1、Teststand应用实例3练习三：顺序测试 并行测试 自动协调并行测试目标：在实际应用中，为了提高测试效率，节省测试时间，往往需要同时进行多个DUT的并行测试，在Teststand环境中，只需要轻松配置，即可实现并行测试及自动协调并行测试。图1 完整练习硬件平台：任意波形发生器PXI-5421,示波器PXI-5122,矩阵开关模块PXI-2532，接线盒TB-2641，接线盒SCB-264X，数字万用表PXI-4071，1KOhm电阻两个（电阻A，电阻B）。硬件连接：1. 连接TB-2641接线盒与SCB-264X接线盒：一端连接在TB-2641接线盒的J3排线端，一端连接在SCB-264X
2、接线盒Lower J3排线端。2. 在SCB-264X上安装电阻：将电阻A两端分别连接在SCB-264X接线盒的B.1和B.2；将电阻B两端分别连接在SCB-264X接线盒的B.5和B.6。3. 在SCB-264X上连接PXI-4071:将PXI-4071的正极（红色）连接在SCB-264X接线盒的B.3；将PXI-4071的负极（黑色）连接在SCB-264X接线盒的B.4。4. 直连信号发生器和示波器。将PXI-5421 Arb的CH0直接连接到PXI-5122 Digitizer的CH1上。图2 系统架构顺序测试操作步骤：1. 启动Teststand，打开练习二所保存的resistor t
3、est.seq文件，选择Filesave as 将 resistor test.seq另存为Ex3 sequential.seq。2. 按照下面步骤确认Teststand中的执行模式为顺序执行。a. 在菜单栏中选择Configure Station Options。b. 选择Model标签，在Station Model中选择 SequentialModel.seq。c. 保存设置。3. 修改resistor test配置，使其可以自动切换测试不同DUT。a. 选中resistor testb. 在Step Settings中，选择Properties选项卡。c. 选择Switching，在Ro
4、uter(s) to Connect中填入：RouteGroup+Str(RunState.TestSockets.MyIndex ) ，如下图所示。d. 在Connection Lifetime下拉框中选择Step项，如下图所示。图3 配置resisitor test的switch设置4. 插入一个Pass/Fail Test，并重命名为frequency test。如下图所示。图4 插入Pass/Fail Test测试序列5. 选择Frequency Limit Test.vi为该项测试指定的VI模块。a. 在Step Settings标签下选择Module。b. 点击按键，从Suppor
5、t Files文件夹路径中选择Frequency Limit Test.vi。弹出对话框，点击确定。c. VI加载后，窗口的右侧有该VI的图标，并同时显示出输出端子Test Passed?，点击表达式对话框按键。图5 为Pass/Fail Test指定测试VId. 在弹出的表达式对话框中选择Step.Result.PassFail选项，点击Insert按键确定。图6 使用函数表达式对话框6. 在Sequences面板中鼠标右键单击，选择Insert Sequence新建一个序列，命名为resistor test seq，如下图所示。图7 新建一个测试序列7. 将主序列中的resistor te
6、st拖到resistor test seq序列中，并在该序列中加入延时单元wait。a. 如下图所示进行拖动。按住鼠标左键将resistor test拖到Sequences面板中的resistor test seq上（保持鼠标按住不放），待左侧序列面板自动切换到resistor test seq序列时，再将resistor test拖回到该序列的main部分，最后释放鼠标按键。图8 将主序列中的测试步骤拖到新序列中b. 在resistor test步骤下方右键单击，选择Insert StepSynchronizationWait，如下图所示。图9 给序列添加延时单元Waitc. 配置Wait。
7、在Wait Settings中选择Time Interval，在Specify the Amount of time to wait (in seconds)中写入数字5，表示等待5秒，如下图所示。图10 配置Wait8. 在resistor test seq新序列中加入For循环。a. 在Main上右键单击，按照下图添加For循环。图11 给序列中加入For循环b. 将resistor test与Wait拖入到For与End之间，如下图。图12 序列界面9. 配置For循环次数。为了做到这一点，需要创建一个局部变量。a. 在序列中选中For，在Step Settings中选择For Loop
8、选项卡，点击Expression Browser dialog按键，如下图所示。图13 配置For Loop设置b. 弹出Expression Browser对话框，在Locals中选择Insert Number创建一个数据变量。图14 使用表达式对话框c. 将刚创建的Local重命名为Loops，点击Insert，最后点击check键确认无误。图15 创建变量d. 在Number of Loops中输入2，配置好后的For Loop设置如下图所示。图16 设置循环次数10. 将resistor test seq序列作为子序列插入到MainSequence中。a. 如下图所示，先在Sequen
9、ce面板中切换到MainSequence，然后在frequency test下方插入一个sequence call，并重命名为resistor test。图17 插入sequence callb. 在Step settings中选中Use Current File，Sequence中选择resistor test seq。图18 配置sequence call11. 执行整个序列文件。选择ExecuteSingle Pass，观察到Frequency Limit Test和resistor test依次执行。12. 观察测试报告，以及代码执行时间。13. 保存该测试序列。并行测试操作步骤：1.
10、 打开上面实验所保存的Ex3 sequential.seq，选择Filesave as 将其另存为Ex3 parallel.seq2. 在主序列的Setup部分，创建两个Lock步骤，用来避免并行测试硬件资源冲突。a. 在MainSequence中的Setup部分右键新建一个Lock，如下图所示。图19 新建Lockb. 配置Lock，在在Lock Settings中Operation选择“Create”，Lock Name Expression填写“Arb”,“Digitizer”，如下图所示。图20 配置Lockc. 重复上面的步骤，新建另一个“DMM” 的Lock，配置好后的序列如下图所
11、示。图21 创建两个Lock后的序列3. 在Main部分加入Lock，保护硬件资源。a. 在frequency test步骤前面右键新建一个Lock，方法同步骤2.a。b. 配置Lock。在Lock Settings中Operation选择“Lock”，Lock Name Expression选择“Arb”,“Digitizer”。c. 在frequency test步骤后面新建一个Lock，重命名为Unlock，在Lock Settings中Operation选择“Early Unlock”，Lock Name Expression选择“Arb”,”Digitizer”.d. 重复上面的步骤
12、a到c，为resistor test添加“DMM”的Lock 和Unlock，配置好后的序列如下图所示。图22 完全配置好的序列4. 配置TestStand中的运行模式（process model）为BatchModel。a. 选择菜单栏Configure Station Options，选择Model选项卡。b. 在Station Model下拉菜单中选择BatchModel.seq如下图所示。图23 配置运行模式5. 进一步配置BatchModel.a. 选择Configure Model Options.b. 在Number of Test Sockets中填写2，如下图所示。图24 配
13、置Batch Model6. 执行该序列文件。选择ExecuteSinglePass，观察到两个测试序列并行执行。7. 观察测试报告，以及代码执行时间。8. 保存该测试序列。自动协调并行测试操作步骤：1. 打开上面实验所保存的Ex3 sequential.vi，选择Filesave as 将其另存为Ex3 Autoscheduled.seq。2. 创建一个Auto Schedule。a. 在MainSequence序列的Main部分，右键单击创建一个Auto Schedule，如下图所示。图25 创建一个Auto Scheduleb. 选中Use Auto Scheduled Resource
14、，配置Auto Scheduled Resource Settings，在Resource Lock Alternatives中填写“Arb”,“Digitizer”如下图所示。图26 配置Auto Scheduled Resourcec. 将frequency test拖入到Use Auto Scheduled Resource和End之间，如下图。图27 拖动frequency testd. 在Auto Schedule中右键创建另一个Use Auto Scheduled Resource，如下图。图28 创建另一个Use Auto Scheduled Resourcee. 配置Auto
15、Scheduled Resource Settings，在Resource Lock Alternatives中填写“DMM”。f. 将resistor test拖入到新建的Use Auto Scheduled Resource之中。g. 配置完成后，序列应如下图所示。图29 配置完成后的序列3. 配置TestStand中的运行模式（process model）为BatchModel.a. 在菜单栏中选择Configure Station Options，选择Model选项卡。b. 在Station Model下拉菜单中选择BatchModel.seq如下图所示。图30 配置运行模式4. 进一步配置BatchModel.a. 选择Configure Model Options.b. 在Number of Test Sockets中填写2，如下图所示。图31 配置Batch Model5. 执行该序列文件。选择ExecuteSingle Pass，观察到两个测试序列并行执行。6. 观察测试报告，以及代码执行时间。7. 保存该测试序列。
