1、线型象质计JB/T7903-1999工业射线照相底片观片灯3、一般要求射线照相检验的一般要求除应符合 NB/T47013.1-2015 的有关规定外，还应符 合下列规定。3.1射线检测人员第 1 页 共 95 页第 2 页 共 20 页3.1.1从事射线检测人员上岗前应进行按 GB11924 的规定进行辐射安全知识的培 训，并取得放射工作人员证。3.1.2射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为 1.0），测试方法应符合 GB11533 的规定。从事评片的人员应每 年检查一次视力。3.2射线胶片3.2.1射线胶片系统分为 6 类，即 C1、C2、C3
2、、C4、C5、C6 类。 C1 为最高类别，C6为最低类别。胶片系统的特性指标和常见牌号胶片所属的胶片系统类别见附录 A （资料性附录）。3.2.2A 级和 AB 级射线检测技术应采用 C5 类或更高类别的胶片， B 级射线检测技术应采用 C4 类或更高类别的胶片。3.3观片灯3.3.1观片灯的主要性能应符合 GB/T19802 的有关规定。3.3.2观片灯的最大亮度应能满足评片的要求。3.4黑度计（光学密度计）3.4.1黑度计可测的最大黑度应不小于 4.5，测量值的误差应不超过 0.05。3.4.2黑度计首次使用前应进行核查，以后至少每六个月应进行一次核查，形成 核查报告。 在工作开始时或连
3、续工作超过 8h 后应在拟测量黑度范围内选择至少两 点进行检查。3.5增感屏射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏，金属增感屏应满足 JB/T5075的要求，增感屏应完全干净、抛光和无纹道。增感屏的选用应符合表 1 的规定。3.6象质计3.6.1底片影像质量采用线型像质计或孔型像质计测定。通用线型像质计和等径 线型像质计的型号和规格应符合 JB/T 7902 的规定，孔型像质计型号和规格应满 足 GB/T 23901.2 的规定3.6.2象质计的材料、代号和不同材料的象质计适用的工件材料范围应符合表 2 的规定。第 2 页 共 95 页第 3 页 共 20 页表 1 增感屏的材料和厚度射线源
4、材料前屏后屏中屏厚度， mmX 射线（ 100KV ）铅不用或 0.030.03X 射线（ 100150KV ）0.020.100.020.152 0.0220.10X 射线（ 150250KV ）X 射线（ 250500KV ）0.020.21） 如果 AB 、 B 级使用前屏小于或等于 0.03 mm 厚的真空包装胶片，应在工件和胶片之间加 0.07mm0.15 mm 厚的附加铅屏。2） 双片透照技术应增加使用中屏。表 2 不同材料的象质计适用的材料范围象质计材料代号Fe象质计材料碳钢或奥氏体不锈钢适用材料范围碳钢，低合金钢，不锈钢3.7射线检测设备3.7.1射线检测设备应能满足检测对象要
5、求， 且应是按 检测设备自检操作规程 检定合格的设备。3.7.2现有设备及其透照厚度范围见表 3。表 3 射线设备及其透照厚度范围制造地型号有效焦点尺寸（ mm ）穿透范围（ mm ）丹东XXG20051.51.52 T 28mm3.8表面要求和射线检测时机3.8.1在射线检测之前，对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。表面的不规 则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整。3.8.2除非另有规定，射线检测应在焊后进行。对有延迟裂纹倾向的材料，至少 应在焊接完成 24 小时后进行射线检测。3.9射线检测技术等级选择3.9.1射线检测技术等级选择应符合制造有关标准及设计图
6、样规定。承压设备对 接焊接接头的射线检测，一般应采用 AB 级射线检测技术进行检测。对重要设备、第 3 页 共 95 页第 4 页 共 20 页结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的焊接接头，可采用 B 级技术进行检测。3.9.2由于结构、 环境条件、射线设备等方面限制， 检测的某些条件不能满足 AB 级（或 B 级）射线检测技术的要求时，经公司技术负责人批准，在采取有效补偿 措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了 AB 级（或 B 级）射线检测技术的规定，则可认为按 AB 级（或 B 级）射线检测技术 进行了检测。3.9.3承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备
7、等方面限制，检测的某 些条件不能满足 AB 级射线检测技术的要求时，经合同双方商定，在采取有效补 偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用 A 级技术进行射线检测，但应同时 采用其他无损检测方法进行补充检测。3.10辐射防护3.10.1放射卫生防护应符合 GB18871、GBZ117、GBZ132 的有关规定。3.10.2现场进行 X 射线照相检测时，应按 GBZ117 的规定划定控制区和管理区、 设置警告标志。检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。4、详细要求4.1透照布置4.1.1透照方式 应根据工件的特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情 况下应选用单壁透照方式
8、，在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。射 线检测透照人员应严格按工艺卡规定执行。4.1.2透照方向 透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，并应与工件表面法线重合， 需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。4.1.3一次透照长度一次透照长度应以透照厚度比 K 进行控制。不同级别射线检测技术和不同类 型对接焊接接头的透照厚度比应符合表 4的规定。第 4 页 共 95 页表 4 允许的透照厚度比 K射线照相技术级别A 级， AB 级B级纵向焊接接头K1.03K1.01环向焊接接头K1.11）K1.061）对100mm0.12时，相隔 1200或 600透照 3次。 垂直透照重叠成像时，一
9、般应相隔 1200或600透照 3次。4.2射线能量4.2.1在保证穿透力的前提下， X 射线照相应选用较低的管电压。在采用较高管 电压时，应保证适当的曝光量。图 1 规定了不同材料、不同透照厚度允许采用的 最高射线管电压。4.2.2对截面厚度变化大的承压设备， 在保证灵敏度要求的前提下， 允许采用超过 图 1 规定的射线管电压。但对钢、铜及铜合金材料，管电压增量不应超过 50kV； 对钛及钛合金材料，管电压增量不应超过 40kV。第 5 页 共 95 页第 6 页 共 20 页说明：1铜及铜合金；2钢；3钛及钛合金；4铝及铝合金。图1 不同透照厚度允许的射线最高透照管电压4.3 射线源至工件
10、表面的最小距离4.3.1所选用的射线源至工件表面的距离 f 应满足下述的要求：A 级射线检测技术： f 7.5d b2/3AB 级射线检测技术： f10 db2/3B 级射线检测技术： f15 d注 b ：工件至胶片的距离d：有效焦点尺寸。其尺寸按以下规定计算：正方形焦点 d 为边长；长方形焦点 d 为长和宽的平均值，椭圆形焦点 d 为长 轴、短轴的平均值；圆形焦点 d 为其直径。附录 B 提供了典型材料规格焊缝透照的焦矩参考值。4.3.2采用源在内单壁透照方式时， 只要得到的底片质量符合 4.11.2和 4.11.3 的要 求， f 值可以减小，但减小值不应超过规定值的 20%。4.4 曝光
11、量X 射线照相，当焦距为 700mm 时，曝光量的推荐值为： A 级和 AB 级射线检 测技术不小于 15mAmin ；B 级不小于 20mAmin。当焦距改变时可按平方反比 定律对曝光量的推荐值进行换算。4.5曝光曲线4.5.1对每台在用的射线设备均应作出经常检测材料的曝光曲线，依据曝光曲线 确定曝光参数。4.5.2制作曝光曲线所采用的胶片、增感屏、焦距、射线能量等条件和底片应达 到的灵敏度、黑度等参数均应符合本部分的规定。4.5.3对使用中的曝光曲线，每年至少应校验一次。射线设备更换重要部件或经 较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。4.6无用射线和散射线屏蔽第 6 页 共 95
12、页4.6.1应采用金属增感屏、铅板等适当措施，屏蔽散射线和无用射线，限制照射 场范围。4.6.2对初次制定的检测工艺或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时，应进 行背散射防护检查。检查背散射防护的方法是，在暗盒背面贴附“ B”铅字标记，一般 B 铅字的 高度为 13mm、厚度为 1.6mm，按检测工艺的规定进行透照和暗室处理。若在底 片上出现黑度低于周围背景黑度的“ B”字影像，则说明背散射防护不够，应增大 背散射防护铅板的厚度。 若底片上不出现 “B”字影像或出现黑度高于周围背景黑 度的“B”字影像，则说明背散射防护符合要求。在背散射轻微或后增感屏足以屏 蔽背散射线的情况下，可不使用背散射防
13、护铅板。4.7像质计的使用4.7.1像质计一般应放置在工件源侧表面焊缝的一端（在被检区长度的 1/4 左右 位置）金属丝应横跨焊缝，细丝置于外侧。当一张胶片上同时透照多条焊缝时， 像质计应放置在透照区最边缘的焊缝处。4.7.2像质计放置原则a）单壁透照规定像质计放置在源测， 双壁单影透照规定像质计放置在胶片测。 双壁双影透照规定像质计可放置在源测，也可放置在胶片测。b）单壁透照中，如果像质计无法放置在源测，允许放置在胶片测。c）单壁透照中像质计放置在胶片测时应做对比试验。 对比试验方法是在射线 源测和胶片测各放一个像质计，用与工件相同的条件透照，测定出像质计放置在 源测和胶片测的灵敏度差异，以
14、此修正应识别像质计丝号，以保证实际透照的底 片灵敏度符合要求。d）当像质计放置在胶片侧时，应在像质计上适当位置放置铅字“ F”作为标 记，F 标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告中注明。4.7.3原则上每张底片上都应有像质计的影像。 当一次曝光完成多张胶片照相时， 使用的像质计数量允许减少但应符合以下要求：4.7.4小径管可选用通用线型像质计或专用（等径金属丝）像质计，金属丝应横跨 焊缝放置。第 7 页 共 95 页第 8 页 共 20 页4.7.5如果焊接接头的几何形状允许， 不同厚度或材料类型不同的部位应分别采用 与被检材料厚度或类型相匹配的像质计，并分别放置在焊接接
15、头相对应部位 。4.7.6如底片黑度均匀部位（一般是邻近焊缝的母材金属区）能够清晰地看到长 度不小于 10mm 的连续金属丝影像时，则认为该丝是可识别的。专用像质计至少 应能识别两根金属丝。使用阶梯孔型像质计时，底片上能够识别的最小孔的编号即为像质计灵敏度 值，当同一阶梯上含有两个孔时，则两个孔都应在底片上可识别。4.8标记4.8.1透照部位的标记由识别标记和定位标记组成。 标记一般由适当尺寸的铅 （或 其他适宜的重金属）制数字、拼音字母和符号等构成。4.8.2识别标记一般包括：焊工编号、焊口编号、部位编号和透照日期。返修后 的透照还应有返修标记，扩大检测比例的透照应有扩大检测标记。4.8.3
16、定位标记一般包括中心标记和搭接标记。中心标记指示透照部位区段的中 心位置和分段编号的方向，一般用十字箭头“ ”表示。搭接标记是连续检测时 的透照分段标记，可用符号“”或其他能显示搭接情况的方法表示。4.8.4标记一般应放置在距焊缝边缘至少 5mm 以外的部位。 所有标记的影像不应 重叠，且不应干扰有效评定范围内的影像。4.8.5 双壁双影透照法，分段透照法像质计和识别标记摆放位置见图 1、2 所示图 1 双壁双影像质计和识别标记的布置图第 8 页 共 95 页第 9 页 共 20 页和宽度时，应采用适当的定位标记（如采用铅质窄条）进行标识4.8.7允许采用预曝光方式获得相关识别标记， 但必须采
17、取有效措施保证根据射线 底片上的预曝光识别标记能追踪到工件的相应被检区域，并应采取有效屏蔽措施 保证放置识别标记以外的区域不4.9胶片处理4.9.1胶片处理一般应按胶片使用说明书的规定进行。可采用自动冲洗或手工冲 洗方式处理， 推荐采用自动冲洗方式处理。 原则上应采用胶片厂家生产或推荐的 冲洗配方或药剂，在按 GB/T 19384.2经比较试验证明的条件下，也可以使用其他 厂家的配方或药剂。手工冲洗和自动冲洗胶片宜在曝光后 8h 之内完成，最长不得超过 24h。4.9.2底片质量检验 暗室处理后的底片硫代硫酸盐离子的浓度一般应低于 0.050g/m2 。底片上硫代硫酸 盐离子的浓度测量可参考
18、JB/T47013.2 附录J 的要求执行，测量结果应记录。 检验的频率由检测方确定，但在此期间暗室处置条件应保持不变。 如果检验发现，硫代硫酸盐离子浓度大于 0.050 g/m2 ，应采取以下行动：a） 停止暗室处理，并采取纠正措施；b） 重新核查定影和冲洗工序验证的符合性；c） 重新处置所有含有缺陷的底片。4.9.3灰雾度测量 本部分规定的灰雾度意义指未经曝光的胶片经暗室处理后的总黑度 （乳胶 +片基）， 胶片灰雾度应不超过 0.3 。灰雾度应针对不同时间购进的每一批胶片进行测量，从某一批（同时 采购规格不计的胶片）第 9 页 共 95 页第 10 页 共 20 页中抽一样品与焊缝底片相同
19、暗室处理条件下处理后进行灰雾度测量，当某一批次 的胶片使用期限超过 6个月时，应至少每 6 个月测量一次4.10评片要求4.10.1评片一般应在专用的评片室内进行。评片室应整洁、安静，温度适宜，光 线应暗且柔和。4.10.2评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。 从阳光下进入评片的暗适应 时间一般为 5min10min；从一般的室内进入评片的暗适应时间应不少于 30s。4.10.3评片时，底片评定范围内的亮度应符合下列规定：a）当底片评定范围内的黑度 D2.5 时，透过底片评定范围内的亮度应 30cd/ 。b）当底片评定范围内的黑度 D2.5 时，透过底片评定范围内的亮度应 10cd/ 。4
20、.10.4底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧 5mm 宽的区域。4.11底片质量4.11.1底片上，定位和识别标记影像应显示完整、位置正确。4.11.2底片评定范围内的黑度 D 应符合下列规定：A 级： 1.5D4.5； AB 级： 2.0 D4.5； B 级： 2.3D4.5。用 X 射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时， AB 级最低黑度允许 降至 1.5；B 级最低黑度可降至 2.0。双胶片透照技术，双底片叠加观察评定，评定范围内的黑度 D 应符合 2.7D 4.5 的规定。注1：双底片叠加评定时， 黑度范围超过 4.5 的局部区域，如果单底片黑度范 围符合上述 的规定时，
21、可以对该区域进行单底片评定。注2：采用分类相同的胶片时， 在有效评定区内每张底片上相同点测量的黑度 的差应不超过 0.5 。注3：用于双底片叠加评定的任何单底片的黑度应不低于 1.3 。注 4：应同时观察、分析和保存每张底片 .对评定范围内的黑度 D4.5 的底片，如有计量检定报告证明观片灯在底片评 定范围内的亮度能够满足 4.10.3 的要求，允许进行评定。4.11.3底片的像质计灵敏度单壁透照、像质计置于源侧时应符合表 6 的规定；双壁双影透照、像质计置第 10 页 共 95 页第 11 页 共 20 页于源侧时应符合表 7 的规定；双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应 符合表 8
22、 的规定。表 6 像质计灵敏度值（单壁透照、像质计置于源侧）应识别丝号（丝径， mm ）公称厚度（ T）范围， mmA级AB 级18（0.063）2.517（0.080）2.02.54.016（0.100）2.03.5 4615（0.125） 3.55.0 6814（0.160）5.0781213（0.20）710122012（0.25）1015203011（0.32）1525303510（0.40）253235459（0.50）3240 45658（0.63） 4055651207（0.80）5585 1202006（1.00）85150 2003505（1.25） 1502503504（1.60） 2503503（2.00）2（2.50）表 7 像质计灵敏度值（双壁双影透照、像质计置于源侧）透照厚度范围， mm2.03.03.04.5 694.57915711152211152231第 11 页 共 95 页第 12 页 共 20 页有限公司 文件号： MKS/ZDS/NDT-01版 本： 2014 特种设备射线检测通用工艺规程 修改号：31402232 404832444856 4454表 8 像质计灵敏度值（双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧） 3.55.5612 5.51112185.5111117183
