1、SPC培训教程,目录,控制图的发展史 SPC与CPK的区分过程及其变差控制图原理控制图分类各类控制图建立步骤及QI软件使用控制图分析公司SPC应用程序安排,控制图是1924年由美国品管大师W.A.Shewhart博士发明。因其用法简单且效果显著，人人能用，到外可用，遂成为实施品质管制时不可缺少的主要工具，当时称为(Statistical Quality Control)。,控制图的历史说明,控制图的发展,19411942年制成美国标准,1931年发表,1924年发明,控制图也称SPC图，是将一个过程定期收集的样本数据按顺序点绘而成的一种图示技术。控制图可展示过程变异并发现异常变异，并进而成为采
2、取预防措施的重要手段。,针对过程的重要控制参数所做的才是SPC,PROCESS,原材料,测量,结果,Real Time Respose,针对产品所做的仍只是在做SQC,SQC：,Statistical Quality Control,SPC：,Statistical Process Control,SPC&SQC,控制图在英国及日本的历史英国在1932年，邀请W.A.Shewhart博士到伦敦，主讲统计品质管制而提高了英国人将统计方法应用到工业方面之气氛。就控制图在工厂中实施来说，英国比美国为早。日本在1950年由W.E.Deming博士引到日本；同年日本规格协会成立了品质管制委员会，制定了相
3、关的JIS标准。,控制图的历史说明,1、控制图：(控制工具)XR、XR、XS、XRM、P、np、c、u2、过程能力指数：(指数)Ca、Cp、CpK、PpK、CmK从上可看出CpK是SPC统计管制内容中各种指数的其中一项指数。,SPC包括的内容,针对过程的重要控制参数所做的才是SPC,PROCESS,原材料,测量,结果,Real Time Respose,针对产品所做的仍只是在做SQC,SQC：,Statistical Quality Control,SPC：,Statistical Process Control,SPC&SQC,控制图在英国及日本的历史英国在1932年，邀请W.A.Shewh
4、art博士到伦敦，主讲统计品质管制而提高了英国人将统计方法应用到工业方面之气氛。就控制图在工厂中实施来说，英国比美国为早。日本在1950年由W.E.Deming博士引到日本；同年日本规格协会成立了品质管制委员会，制定了相关的JIS标准。,控制图的历史说明,CpK,CpK是过程能力指数中的一种：通常将允许的容差范围除以 6的比值，称为过程能力指数；当容差的中心值 M与数据分布中心相一致时，即=M，称过程能力“无偏”，用Cp表示，不一致时，称“有偏”，用CpK表示,过程及其变差,将输入转化为输出的一组彼此相关的资源和活动.控制图表示的是关于过程的信息,以便对过程采取措施.,过程概念,控制图原理,有
5、效监控变差的特殊原因的出现反映变差的普通原因的大小,控制图的作用,普通原因、特殊原因,普通原因指的是造成随着时间推移具有稳定的且可重复的分布过程中的许多变差的原因，我们称之为：“处于统计控制状态”、“受统计控制”，或有时简称“受控”，普通原因表现为一个稳定系统的偶然原因。只有变差的普通原因存在且不改变时，过程的输出才可以预测。特殊原因：指的是造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们出现时将造成（整个）过程的分布改变。除非所有的特殊原因都被查出来并且采取了措施，否则它们将继续用不可预测方式来影响过程的输出。如果系统内存在变差的特殊原因，随时间的推移，过程的输出将不稳定。没有两件产品或特性是完
6、全相同的。,两种 原因的性质普通原因：难以排除，具有稳定、可重复的分布；此时输出可以预测。特殊原因：必须排除，偶然发生、影响显著；此时将有不可预测方式影响输出。,局部措施和对系统采取措施,通常用来消除变差的特殊原因通常由与过程直接相关的实施大约可纠正15的过程问题,通常用来消除变差的普通原因几乎总是要求管理措施，以便纠正大约可纠正85的过程问题,局部措施,对系统采取措施,过程控制和过程能力图表,控制图种类（以数据来分）,平均值与极差控制图平均值与标准差控制图中位值与全距控制图个别值与移动全距控制图,计量值控制图,XR、XS、XR、XRm,计数值控制图,不良率控制图不良数控制图缺点数控制图单位缺
7、点控制图,Pnp、c、u,控制图的选择,控制图的选定,资料性质,样本大小n=2,CI的性质,“n”是否 较大,不良数或缺陷数,“n”是否一致,单位大小是否一致,X-s图,X-R图,X-R图,X-Rm图,“P”图,“np”图,“c”图,“u”图,计量值,计数值,不良数,缺陷数,不一定,一定,一定,不一定,“n”=1,“n”=1,平均值,中位数,“n”=1025,“n”=25,控制图的绘制流程,搜集数据,是否稳定,绘解析用控制图,绘直方图,是否满足规格,控制用控制图,检讨机械、设备提升制程能力,寻找异常原因,各类控制图建立步骤及其QI输入设置,分组时的考虑原则:组内变异小,组间变异大。至少应取25
8、组或100个单值。,X-R图,建立XR图的步骤A,A阶段收集数据,A1选择子组大小、频率和数据,A2 建立控制图及记录原始记录,A3 计算每个子组的均值X和极差R,A4 选择控制图的刻度,A5 将均值和极差画到控制图上,子组大小,子组频率,子组数大小,建立XR图的步骤B,B1计算平均极差及过程平均值,B2 计算控制限,B3 在控制图上作出平均值和极差控制限的控制线,B 计算控制限,建立X-R图的步骤C,C过程控制解释,C1分析极差图上的数据点,C2 识别并标注特殊原因(极差图),C3 重新计算控制界限(极差图),C4 分析均值图上的数据点,C5 识别并标注特殊原因(均值图),超出控制限的点链,
9、明显的非随机图形,C6 重新计算控制界限(均值图),C7 为了继续进行控制延长控制限,超出控制限的点链,明显的非随机图形,建立X-R图的步骤D,D过程能力解释,D1计算过程的标准偏差,D2 计算过程能力,D3 评价过程能力,D4 提高过程能力,D5 修改的过程绘制控制图并分析,制程能力指标Cp,(双边规格),(单边规格上规格界限),(单边规格下规格界限),只考虑到固定变差或组内变差,制程能力指标Cpk,Ppk既包括组内变异又包括组间变异,Cpk只包括组内变异,Cp=USL-LSL/6Cpk=(1-k)Cp=Min(CPu,Cpl)Cpu=USL-(X-Bar)/3Cpl=(X-Bar)-LSL
10、/3Pp=USL-LSL/6Ppk=Pp(1-k)Ppu=USL-(X-Bar)/3Ppl=(X-Bar)-LSL/3,图同 图的异同,样本容量大于5时，应该用 图；应优先考虑采用 图。,在样本容量不同时，不能固定P图的控制限P图的衡量参数P-BarDPMO图的衡量参数U-Bar,建立P图的步骤A,A阶段收集数据,A1选择子组的容量、频率及数量,A2计算每个子组内的不合格品率,A3选择控制图的坐标度,A4将不合格品率描绘在控制图,子组容量,分组频率,子组数量,A1组容量、频率、数量,子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50200）以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包
11、括几个不合格品，但样本数如果太利也会有不利之处。分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求以矛盾。子组数量：要大于等于25组以上，才能着定其稳定性。,建立p控制图的步骤B,B计算控制限,B1计算过程平均不合格品率,B2计算上、下控制限,B3画线并标注,计算平均不合格率及控制限,中心线,建立p控制图的步骤C,C过程控制用控制图解释,C1分析数据点，找出不稳定证据,C2建筑并纠正特殊原因,C3重新计算控制界限,超出控制限的点链明显的非随机图形,建立p的步骤D,D过程能力解释,D1计算过程能力,D2评价过程能力,D4绘制并分析修
12、改后的过程控制图,D3改进过程能力,控制图的判读,超出控制界限的点：出现一个或多个点超出任何一个控制界限是该点处于失控状态的主要证据。,控制图的判读,链：有下列现象之一即表明过程已改变,连续7点仅次于平均值的一侧连续7点上升（后点等于或大于前点）或下降。,控制图的判读,明显的非随机图形：应依正态分布来判定图形，正常应是有2/3的点落于中间1/3的区域。,SPC应用控制,1.目的：确定SPC应用规范以便监控品质状 况和保持适宜的过程能力。2.适用范围：适用于深圳斯比泰SPC的应用。,3.职责,1.1品质部整体负责公司范围内SPC的应用；1.2生产部门负责提供原始数据及分析解决一般性问题；1.3P
13、E部相关项目负责人或PE工程师负责分析解决试生产中的问题及量产中的重大问题；1.4管理代表负责监控SPC的正确应用状况。,4.程序内容：,IPQC工程师根据控制计划上确定的产品特性和工序控制要求选择适当的控制图对过程和产品特性予以监控，下表中原则性地规定了相应工序使用的SPC控制图，但视具体状况不限于此：,4.1控制图的应用场所：,4.程序内容：,4.1 控制图的应用场所：,5.SPC的初始研究,5.2 分析改进及控制限的确定：,初始研究控制图可采用QI软件的自动运算功能，IPQC工程师检查是否稳定受控和有无超标，若有，对新产品则通知相关项目负责人（对转线产品通知生产部）予以分析改善，若超标原
14、因已完全解决，则该超标点可隐藏不计，否则应重新起算，直到有连续25组或100点不超标过程显示处于稳定受控后检查Ppk值或平均值，若Ppk值大于或等于1.67，则可确定其控制限并记入产品SPC应用历史记录表；若Ppk值小于1.67，则由工程师发起组织分析改善直至Ppk值达到1.67为止；对计数型控制图则根据类似产品标准及具体情况判断可接受的平均值，确定后记入产品SPC应用历史记录表。,6.日常运行：,6.1 数据的输入,相关IPQC检验员负责按照要求输入数据，IPQC工程师监督数据输入状况。对每一类型的控制图，均在公共盘（CPQPS200Qidata InformationSample）保持一范
15、本，可作为建立控制图的基础,各控制图的主要设置如下：,6.2 QI软件的设置：,6.日常运行：,6.2 QI软件的设置：,6.日常运行：,相关IPQC检验员负责监视控制图超标情况，若有超标开出SPC超标处理通知单给相关生产主任组织分析原因及采取措施予以改善，IPQC检验员根据SPC超标处理通知单在控制图上标注原因及措施；若控制图有连续三点超标，则应要求生产线停线改善，见生产线警示灯控制处理程序Q-OP-QA-013。,6.3 数据分析及处理：,7.持续改进,IPQC工程师应每个月总结分析SPC应用情况，对累计生产超过五日的产品将输入的数据统一计算其控制限；若控制限水平或CPK值低于前一个月，由
16、IPQC工程师发起组织分析原因以作改进。若分析结果显示客观条件已发生不可逆转或成本上不宜改变的变化，可适当调低控制限水平；否则，下一个月继续沿用原有控制限；若控制限水平或CPK值高于上一个月，也由IPQC工程师发起组织分析以保持有利的因素，下一个月则采用新的控制限；每月新计算控制限的相关情况及该产品的主要变化等均由IPQC工程师记入产品SPC应用历史记录表。,8.数据的保存,8.1记录的层次结构记录统一保存在公共盘STJX01/SPCDATA下，各输入数据的电脑可在本地盘同步备份。记录按部门保存，各部门对应目录分别为：SMT生产线SMT PA生产线PCBA总装生产线FA维修组W1前加工组Q1各生产段记录的目录结构分别为：生产段 线别 年份 月份 产品,8.数据的保存,8.2 记录的保存与备份 公共盘上保持至少六个月的记录；IPQC主管工程师每月用光盘按客户来备份SPC相关记录，其目录结构为客户 产品 线别 月份。备份光盘应交文控中心保存但IPQC主管工程师可领出上 一个月的光盘自己使用。9.顾客要求在SPC应用各方面若有顾客特殊要求，则应首先考虑。,10.相关文件和记录,生产线品质异常处理程序 Q-OP-QA-013 SPC超标处理通知单 产品SPC应用历史记录表 IPQC工作程序 Q-OP-QA-001,
