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    怎样用万用表检测电容器.docx

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    怎样用万用表检测电容器.docx

    1、怎样用万用表检测电容器怎样用万用表检测电容器 (带图片)电容器是一种最为常用的电子元件。电容器的外形及电路符号缤 ?-10所示。电容器的通用文字符号为 “C电容器主要由金属电极、介质层 和电极引线组成,两电极是相互绝缘的。因此,它具有 隔直流通交流的基本性能。用数字万用表检测电容器,可按以下方法进行。河电歸特号一、用电容档直接检测某些数字万用表具有测量电容的功能,其量程分为 2000p、20n、 200n、2 和20 口五档。测量时可将已放电的电容两引脚直接插入表板 上的Cx插孔,选取适当的量程后就可读取显示数据。2000p档,宜于测量小于2000pF的电容;20n档,宜于测量2000pF至2

    2、0nF之间的电容;200n档,宜于测量20nF至200nF之间的电容;2 口档,宜于测量200nF至2之间的电容;20 口档,宜于测量2至20之间的电容。经验证明,有些型号的数字万用表(例如DT890B +)在测量50pF 以下的小容量电容器时误差较大,测量 20pF以下电容几乎没有参考价值。此时可采用串联法测量小值电容。方法是:先找一只 220pF左右的电容,用数字万用表测出其实际容量 C1,然后把待测小电容与之并联测出其总容量C2,则两者之差(C1 C2 )即是待测小电容的容量。用 此法测量120pF的小容量电容很准确。二、用电阻档检测实践证明,利用数字万用表也可观察电容器的充电过程, 这

    3、实际上是以离散的数字量反映充电电压的变化情况。 设数字万用表的测量速率为n次/秒,则在观察电容器的充电过程中,每秒钟即可看到 n个彼此独立且依次增大的读数。根据数字万用表的这一显示特点, 可以检测电 容器的好坏和估测电容量的大小。 下面介绍的是使用数字万用表电阻档 检测电容器的方法,对于未设置电容档的仪表很有实用价值。 此方法适用于测量0.1 口几千微法的大容量电容器。1 .测量操作方法如图5-11 (a)所示,将数字万用表拨至合适的电阻档,红表笔和 黑表笔分别接触被测电容器 Cx的两极,这时显示值将从“000开始逐渐 增加,直至显示溢出符号 “ 1。”若始终显示“000”说明电容器内部短路;

    4、 若始终显示溢出,则可能时电容器内部极间开路, 也可能时所选择的电 阻档不合适。检查电解电容器时需要注意,红表笔(带正电)接电容器 正极,黑表笔接电容器负极。2.测量原理用电阻档测量电容器的测量原理如图 5-11 (b)所示。测量时,正 电源经过标准电阻R0向被测电容器Cx充电,刚开始充电的瞬间,因 为Vc = 0,所以显示“000”随着Vc逐渐升高,显示值随之增大。当 Vc = 2VR时,仪表开始显示溢出符号 “ 1。”充电时间t为显示值从“000” 变化到溢出所需要的时间,该段时间间隔可用石英表测出。_ ULilVJJO(b)测債琛理m 5-11用數字万用电君劈的电路连接丐演就原理3.使用

    5、DT830型数字万用表估测电容量的实测数据使用DT830型数字万用表估测0.1 uF几千微法电容器的电容量 时,可按照表5-1选择电阻档,表中给出了可测电容的范围及相对应的 充电时间。表中所列数据对于其他型号的数字万用表也有参考价值。选择电阻档量程的原则是:当电容量较小时宜选用高阻档,而电容 量较大时应选用低阻档。若用高阻档估测大容量电容器,由于充电过程 很缓慢,测量时间将持续很久;若用低阻档检查小容量电容器,由于充 电时间极短,仪表会一直显示溢出,看不到变化过程。三、用电压档检测用数字万用表直流电压档检测电容器,实际上是一种间接测量法, 此法可测量220pF1F的小容量电容器,并且能精确测出

    6、电容器漏电 流的大小。1 .测量方法及原理测量电路如图5-12所示,E为外接的1.5V干电池。将数字万用表 拨到直流2V档,红表笔接被测电容 Cx的一个电极,黑表笔接电池负 极。2V档的输入电阻RIN = 10MQ。接通电源后,电池E经过RIN向 Cx充电,开始建立电压 Vc。Vc与充电时间t的关系式为= E 1 fxp(- z/TfCx)lu-2V5-12用电圧捋测试电容器的Jt线图在这里,由于RIN两端的电压就是仪表输入电压 VIN,所以RIN实际上还具有取样电阻的作用。很显然,VIN (t)= E Vc (t)= Eexp (- t/RINCx ) (5-2 )图5-13是输入电压VIN

    7、(t)与被测电容上的充电电压 Vc (t)的变化 曲线。由图可见,VIN (t)与Vc (t)的变化过程正好相反。 VIN (t) 的变化曲线随时间的增加而降低,而 Vc(t)则随时间的增加而升高。 仪表所显示的虽然是 VIN- (t)的变化过程,但却间接地反映了被测电 容器Cx的充电过程。测试时,如果 Cx开路(无容量),显示值就总 是“000”如果Cx内部短路,显示值就总是电池电压 E,均不随时间改 变。图5-13昨尉)与的变化曲线式(5-2)表明,刚接通电路时,t= 0, VIN=E,数字万用表最初显 示值即为电池电压,尔后随着 Vc (t)的升高,VIN (t)逐渐降低,直 到VIN

    8、= 0V , Cx充电过程结束,此时。%使用数字万用表电压档检测电容器, 不但能检查220pF1 uF的小容量电容器,还能同时测出电容器漏电流的大小。 设被测量电容器的漏电流为ID,仪表最后显示的稳定值为 VD (单位是V),则2kg (5-3)2 .实例举例例一:被测电容为一只1口 F/160V的固定电容器,使用 DT830型数字万 用表的2VDC档(RIN = 10应)。按图5-12连接好电路。最初,仪表 显示1.543V,然后显示值慢慢减小,大约经过 2min左右,显示值稳定 在0.003V。据此求出被测电容器的漏电流被测电容器的漏电流仅为 0.3nA,说明质量良好。例二:被测电容器为一

    9、只0.022 口 F/63V涤纶电容,测量方法同例一。由于该电容的容量较小,测量时,VIN (t)下降很快,大约经过3秒,显示值就降低到0.002V。将此值代入式(5-3 ),算出漏电流为0.2nA。3.注意事项(1)测量之前应把电容器两引脚短路,进行放电,否则可能观察 不到读数的变化过程。(2)在测量过程中两手不得碰触电容电极,以免仪表跳数。(3)测量过程中,VIN (t)的值是呈指数规律变化的,开始时下降很快,随着时间的延长,下降速度会越来越缓慢。当被测电容器 Cx 的容量小于几千皮法时,由于 VIN (t) 一开始下降太快,而仪表的测量 速率较低,来不及反映最初的电压值, 因而仪表最初的

    10、显示值要低于电池电压E。(4)当被测电容器Cx大于1时,为了缩短测量时间,可采用 电阻档进行测量。但当被测电容器的容量小于 200pF时,由于读数的 变化很短暂,所以很难观察得到充电过程。一、用蜂鸣器档检测利用数字万用表的蜂鸣器档,可以快速检查电解电容器的质量好坏。测量方法如图5-14所示。将数字万用表拨至蜂鸣器档,用两支表 笔分别与被测电容器 Cx的两个引脚接触,应能听到一阵短促的蜂鸣声, 随即声音停止,同时显示溢出符号“ 1。”接着,再将两支表笔对调测量一 次,蜂鸣器应再发声,最终显示溢出符号“ 1,”此种情况说明被测电解电 容基本正常。此时,可再拨至 20MQ或200MD高阻档测量一下电

    11、容器 的漏电阻,即可判断其好坏。图24川蜂鸣asm椅测世解电稈器的连线图上述测量过程的原理是:测试刚开始时,仪表对 Cx的充电电流较大,相当于通路,所以蜂鸣器发声。随着电容器两端电压不断升高,充 电电流迅速减小,最后使蜂鸣器停止发声。测试时,如果蜂鸣器一直发声,说明电解电容器内部已经短路;若 反复对调表笔测量,蜂鸣器始终不响,仪表总是显示为“ 1,”则说明被测 电容器内部断路或容量消失。二、用数字万用表测量大于 20 口 F的电容常见的数字万用表,其电容档的测量值最大为 20,有时不能满足测量要求。为此,可采用下述简单的方法,用数字万用表的电容档测 量大于20 口 F的电容,最大可测量几千微法

    12、的电容。采用此法测量大容 量电容时,无需对数字万用表原电路做任何改动。此方法的测量原理是以两只电容串联公式 C串=C1C2/(C1+C2)为基础的。由于容量大小不同的两只电容串联后,其串联后的总容量要小 于容量小的那只电容的容量, 因此,如果待测电容的容量超过了 20,则只要用一只容量小于20 口 F的电容与之串联,就可以直接在数字万用 表上测量了。根据两只电容串联公式,很容易推导出C1 = C2C串/(C2-C 串),利用此公式即可算出被测电容的容量值。下面举一测试实例,说 明运用此公式的具体方法。被测元件是一只电解电容器,其标称容量为 220F,设其为C1 o选取一只标称值为10 口 F的

    13、电解电容作为C2,选用数字万用表20 uF电 容档测出此电容的实际值为 9.5 uF将这两只电容串联后,测出C串为 9.09 uF 将 C2 = 9.5 uF C 串=9.09 uF代入公式,则C1 = C2C 串/(C2-C 串)=9.5 9.09/(9.5- 9.09)211( u F)注意,无论C2的容量选取为多少,都要在小于 20 u F的前提下选 取容量较大的电容,且公式中的 C2应代入其实测值,而非标称值,这 样可减小误差。将两电容串联起来用数字万用表实测, 由于电容本身的容量误差及测量误差,只要实测值与计算值相差不多即可认为待测电容 C1是好的,根据测量值即可进一步推算出 C1的实际容量。从理论上讲,用这种方法可测量任意容量的电容, 但如果待测电容 器的容量过大,则误差也会增大。其误差大小与待测电容的大小成正比。


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