1、集成门电路功能测试实验报告集成门电路功能测试实验报告LT集成门电路功能测试实验报告一、实验预习1. 逻辑值与电压值的关系。 2. 常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法。 3. 硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法。二、实验目的测试集成门电路的功能三、实验器件集成电路板、万用表四、实验原理TTL与非门74LS00的逻辑符号及逻辑电路： 双列直插式集成与非门电路CT74LS00：数字电路的测试： 常对组合数字电路进行静态和动态测试，静态测试是在输入端加固定的电平信号，测试输出壮态，验证输入输出的逻辑关系。动态测试是在输入端加周期性信号，测试输入输出波形，测量电路的频率响应。常对时序电路进行单
2、拍和连续工作测试，验证其状态的转换是正确。本实验验证集成门电路输入输出的逻辑关系，实验在由硬件电路基础实验箱和相关的测试仪器组成的物理平台上进行。硬件电路基础实验箱广泛地应用于以集成电路为主要器件的数字电路实验中，它的主要组成部分有：(1) 直流电源：提供固定直流电源（+5V,-5V）和可调电源(+315V,-315V)。(2) 信号源：单脉冲源（正负两种脉冲）；连续脉冲。辑值，对应输入端的LED指示灯亮时为1，不亮时为0。观测输出端的逻辑值，对应输出端的指示灯LED亮红色时为1，亮绿色时为0。不亮表示输出端不是标准的TTL电平。K1、K 2共有4种开关位置的组合，对应被测电路的四种输入逻辑状
3、态00，01，10，11，可以改变K1、K 2开关的位置，观察电平显示LED的亮灭情况，以真值表的形式记录被测门电路的输入和输出逻辑状态。观测逻辑值时，用万用表测量出对应的电压值，验正TTL电路逻辑值与电压值的关系。比较实测值与理论值，比较结果一致，说明被测门的功能是正确的，门电路完好。如果实测值与理论值不一致，应检查集成电路的工作电压是否正常，实验连线是否正确，判断门电路是否损坏。五、实验内容1. 基本门电路逻辑电路测试：测试 74LS08(与门)、74LS32(或门)、74LS04(非门)、74LS00(与非门) 、74LS86(异或门)的功能。将被测芯片插入实验区的空插座,连接好测试线路
4、,拨动开关,改变输入信号,观测输入输出端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验正 TTL 电路的逻辑功能, 记录实验数据。 输入输出Y74LS0874LS3274LS0474LS0074LS86ABYU/VYU/VYU/VYU/VYU/V0000.21-13.5513.5500.770100.20-00.1013.5413.531000.21-13.5413.221113.42-00.1513.092. 逻辑门的转换 利用 74S00与非门组成非门，2 输入与门,2 输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。 非门：电路图：测试结果：AY0110与门：电路图：测试结
5、果：ABY000010100111或门：电路图：测试结果：ABY0000111011113. 门电路的基本应用测试用“ 异或门”和“与非门”组成的半加器逻辑功能。根据半加器的逻辑表达式可知，半加器的输出的和数 S 是输入 A、B（二进制数）的“异或”，而进位数 C 是 A、B的相“与”，故半加器可用一个集成“异或门”和两个“与非门”组成，如图1.3.3所示。 （1）在实验箱上用“异 (74LS86)和“与非”门连 1.3.3所示逻辑电路。输入端A、 B接“逻辑电平”开关，输出端S、C接“电平显示”发光二极管。通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，列表记录。 （2）通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，列表记录。ABSC0000011010101101六、实验心得此次实验原理不是很复杂，但是线路比较难连，实验所用到的关键器件也不太好找。理论知识挺容易的，但实际实行起来的确蛮纠结的，做了好多次总是有问题，后来发现电线有一根是坏掉的，做电路实验，还是需要多些经验呐。
