1、电子行业标准教材电子行业标准SJ 2089-82电子测量仪器型号命名方法SJ/Z 2091-82信息处理交换用七位编码字符集 键盘的常用控制键、功能键的排列和接口SJ 2092-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2093-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2094-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2095-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2096-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2097-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2098-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2099-82型沟道结型场
2、效应小功率半导体开关三极管SJ 2100-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2101-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2102-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2103-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2104-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2105-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2106-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2107-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2108-82型沟道结型场效应小功率半导体开关三极管SJ 2109-82CKM-29B、CKM-29C、
3、CKM-29D、CKM-29E、CKM-29F、CKM-29G型脉冲磁控管SJ 2112-82厅堂扩声系统设备互联的优选电气配接值SJ 2124-82弹性管联轴节SJ 2125-82十字滑块联轴节SJ 2126-82波纹管联轴节SJ 2127-82薄膜联轴节SJ 2130-82电子束管屏内刻度SJ 2131-82洁净工作台通用技术条件SJ 2133-82氧化物阴极加速寿命试验方法SJ 2137-82硅稳流二极管测试方法总则SJ 2138-82硅稳流二极管稳定电流的测试方法SJ 2139-82硅稳流二极管动态阻抗的测试方法SJ 2140-82硅稳流二极管极限电压的测试方法SJ 2141-82硅稳
4、流二极管击穿电压的测试方法SJ 2142-82硅稳流二极管电流温度系数的测试方法SJ 2148-82硅稳流三极管动态阻抗的测试方法SJ 2152-82烧结含油轴承SJ 2154-82薄膜集成电路用微晶玻璃基片SJ/Z 2165-82单相型铁芯电源变压器和滤波阻流圈典型计算SJ 2168-82涂覆用环氧粉末SJ 2170-82一般电子产品运输包装基本试验方法 总则SJ 2176-82电子产品防潮包装容器透湿度试验方法SJ 2179-82压电滤波器术语和定义SJ 2182-82压电滤波器总技术条件SJ 2193-82整流滤波阻流圈电气参数系列SJ 2194-82型型铁芯滤波阻流圈（电容输入式）SJ
5、 2195-82型型铁芯滤波阻流圈（电感输入式）SJ 2196-82地面用硅太阳电池电性能测试方法SJ 2197-82地面用标准硅太阳电池的标定SJ 2199-82电声器件名词术语SJ 2206-82系列反射速调管SJ 2214.1-82半导体光敏管测试方法总则SJ 2214.2-82半导体光敏二极管正向压降的测试方法SJ 2214.3-82半导体光敏二极管暗电流的测试方法SJ 2214.4-82半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法SJ 2214.5-82半导体光敏二极管结电容的测试方法SJ 2214.6-82半导体光敏三极管集电极发射极反向击穿电压的测试方法SJ 2214.7-82半导体光
6、敏三极管饱和压降的测试方法SJ 2214.8-82半导体光敏三极管暗电流的测试方法SJ 2214.9-82半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法SJ 2214.10-82半导体光敏二、三极管光电流的测试方法SJ 2215.1-82半导体光耦合器测试方法总则SJ 2215.2-82半导体光耦合器（二极管）正向压降的测试方法SJ 2215.3-82半导体光耦合器（二极管）正向电流的测试方法SJ 2215.4-82半导体光耦合器（二极管）反向电流的测试方法SJ 2215.5-82半导体光耦合器（二极管）反向击穿电压的测试方法SJ 2215.6-82半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法S
7、J 2215.7-82半导体光耦合器集电极发射极反向击穿电压的测试方法SJ 2215.8-82半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法SJ 2215.9-82半导体光耦合器（三极管）反向截止电流的测试方法SJ 2215.10-82半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法SJ 2215.11-82半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法SJ 2215.12-82半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法SJ 2215.13-82半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法SJ 2215.14-82半导体光耦合器入出间绝缘耐压的测试方法SJ 2216-82硅光敏二极管SJ 2217-82硅光敏三极管
8、SJ 2218-82半导体光敏二极管型光耦合器SJ 2219-82半导体光敏三极管型光耦合器SJ 2220-82半导体达林顿型光耦合器SJ 2221-82中、小型系列组合夹具技术要求SJ 2222-82中、小型系列组合夹具编号规则SJ 2223-82中型系列组合夹具结构要素SJ 2224-82小型系列组合夹具结构要素SJ 2225-82中型系列组合夹具类型和规格尺寸SJ 2226-82小型系列组合夹具类型和规格尺寸SJ 2232-82厚膜、薄膜集成电路金属外壳技术条件SJ 2231-82厚膜、薄膜集成电路直流稳压电源系列和品种SJ 2240-82空气介质片型微调电容器总技术条件SJ 2240.
9、1-82和型空气介质片型微调电容器SJ 2240.2-82和型空气介质片型微调电容器SJ 2240.3-82和型空气介质片型微调电容器SJ 2240.4-82型空气介质片型微调电容器SJ 2240.5-82型空气介质片型微调电容器SJ 2240.6-82和型空气介质片型微调电容器SJ 2240.7-82型空气介质片型微调电容器SJ 2240.8-82和型空气介质片型微调电容器SJ 2241-82同心型微调电容器总技术条件SJ 2241.1-82型同心型微调电容器SJ 2241.2-82型同心型微调电容器SJ 2241.3-82型同心型微调电容器SJ 2241.4-82型同心型微调电容器SJ 2
10、241.5-82型同心型微调电容器SJ 2241.6-82型同心型微调电容器SJ 2241.7-82型同心型微调电容器SJ 2242-82散热器强制风冷热阻测试方法SJ 2244-82型微波气体放电管SJ 2245-82型微波气体放电管SJ 2246-82、型微波气体放电管SJ 2247-82半导体光电子器件外形尺寸SJ 2253-82阴极碳酸盐颗粒度的测定方法SJ 2254-82阴极碳酸盐分析方法的一般要求（暂行）SJ 1286-77型电子管SJ 1287-77（）型电子管SJ 1381-78实验二极管结构与工艺SJ 1382-78（）型电子管SJ 1383-78型电子管SJ 1385-78
11、噪声二极管和气体放电噪声管总技术条件SJ 1386-78噪声二极管和气体放电噪声管测试条件SJ 1387-78噪声二极管灯丝电流和灯丝电压的测试方法SJ 1388-78噪声二极管阳极电导的测试方法SJ 1389-78噪声二极管极间漏电流的测试方法SJ 1390-78噪声二极管超噪功率非线性系数的测试方法SJ 1391-78噪声二极管冷态电压驻波系数的测试方法SJ 1392-78噪声二极管超噪功率的测试方法SJ 1393-78气体放电噪声管阴极预热时间的测试方法SJ 1394-78气体放电噪声管着火电压的测试方法SJ 1395-78气体放电噪声管阳极电流和管压降的测试方法SJ 1396-78气体
12、放电噪声管电压驻波系数的测试方法SJ 1397-78气体放电噪声管衰减量的测试方法SJ 1398-78气体放电噪声管超噪比及其不稳定度的测试方法SJ 1405-78型硅高频大功率三极管SJ 1406-78型硅高频大功率三极管SJ 1407-78型硅高频大功率三极管SJ 1408-78型硅高频大功率三极管SJ 1409-78型硅高频大功率三极管SJ 1410-78型硅高频大功率三极管SJ 1411-78型硅高频大功率三极管SJ 1412-78型硅高频大功率三极管SJ 1413-78型硅高频大功率三极管SJ 1414-78型硅高频大功率三极管SJ 1415-78型硅高频大功率三极管SJ 1416-
13、78型硅高频大功率三极管SJ 1417-78型硅高频大功率三极管SJ 1418-78型硅高频大功率三极管SJ 1419-78型硅高频大功率三极管SJ 1420-78型硅高频大功率三极管SJ 1421-78型硅高频大功率三极管SJ 1422-78型硅高频大功率三极管SJ 1423-78型硅高频大功率三极管SJ 1424-78型硅高频大功率三极管SJ 1425-78型硅高频大功率三极管SJ 1426-78型硅高频大功率三极管SJ 1427-78型硅高频大功率三极管SJ 1428-78型硅高频大功率三极管SJ 1429-78型硅高频大功率三极管SJ 1430-78型硅高频大功率三极管SJ 1431-
14、78型硅高频大功率三极管SJ 1436-78型脉冲磁控管SJ 1437-78型脉冲磁控管SJ 1438-78型脉冲磁控管SJ 1439-78型脉冲磁控管SJ 1457-79低速型、中速型通用电子计数器技术条件SJ 1458-79电子计数器测试方法SJ/Z 1463-79无线电陶瓷材料化学分析方法的一般要求SJ/Z 1464-79矿物原料的化学分析方法SJ/Z 1465-79陶瓷坯料的化学分析方法SJ/Z 1466-79化工原料的化学分析方法SJ 1468-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1469-79型硅平面高频小功率三极管SJ 1470-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1471-
15、79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1472-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1473-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1474-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1475-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1476-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1477-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1478-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1479-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1480-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1481-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1482-79型硅外延平面高频小功率三极管SJ 1483-79型硅外延平面高频小功
16、率低噪声三极管SJ 1484-79型硅外延平面高频小功率高反压三极管SJ 1485-79型硅外延平面高频小功率高反压三极管SJ 1486-79型硅外延平面高频小功率高反压三极管SJ 1487-79反向阻断型高频半导体闸流管SJ 1488-79反向阻断型高频半导体闸流管额定高频通态平均电流T的测试方法SJ/T 1505-97旋磁铁氧体材料成品、半成品化学分析方法SJ 1512-79扬声器用永磁铁氧体磁体尺寸系列SJ 1515-79微动开关总技术条件SJ 1516-79型微动开关SJ 1517-79型微动开关SJ 1518-79型微动开关SJ 1519-79型微动开关SJ 1520-79型微动开关
17、SJ 1521-79钮子开关总技术条件SJ/Z 1526-79锌银碱性蓄电池系列型谱SJ 1531-79金属陶瓷电子管引出环接触直径系列SJ 1532-79系列脉冲磁控管SJ 1533-79型发射管SJ 1538-87电真空器件用镍及镍合金化学成分SJ 1540-87电真空器件用镍及镍合金丝SJ 1541-87电真空器件用镍及镍合金带SJ 1539-87电真空器件用镍及镍合金薄壁管SJ 1542-87电真空器件用镍及镍合金化学分析方法SJ 1543-88电真空器件用镍及镍合金光谱分析方法SJ/Z 1544-79镍钨镁合金的光谱分析方法SJ 1545-79型脉冲磁控管SJ 1546-79型连续波
18、磁控管SJ 1547-79型连续波磁控管SJ 1549-79硅外延片（暂行）SJ 1550-79硅外延片检测方法SJ 1551-79硅外延层电阻率测试方法（电容电压法）（暂行）SJ 1554-80型珠状热敏电阻器SJ 1555-80型珠状热敏电阻器SJ 1558-80型和型旁热型负温度系数热敏电阻器SJ 1559-80稳压型负温度系数热敏电阻器总技术条件SJ 1560-80型和型稳压型负温度系数热敏电阻器SJ 1563-80实心聚四氟乙烯绝缘同轴射频电缆（暂行）SJ 1575-80型型返波管SJ 1583-80玻璃介质微调电容器总技术条件SJ 1584-80型玻璃介质微调电容器SJ 1585-
19、80温差发电器型号命名方法SJ 1587-80电真空器件用钍钨铼丝SJ 1590-80铈钨粉、块、杆中氧化铈的分析方法SJ 1591-80电真空器件用钍钨铼丝中氧化钍和铼的分析方法SJ 1594-80型直键开关SJ 1595-80型直键开关SJ 1596-80、，、型旋转阳极射线管SJ 1598-80（）型发射管SJ 1617-80型连续波磁控管SJ 1618-80温差发电器名词术语SJ 1619-80半导体管电视广播接收机用中频变压器及可调线圈SJ 1620-80型（）脉冲调制管SJ 1627-80型脉冲磁控管SJ 1628-80冷冲压零件尺寸公差SJ 1624-80微波铁氧体隔离器、环行器
20、总技术条件SJ 1625-80微波铁氧体同轴隔离器、环行器SJ 1626-80微波铁氧体波导隔离器、环行器SJ 1632-80波导元件型号命名方法SJ/T 1635-96电子工业管路的基本识别色和识别符号SJ 1636-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1637-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1638-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1639-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1640-80型、型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1641-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1642-80型、型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1643-80型、
21、型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1644-80型、型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1645-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1646-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1647-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1648-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1649-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1650-80型、型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1651-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1652-80型、型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1653-80型、型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1654-80型、型、型硅
22、扩散台面低频大功率三极管SJ 1655-80型、型硅扩散台面低频大功率三极管SJ 1657-80铜垫密封超高真空法兰型式及尺寸系列SJ 1659-80铜密封垫型式及尺寸系列SJ 1661-80电子工业专用设备热处理技术要求（暂行）SJ 1666-80型电子管SJ 1667-80型电子管SJ 1668-80、型电子管SJ 1671-80雷达用低压直流稳压电源技术条件SJ 1672-80型硅正向自动增益控制高频小功率三极管SJ 1673-80型硅正向自动增益控制高频小功率三极管SJ 1674-80型硅图象中放末级三极管SJ 1682-80型硅高频大功率三极管SJ 1683-80型硅高频大功率三极管
23、SJ 1686-80型硅低频大功率三极管SJ 1689-80型硅低频大功率三极管SJ 1690-80型硅低频大功率三极管SJ 1692-80型硅低频大功率三极管SJ 1693-80型锗低频大功率三极管SJ 1676-81（）型电子管SJ 1677-80光纤光缆名词术语SJ 1678-80纤维光学连接器名词术语SJ 1703-81小功率电子管加速寿命试验方法SJ 1704-81功率速调管总技术条件SJ 1705-81功率速调管测试条件SJ 1706-81功率速调管电子注流通率的测试方法SJ 1707-81功率速调管增益的测试方法SJ 1708-81功率速调管带宽的测试方法SJ 1709-81功率
24、速调管激励功率的测试方法SJ 1710-81功率速调管输出功率的测试方法SJ 1711-81功率速调管工作频率范围的测试方法SJ 1712-81功率速调管频率可重调性的测试方法SJ 1713-81功率速调管相移的测试方法SJ 1714-81功率速调管互调失真比的测试方法SJ 1716-81功率速调管脉冲特性的测试方法SJ 1717-81功率速调管脉冲电压的测试方法SJ 1718-81功率速调管阴极脉冲电流的测试方法SJ 1719-81功率速调管振荡频率的测试方法SJ 1720-81功率速调管频谱的测试方法SJ 1721-81功率速调管频率温度系数的测试方法SJ 1722-81型脉冲磁控管SJ 1723-81型微波气体放电管SJ 1724-81型微波气体放电管SJ 1725-81型微波气体放电管SJ 1726-81型微波气体放电管SJ 1735-81通信电声器件总技术条件SJ 1738-81通信用电声组合件电声试验方法SJ 1739-81通信电声器件外形尺寸系列SJ 1741-81电子设备用非密封电磁继电器系列型谱SJ 1743-81
