. 这些技术的逐渐使用, 极大的拓宽了ICP-MS的应用范围, 这些使用都要以日常操作部分为基础, 最大的不同只是在调节仪器最佳化上, 编辑分析方法, 分析样品和各种校正都是基本相同的, 由于时间原因, 本次我们只介绍CCT的操作步骤.1. 碰撞室技术(CCT) CCT技术的主要作用是减少多原子离子的干扰, 其原理在仪器结构部分已经介绍, 通过不同种类气体的引入,

    11、 能够使质量数80以下(包括80)的多原子离子的干扰程度得到极大的降低, 从而提高灵敏度和准确性, 具体的操作步骤如下(以7%氢+93%氦混合气为例). 打开He气钢瓶(要求纯度99.999%的)调气压至0.1MPa. 在InstrumentConfigurations中选择标准模式,调出一组参数. 按正常模式点燃等离子体,进入Operate状态. 将进样毛细管插入1ppb调节液中, 检查标准条件下的信号情况, 如灵敏度, RSD等. 在InstrumentTuneAdd Gas中打开CCT1的气体,调流量至7ml/min,等待约10min. 将进样毛细管插入1ppb In溶液中. 在Inst

    12、rumentConfigurations选择CCTCh1,然后在下面的选框内打的位置重新打. 调节碰撞气流量和仪器参数,使在纯水中Ar(80)的计数小于200,同时In的灵敏度大于20000/ppb. 编辑分析方法,选择数据库为Default CCT. 分析样品. 在Tune 中取消80和56等严重干扰的质量数. 返回标准模式. 熄火问题一:点火时显示RF错误原因1:点火时氩气压力降低,检查氩气气路,在打开冷却气时压力是否下降,将钢瓶阀门开到最大。原因2:炬箱位置处于0位,往往在完全关机又重新开机时出现,此时调一组以前存储的参数即可。问题二:点火时显示水流太低 原因1:水循环未打开(检查压力,

    13、温度)。 原因2:等离子体门没关好。 原因3:电源中J19接触不良。问题三:不点火匹配箱调谐位置(Load 和Tune)在0和255。分析室真空为1E10-8。问题四:无信号检测器高压为0(往往在完全关机又重新开机时出现),设置高压后即可正常。分析室真空为不够。问题五:在空调压缩机启动关闭时,重质量RSD较差,轻质量正常仪器室湿度不稳定,用大于50L/天的除湿机可以解决。问题六:突然停电后重新开机,真空系统直接启动,但无真空显示仪器自动记录关机时的状态,此时需要先用OFF 关掉真空,过20分钟后重新点击ON即可。四. 日常维护1. 每次点火前检查蠕动泵泵管, 看是否有损伤和过度磨损。2. 定期

    14、检查锥, 看是否需要清洗。3. 检查雾化器, 看是否被堵。4. 定期检查炬管, 主要是中心管, 以确保无损坏。5. 每半年检查更换一次机械泵泵油。6. 定期清洗两个空气过滤网。7. 定期检查排风风量, 以确保风力充足。8. 定期检查地线, 以确保小于4欧母。9. 定期检测零线与火线之间的电压, 确定在点火状态下小于交流5伏。X-系列ICP-MS中级操作在了解初级操作的前提下, 通过完成中级操作中的各个试验, 进一步了解仪器的软件功能, 熟悉常用的各类干扰校正方法的原理和应用。实验A: 在没有干扰校准下测得分析数据实验B: 用理论方法手动进行校准计算实验C: 通过PLASMALAB用理论方法进行

    15、校准实验D: 通过PLASMALAB用间接经验公式进行校准实验E: 通过PLASMALAB用直接经验公式进行校准在这些实验里, 我们将使用不同的方式来进行干扰校正, 在实验A, 我们将使用理论方法进行校准, 但是我们仍然要监视Cl和ClO的信号, 以便后来的实验能够进行经验校准,所有测定的数据都是采用Xi接口。 步骤1:编辑分析数据库(Analyte Database) 步骤2:内标元素 步骤3:选择分析元素和数据采集条件(Acq. Parameters) 步骤4:设置校准方法 步骤5:建立样品清单 步骤6:输入标准溶液浓度 步骤7:采集实验数据并观察结果 步骤8:内标元素校准需要准备的溶液:

    16、1. 内标元素: 50ppb的Sc 或20ppb的In。2. 准备标准溶液:a). 2%硝酸的空白b). 250 ppb的V标准(2%硝酸介质) 3. 准备三个样品溶液:a). 空白溶液包含1000 ppm的Clb). 样品溶液包含1000 ppm的Cl和20 ppb的Vc). 样品溶液包含1000 ppm的Na和25 ppb的V步骤1: 在第一次做环境实验研究时,我们需要编辑分析数据库(Analyte Database)1. 在软件主窗口下,单击File, Open然后选择Analyte Database,选择Default Database. 2. 我们需要定义一些新的多原子成分,以便在这

    17、个实验中能够观察到ClO, 单击左边的Polyatomics然后在元素周期表中单击Cl和O,再单击OK. 选择质量数53作为Cl的缺省设定。 保存并关闭Analyte Database3. 另外一个需要改变的是在周期表的上方的扫描和跳过区间,通过改变每一段跳过的范围使Cl35和37包含在扫描区间内.? 红色的区域是跳过的部分,绿色部分是扫描部分.步骤2: 加入内标元素(Internal Standard) 内标元素的加入有两种方式: a): 在线加入法, 通过一个微型三通和两根泵管,在进样的同时与内标溶液混合. b): 在配制样品和标准的同时把内标加入到相应的容容量瓶中,注意空白也要加内标。

    18、本次实验选择Sc为内标。步骤3: 选择分析元素和数据采集条件(Acquisition Parameters)1. 建立一个新的空白的分析方法(Experiment),注意使用我们新建立的分析数据库, 在Setup页面下选择Analytes和Acquisition Parameters, 如下图所示, 我们选择Cr52来测定Cr, 然后在多组分清单(Polyatomics List)中选择质量数53来观察ClO的干扰, 选择V, Cr, 和Cl为分析元素, Sc为内标。2. 选择数据采集条件(Acquisition Parameters), 如下图所示, 由于我们已经编辑过扫描和跳过的区间,因而

    19、我们可以在Survey scan中观察到ClO在质量数53处的干扰。步骤4: 设置校准方法(Calibration Method)1. 在Calibration Method中, 我们只定义V为全定量校准(Fully Quant Calibration), 后面我们将定义Sc作为内标元素, 分析元素Cr和Cl的测定只是用来确定干扰的计算。步骤5: 建立样品清单(Sample List) 在这个实验中, 我们要用一个空白和一个250 ppb的标液来建立一个V的两点校准方法, 然后分析1000 ppm Cl但不包含其他元素的溶液, 这将显示ClO的干扰程度, 然后分析一个含有25 ppb V和10

    20、00 ppm Cl的样品和一个25 ppb V和1000 ppm Na的样品, 用以观察ClO的干扰和物理干扰。步骤6: 输入全定量浓度设置V的标准浓度为250 ppb。步骤7: 测试样品并观察结果1. 按正常顺序点火,调节仪器最佳化,然后测定此方法中的所有样品和标准, 然后我们可以观察谱图和数字结果, 为了确定1000 ppm Cl中的ClO干扰, 我们在谱图结果中打开硝酸空白和1000 ppm的Cl空白, 并把两个样品的谱图叠在一起, 此时我们可以观察到在51和53处的ClO干扰。 可以看到, 黑色的是2%HNO3, 红色的是1000 ppm Cl, 可以看到在51处, ClO干扰V的测定

    21、, 在53处干扰Cr的测定, 但是Cr还有一个52的同位素可以用来分析。2. 观察数据结果中的浓度浓度, 前两个样品是空白和V标准, 他们的回读结果是准确的, 因为我们只用了两个点来校准。 含有1000 ppm的Cl的样品给出了正的V的结果, 那是由于ClO在51处的干扰造成的, 在这个例子里我们先不采用任何干扰校正方法。 可以看到, 250 ppb的V的回读浓度是250 ppb, 1000 ppm Cl的空白的读数是15 ppb, 很显然这由于ClO的干扰造成的, 20 ppb加1000 ppm Cl的读数是36 ppb, 误差非常大, 在含有1000 ppm Na的V标准溶液里, 25 p

    22、pb所测得的结果是21 ppb, 这并不是Na的干扰造成的, 而是由于大量的Na存在对V产生了抑制效应, 因而使结果偏低, 这种影响可以通过内标来进行校准。步骤8: 使用内标校准(Internal Standard Correction)1. 回到方法的Setup 页面, 在Internal Standard页面下选择Sc为内标元素。2. 在Results页面, 选择Numerical Results, 然后刷新结果(Refresh), 此时看到的结果是用内标进行漂移和抑制校正以后的结果。内标元素的结果显示为黄色, 从结果可以看到, 1000 ppm的Cl不会产生抑制, 因为内标元素的回收接近

    23、100%(相对于第一个测定的溶液), 然而, 1000 ppm的Na确产生了抑制效益, 内标的回收只有74%。 将结果转入到Excel中 校准基体抑制效应(Suppression Effects) 校准多原子离子干扰(Polyatomic Interference) 计算出浓度 计算结果这个实验主要是在纸上进行练习, 学习怎样用手工计算的方法进行多原子离子和基体抑制效应的校准, 以了解他们的原理。1. 下面这个表中的数据是从实验A得到的, 净的分析计数, 没有进行任何计算, 在Results 中选择Numerical Results, 然后再选择Mass Uncorrected ICPS(未计

    24、算的计数), 工作曲线包括空白和250 ppb的V。2. 只保留每个样品的平均值, 并把他们从PlasmaLab中导出到Excel中, 结果将显示如下表: 表2显示的是我们在试验A中得到的, 未经任何干扰校准的浓度结果。3. 下面我们简要做一个纸上练习, 用手工来计算如何校正干扰, 注意:黑色: 测试结果绿色: 计算的举例蓝色: 需要填写的表格红色: 正确答案在表2的浓度结果的不同明显的, 在两个含有Cl的溶液中可以看出ClO干扰了V51的测定。 同时也可以看出在含有高浓度Na的溶液中得出了偏低的结果, 这是由于基体的抑制效应造成的。1. 第一步是使用在分析时包含的内标元素来计算基体抑制, 我

    25、们用实验A中选用的Sc45, 由于我们在每个样品中都包含有同样浓度的Sc, 因而我们可以用SC为参照, 用第一个样品(多数是空白)中的Sc的强度与每个样品中的Sc的强度进行相除, 得到的一个比值(ISR), 请在下面的蓝色表格内填上你计算的结果, 注意如果是抑制效应, 则比值1, 如果是增感效应, 则比值1。2. 在上面的表中我们已经计算了内标元素比值(ISR), 然后用这个比值(ISR)去乘以所有测定出的强度, 结果如表4-a, 计算结果并填入表4-b中。 步骤3: 计算多原子离子干扰(Polyatomic Interference)1. 我们已经知道如何用内标来校准漂移和抑制所造成的影响, 下一步是如何校正多原子离子的干扰。我们知道, 35Cl16O会干扰51V, 这可以通过监视37Cl16O的办法进行计算, 总的在m/z 51处的信号如下:51M=51V+51ClO, 因而:51V=51M-51ClO因为我们已经测定了53ClO, 因而我们需要计算一个51ClO和53ClO之间的系数, 35Cl和37Cl在自然界的丰度(Abundance)为: 35Cl: 75.2% 37Cl: 24.7% 因而它们理


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